Les solutions d'inspection dimensionnelle proposées par Nikon Metrology incluent la métrologie des grands volumes, les scanners laser, les MMT les rayons X et Tomographes, la mesure par vidéo et les microscopes.

Tomographie Numérique, metrologie par TN, systèmes rayons X et par TN configurables, systèmes rayons X pour l'inspection électronique, logiciel, sources, services d'inspection rayons X et par TN

Automatisation des MMT, TN pour la production, automatisation du Laser Radar : l'inspection hors ligne permet à la fabrication automatisée d'augmenter la qualité  et l'efficacité de la production.

Les technologies de grande précision par rayons X et par microscopie facilitent l'analyse des défauts des composants électroniques, des wafers et des circuits imprimés tout au long d'un processus non destructif.

Microscopes droits, inversés, stéréomicroscopes , microscopes portables numériques, microscopes électroniques à balayage (MEB) et systèmes de microscopes interférométriques à lumière blanche

Une équipe de techniciens et d’ingénieurs d’application qualifiés est disponible pour répondre à vos questions, réaliser les installations, et la maintenance des systèmes.