Systèmes grandes dimensions sur-mesure, une gamme complète pour de la TN à rayons-X de haute précision

Les systèmes grande dimensions sur-mesure de Nikon Metrology sont équipés de sources à rayons X, leader dans le monde industriel, d’un manipulateur ultra précis, d’un logiciel intuitif et de modes de scanning avancés. L’ensemble de ces caractéristiques permettent, de fait, d’offrir la plus grande polyvalence qui soit pour des systèmes industriels. Dotés d’un grand volume d’inspection, les manipulateurs peuvent accueillir plusieurs sources et détecteurs dont la configuration peut être personnalisée et ainsi s’adapter aux applications aéronautique, automobile,  liées à la fabrication, l’électronique, la plasturgie, les produits de grande consommation, la fonderie et bien d’autres encore. Le scanning précis par TN à rayons-X permet : l’ingénierie inverse ou rétroconception, la comparaison avec la CAO, l’analyse des écarts dimensionnels et en épaisseur, l’analyse détaillée des ruptures, l’expertise, la recherche sur les matériaux de pointe et dans le domaine médicale, l’archivage numérique et bien d’autres encore.

 

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Présentation du produit

La gamme des systèmes grandes dimensions sur-mesure propose de très nombreuses configurations afin de répondre aux applications industrielles les plus exigeantes, de l'inspection des petits échantillons peu denses à celle des matériaux de grande taille, très denses.

 

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Source microfocus 450kV, exceptionnelle et cibles rotatives
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Polyvalence inégalée
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CLDA unique pour une TN et des rayons X sans dispersion

 

 

Avantages et caractéristiques

 


nikon metrology x ray les high energyx raysourcetechnologyTechnologie à source de rayons X haute énergie

La technologie de source de rayons X est une technologie de pointe, conçue en interne et leader mondiale. Capables d’émettre de 180kV à 450kV cette technologie a participe directement à la qualité supérieure des images produites par les Nikon Metrology. La source microfocus de rayons X haute énergie de 450kV est unique au monde. La technologie de cible rotative haute luminosité fournit des images d’une qualité supérieure à celles de tous les autres systèmes microfocus du marché et infiniment meilleures à celles pouvant être produites par les sources mini focus. On peut ainsi acquérir plus rapidement des données par TN en faisant plus de radioscopies en un temps donné, sans nuire à la qualité des images, avec des données plus précises et une résolution optimale. Il est possible de combiner une source microfocus de 450kV et une source mini focus de 450kV dans une seule et même configuration de système.

 

 



nikon metrology x ray les unrivalledsystemversatilitySystèmes d’une polyvalence inégalée

Les configurations E1, M2, C1, C2 et C3 sont des solutions allant d’une source unique et jusqu’à trois sources. Les utilisateurs peuvent donc trouver le système qui correspond à leur application Celui-ci peut être installés dans une enceinte ou bunker existant ou fourni avec une nouvelle enceinte, modulaire, ergonomique et intégrant des fonctionnalités intuitives pour l’utilisateur.

Les options Panel-Scan et X.Tend de recevoir toutes les tailles d’échantillons, augmentant de fait la polyvalence des systèmes. Ceux-ci peuvent également être configurés pour recevoir des échantillons plus lourds ou sur, des hauteurs plus importantes.

La base en granite, conçue pour la métrologie, permet de réaliser des scans d’une grande stabilité et par conséquent, ultra précis. Chaque configuration dispose d’un manipulateur différent permettant par exemple pour les versions E- et M- le manipulateur peut déplacer verticalement l’échantillon ; les appareils C- peuvent, quant à eux, déplacer verticalement et de manière intuitive la source de rayons X et le détecteur, afin de s’adapter à chaque application.

 

 

 



nikon metrology x ray sources graph3Détecteurs et modes de scanning de pointe

Il est possible de configurer les systèmes à grand volume afin qu’ils puissent recevoir un large choix de détecteurs 16 bits de grande taille et de qualité supérieure allant jusqu’à 4000x4000 pixels pour des images de qualité optimale Les manipulateurs permettent de modifier la une distance source/détecteur donnant ainsi la possibilité d’optimiser le contraste et la résolution de l’image pour chaque échantillon.

Les modes de scanning de cette gamme de systèmes Nikon sont encore plus complets car ils permettent d’obtenir des images de grande qualité même sur des échantillons plus grands, plus hauts, plus larges ou plus denses. Le mode Panel-Scan rapide permet d’augmenter le champ de vision, pour les échantillons larges, tandis que X.Tend permet aux utilisateurs d’augmenter la hauteur du scan en combinant en douceur plusieurs champs de vision en un seul scan afin d’améliorer la résolution des échantillons hauts. Les options à double détecteur permettent de (faux car les deux ne travaillent pas ensemble) compléter les détecteurs plats avec la technologie des détecteurs CLDA, ,pour une TN sans rayonnement diffusé, même sur les échantillons denses.

 

 

 



nikon metrology x ray xth225 versatilex rayctsolutions 2Un logiciel pour assister chaque application

Le menu de l’interface graphique est intuitif et guide l’utilisateur dans son travail. Les opérateurs experts pourront la personnaliser à loisir et les novices pourront scanner des lots et accéder à des profils pré chargés. Les systèmes pour grands volumes sont équipés de modes de scanning de pointe, mais aussi du moteur de reconstruction haut de gamme de Nikon, afin de bénéficier des meilleurs temps de reconstruction au monde et de générer des données de grande qualité.

Le contrôle s’effectue grâce à une communication CIP. Cela permet d’automatiser le travail et l’analyse, les données étant envoyées à un logiciel de visualisation et d’analyse de premier plan. Des solutions logicielles et des outils d’analyse personnalisés sont disponibles pour une analyse spécifique à un échantillon.


 

Caractéristiques techniques

nikon metrology m1
M1
Système flexible pour de nombreuses applications
  nikon metrology c1
C1
Métrologie grande précision par TN et par rayons X
  nikon metrology c2
C2
Source kV puissante pour grandes pièces et pièces denses
Masse pièceartartartart   Masse pièce artartartart   Masse pièce artartartart
Multi sourcesartartartart   Multi sourcesartartartart   Multi sourcesartartartart
Multi détecteur art   Multi détecteur -   Multi détecteur nikon metrology ok
TN sans dispersion art   TN sans dispersion -   TN sans dispersion nikon metrology ok 
Panel shift art   Panel shift art   Panel shift art 
Encombrementartartartart   Encombrementartartartart   Encombrementartartartart