XT H 225 et MCT225
Cible tournante unique et solutions flexibles

Les appareils de la gamme 225kV, de Nikon Metrology, sont les meilleurs du monde industriel et propose ce qui se fait de mieux en matière de flexibilité et de polyvalence pour l’inspection et la métrologie par rayons X. Les XT H 225, XT H 225 ST 2x, MCT et XT H 320 proposent des solutions personnalisables pour les applications rayons X en Radioscopie 2D et Tomographie Numérique (TN) 3D. Ces systèmes sont fournis avec une base client complète, une couverture d’assistance mondiale et peuvent être configurés pour s’adapter à de très nombreuses applications dans les secteurs de l’automobile, de l’aéronautique, du médical, de l’énergie, des soins dentaires, de l’impression 3D, de l’électronique, des produits de grande consommation et bien d’autres encore.

Sur les appareils de la très complète gamme XT H 225 la commande s’effectue grâce au logiciel Inspect-X de 6ème génération, leader dans le monde industriel. Cette gamme est équipée d’une interface graphique intuitive haut de gamme, conçue pour tous les utilisateurs, du débutant à l’expert. Sur les XT H les temps de reconstruction sont parmi les plus rapides au monde et le logiciel de visualisation et d’analyse est (répétition) des plus fonctionnels et facile à prendre en main.
Voilà pourquoi ces appareils représentent de qui se fait de mieux pour l’inspection par rayons X et par TN.

 

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Présentation du produit

Sur les appareils de la très complète gamme XT H 225 la commande s’effectue grâce au logiciel Inspect-X de la 6ème génération, leader dans le monde industriel. Cette gamme est équipée d’une interface graphique intuitive haut de gamme, conçue pour tous les utilisateurs. Sur les XT H les temps de reconstruction sont les meilleurs au monde et le logiciel de visualisation et d’analyse est haut de gamme, voilà pourquoi ces appareils représentent de qui se fait de mieux pour l’inspection par rayons X et par TN. 

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Cible rotative unique
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Solutions complètes pour la TN par rayons X
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TN pour la métrologie


Avantages et caractéristiques


nikon metrology x ray xth225 x raysourceforeveryapplication

Une source de rayons X pour chaque application

Ce qui permet à Nikon Metrology d’obtenir des images d’une qualité supérieure, c’est sa technologie de source de rayons X, brevetée Nikon et leader mondiale. Là où les modèles concurrents ont besoin d’un double tube pour être flexibles, la source de rayons X, intégrée et unique, de Nikon, permet de monter jusqu’à 5 têtes cibles sur une même base de tube (répétition). Voilà comment, avec un seul tube, on obtient une flexibilité et des performances exceptionnelles.

Les cibles des rayons X sont facilement interchangeables et s’adaptent donc à de nombreux échantillons. On trouve des cibles à transmission proposant une résolution et détectabilité inférieure au micron, des cibles par réflexion (avec l’option exceptionnelle de la cible multi-métaux), et les cibles rotatives, uniques au monde, pour offrir des performances remarquables.

Au bout du compte, la cible microfocus 320kV offre une extraordinaire capacité de pénétration pour les échantillons denses. Le tube unique et adaptable permet d’obtenir des images d’une qualité remarquable, quelles que soient la puissance et la résolution, à la différence d’autres systèmes, sans maintenance supplémentaire et sans recourir à un double tube, plus coûteux.



nikon metrology x ray xth225 versatilex rayctsolutionsSolutions complètes de TN par rayons X

Les XT H 225 et 320 permettent de personnaliser la taille du système, la taille des échantillons, la puissance et la résolution de la source, grâce à une offre de détecteurs plats de grande qualité. Les progrès réalisés par les matériels et logiciels intuitifs permettent de recourir à des options comme la distance source-détecteur réglable afin d’optimiser la qualité des images et les modes de scanning, comme le X.Tend hélicoïdal, qui fournit des images de très haute résolution pour les échantillons hauts en multipliant les champs de vision.

