XT H 450
Systèmes haut de gamme par rayons X microfocus 450kV et par TN pour l’inspection des composants denses

Les systèmes XT H 450 de Nikon Metrology équipés de l’incomparable source de rayons X microfocus 450kV ont la puissance nécessaire pour pénétrer les pièces denses avec une précision de l’ordre du micron. Utilisé en association avec un détecteur linéaire courbe (faisceau linéaire courbe de diodes ou CLDA), le XT H 450 peut produire des radioscopies sans dispersion et des images 3D de structures denses et complexes.

Le XT H 450 est idéal pour l’inspection non destructive des pales de turbine en acier allié de petite et moyenne taille, des pièces obtenues par impression 3D, des pièces de fonderies ou de tout autre objet dense, afin que l’utilisateur puisse visualiser, analyser et mesurer des géométries ou surfaces complexes et l’intérieur des composants sans avoir à découper physiquement la pièce et ce, de manière non-destructive.

 

 

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Présentation du produit

Le système XT H 450 est équipé d’une source microfocus de rayons X 450kV unique au monde, avec une répétabilité et une précision de 25 microns. Ce système produit des images stupéfiantes en 2D et en 3D avec un rapport signal/bruit sans égal et est suffisamment flexible pour intégrer plusieurs détecteurs. Le XT H 450 est très précis, travaille à une cadence élevée et convient à de nombreuses applications.

 

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Source microfocus de rayons X 450 kV unique au monde
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CLDA exceptionnelle pour des rayons X et une TN sans dispersion
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Inspection entièrement automatisée

 


Avantages et caractéristiques

 


 nikon metrology x ray xth450 highbrilliance450kvrotatingtargetsSource de rayons X 450kV microfocus

La source de rayons X microfocus 450 kV/450 W est la seule au monde à offrir une telle énergie avec une si grande résolution, et une répétabilité et une précision de 25 microns. La taille du point est bien plus réduite qu’avec les sources mini focus, ce qui rend incomparable le niveau de détails capturés. Les résolutions et précisions qu’il est alors possible d’obtenir offrent aux utilisateurs la possibilité d’inspecter des pièces complexes dans de nombreux domaines d’application.

Le XT H 450 est à tube ouvert, ce qui signifie que quelques minutes suffisent pour remplacer le filament, à moindre coût. A l’opposé, les tubes scellés coûtent cher à remplacer en cas de panne avec parfois, des délais d’approvisionnement de plusieurs semaines. La durée de vie est donc allongée, la qualité de l’image est constante et le coût d’utilisation, réduit. La source de rayons X 450kV est également disponible avec la technologie unique de cible rotative (voir ci-dessous).



nikon metrology x ray sources graphCibles rotatives 450kV à grande luminosité

Les sources de rayons X 450 kV à grande luminosité de Nikon Metrology utilisent la technologie de la cible rotative, unique sur les systèmes microfocus industriels. La cible rotative dissipe de la chaleur pendant la génération des rayons X permettant de réduire significativement le point d’émission (tâche focale) pour des énergies et des puissances supérieures, ce qui, au bout du compte, donne des images avec un meilleur contraste et une meilleure résolution.

La cible rotative à refroidissement liquide permet de multiplier la puissance par quatre sans nuire à la taille de la tâche focale. Cela permet d’acquérir plus vite les données par TN et en un temps donné sans compromettre la qualité, la précision ou la résolution des images. Cette source permet d’augmenter le grossissement au-delà de ce qui est aujourd’hui permis par les sources standard ou minifocus.

 

 



nikon metrology x ray software inspect x3d standardUne technologie de détecteur exceptionnelle

Le système XT H 450 est disponible avec un détecteur plat haut de gamme et/ou avec le CLDA. De conception unique, ce dernier permet la mesure des rayons-X selon une trajectoire constante, avec des cristaux plus longs conçus spécialement pour augmenter la leur sensibilités jusqu’à 450kV et donc d’augmenter nettement le rapport signal/bruit. Ce détecteur est conçu pour optimiser la collecte des rayons X provenant directement de la source, filtrant par défaut le rayonnement diffué créé par les échantillons denses. On obtient ainsi des images d’une netteté et d’un contraste stupéfiants pour une inspection de haute qualité.

L’association des détécteurs permet d’augmenter les cadences de travail tout comme d’améliorer la qualité des images fonction de la complexité des pièces à inspecter.

L’analyse non-destructives des géométries internes comme externes s’en trouve facilitée et accélérée, optimisant de fait le contrôle Qualité.

Les résolutions qu’il est possible d’obtenir avec ces technologies trouvent de nombreuses applications dans les domaines de la fabrication additive, de la fonderie et des assemblages complexes.

 

 


 

Spécifications

nikon metrology xth320 
XT H 320
Source puissante en kV pour les pièces de densité moyenne
  nikon metrology xth450
XT H 450
Source puissante en kV pour les pièces très denses
Taille de pièce artartartart   Taille de pièce artartartart
Densité de pièce artartartart   Densité de pièce artartartart
Masse de la pièce artartartart   Masse de la pièce artartartart
Double détecteur -   Double détecteurnikon metrology ok
TN sans dispersion -   TN sans dispersion nikon metrology ok
Encombrement artartartart   Encombrement artartartart

 

 

Brochures

Etudes de cas