Le système MCT 225 pour la métrologie est configuré pour des applications de mesure très précises et repose sur des modifications du matériel et des procédures d’alignement précises, avec une vérification de l’Exposition Maximale Possible (erreur de traduction je pense : MPE pour Maximum Permissive Error, soit plutôt « erreur maximale tolérée (MPE) »), en conformité avec les VDI/VDE 2630. Le logiciel Inspect-X est un logiciel de pointe, particulièrement intuitif (ce n’est pas le logiciel qui travaille), utilise un affichage graphique et autorise l’automatisation. Il équipe tous les systèmes de la gamme de produits.



nikon metrology x ray sources graph

Exceptionnelle cible rotative

Nikon Metrology est le seul fabricant au monde à proposer des systèmes par TN aux rayons X avec une technologie de cible rotative. On trouve sur le marche d’autres produits utilisant des matériaux absorbant la chaleur et nécessitant des périodes de refroidissement. Ils peuvent être limités en puissance alors que la cible rotative de 225 kV peut être utilisée dans toute sa gamme de puissance ainsi qu’à sa pleine puissance de 450W et atteindre une productivité d’inspection de haut niveau.

La technologie à cible rotative, avec refroidissement liquide, permet d’agir sur la puissance, la résolution et la réduction du temps de scan. Quand le faisceau laser heurte la surface et génère des photons de rayons X, la chaleur ainsi générée est bien mieux dispersée, ce qui multiplie le flux par cinq et permet d’obtenir une résolution trois fois meilleure avec la même puissance, ou d’acquérir des données 3 à 5 fois plus vite pour la même résolution.



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Les appareils de la gamme XT H proposent des modes d’automatisation afin d’optimiser la productivité de la TN. Ceux-ci personnalisables et permettent de répéter des tâches (avec paramètres variables), de reconstruction et d’analyse des données. Le logiciel intégré CT Pro permet d’atteindre les meilleurs temps de reconstruction au monde, grâce à un ordinateur haute performance configuré par des experts de Nikon Metrology. Sont compris, de série : l’amélioration, le traitement des images et la correction voire la suppression d'artefact.

Grâce à un contrôle parfaitement maitrisé par CIP (Communication Inter Processus), les appareils de la gamme XT H peuvent être configurés avec des chargeurs auto et reconfigurés avec des robots pour permettre une automatisation complète et une intégration en douceur dans la ligne de production. En plus d’une qualité d’image supérieure et de temps de reconstruction inégalés, des outils d’analyse personnalisables sont disponibles et compatibles avec les logiciels maison ou les logiciels tiers les mieux cotés dans l’industrie afin de permettre une analyse automatique spécifique à chaque échantillon.

 

 


 

Caractéristiques techniques

 

nikon metrology x ray xth225 xt h 225 
XT H 225
Pour l’inspection des petites pièces et des pièces de taille moyenne
nikon metrology x ray xth225 xt h 225 st
XT H 225 ST 2x
Système flexible pour de nombreuses applications
nikon metrology x ray xth225 mct 225
MCT225
Métrologie très précise par TN aux rayons X
nikon metrology x ray xth225 xt h 320
XT H 320
Source puissante en kV pour grandes pièces et pièces denses
Taille de pièceartartartart Taille de pièceartartartart Taille de pièceartartartart Taille de pièceartartartart
Densité de pièceartartartart Densité de pièceartartartart Densité de pièceartartartart Densité de pièceartartartart
Précisionartartartart Précisionartartartart Précisionartartartart Précisionartartartart
Puissanceartartartart Puissanceartartartart Puissanceartartartart Puissanceartartartart
Polyvalenceartartartart Polyvalenceartartartart Polyvalenceartartartart Polyvalenceartartartart
Encombrementartartartart Encombrementartartartart Encombrementartartartart Encombrementartartartart

 

Brochures

Etudes de cas