XT V 130 et XT V 160
Pour la production, le contrôle qualité, la détection et l’analyse des défauts, la recherche sur les matériaux et bien d’autres choses encore

Les XT V sont des systèmes d’inspection par rayons X (en option uniquement) ergonomiques, d’un haut niveau, et qui répondent aux besoins actuels en terme d’analyse (répétition) haute performance pour des composants de plus en plus nombreux avec des tolérances de plus en plus serrées.

Ces systèmes s’utilisent de façon intuitive et fonctionnent avec le logiciel Inspect-X, leader dans l’industrie, leur permettant d’optimiser la productivité quel que soit l’opérateur, avec une formation minimale. Les modes d’inspection automatisés permettent d’inspecter les échantillons avec une cadence élevée tout en étant capable de statuer sur leur qualité, en fournissant un statut pièce, bonne ou mauvaise.

Grâce à une reconnaissance des entités inférieures au micron, les systèmes d’inspection XT V sont adaptés à de très nombreuses applications, comprenant les circuits imprimés, l’inspection des BGA, les puces, la fabrication des composants pour l’automobile et l’industrie médicale, l’aéronautique, les biens de grandes consommation et bien d’autres encore.

 

 

 

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Présentation du produit

Les appareils XT V sont équipés de la source de rayons X Xi Nanotech brevetée par Nikon X-ray et de capteurs plan, leaders dans l’industrie afin de produire des images de qualité supérieure et de passer (faut car il faut passer par le montage des accessoires pour l’option TN ou par une calibration pour l’option de laminographie) de la radioscopie (radiographie = utilisation de films) à la tomographie 3D et à la laminographie 3D.

 

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Source de rayons X Nanotech Xi
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Véritable imagerie concentrique
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Qualité optimisée des images


Avantages et caractéristiques

 


nikon metrology x ray sources 160kvDes systèmes d’inspection supérieurs

La source de rayons X Xi Nanotech de forte puissance brevetée par Nikon. Elle est à tube ouvert, son cycle de vie est infini et comme il n’y a pas de tubes scellés, plus besoin d’effectuer de coûteux remplacements. Grâce à son générateur intégré, il n’y a pas à prévoir de maintenance de câbles haute tension, et son coût d’utilisation reste parmi les plus faibles. Grâce à des ensembles de filaments aisément remplaçables et à son logiciel intuitif, est possible de réaliser automatiquement l’alignement des filaments d’un seul clic. L’entretien reste est ainsi devenu facile et la qualité des images est conservée, année après année.

Les XT V développent une énergie allant jusqu’à de 160 kV pour une puissance maximale de 20W, le grossissement géométrique atteint 2000 fois et la reconnaissance des défauts est inférieure au micron. Les systèmes d’inspection XT V peuvent recevoir des échantillons de 711x762mm pour une masse maximale de 5kg, grâce à des capteurs autorisant de grandes zones de détection (25x20cm) et à une vitesse de capture de 56 images par seconde.

 

 

 



nikon metrology x ray xtv maximum productivityinminimuminspectiontimeProductivité maximale en un minimum de temps d’inspection

L’imagerie véritablement concentrique est une fonctionnalité incroyable, et elle est installée de série sur les XT V, ce qui permet de conserver les zones d’intérêt dans le champ de vision, grâce à l’association de la rotation, du pivotement, du grossissement et à l’intelligence du logiciel.

L’angle oblique peut facilement atteindre 80° pour pénétrer les échantillons, qui peuvent tourner sur 360°. Pour l’utilisateur, il devient très facile de réaliser l’inspection des assemblages complexes et multicouches. Le plateau 5 axes, intelligent, programmable, repose sur une plaque robuste en fibre de carbone et permet de manipuler les échantillons sans risque de collision, même sous fort grossissement. Les déplacements de la source de rayons X, intuitive, et du détecteur sont commandés par un joystick afin d’obtenir, en temps réel et en douceur, des images par rayons X.

 

 

 



nikon metrology x ray software cclear 1Logiciel intuitif de pointe

Le logiciel Inspect-X est à la pointe dans l’industrie. Les appareils de la gamme XT V en sont équipés de série. Le logiciel d’imagerie C.Clear de Nikon permet de changer intelligemment les paramètres des rayons X et les positions des échantillons, de régler automatiquement le contrôle de l’image, le contraste et la luminosité afin de produire des images les plus claires et les plus nettes possibles. Des barres d’outils permettent d’accéder très rapidement à une analyse des défauts nouvelle génération, à des outils dédiés pour mesurer les échantillons et à des modules d’analyse des assemblages de circuits imprimés.

Inspect-X permet de réaliser une inspection en mode automatique afin d’optimiser la productivité; il propose une création automatisée de rapports dans un format pouvant être ouvert par n’importe quel PC et est équipé : d’une interface graphique permettant de configurer l’inspection, d’une fonction d’optimisation du résultat pièce bonne/mauvaise et de contrôles visuels, en option,(répétition). Les inspections 3D sont réalisées par laminographie X.Tract ou par TN pour permettre un découpage numérique (quelle que soit l’orientation) et afin d’accéder pleinement à la compréhension de la géométrie 3D des composants.


 

 

 


 

Caractéristiques techniques

nikon metrology xtv130c
XT V 130C
Inspection par X-ray des composants électroniques
  nikon metrology xtv160
XT V 160
Inspection par rayons X, de haut niveau et de grande précision
Puissance artartartart   Puissance artartartart
Résolution artartartart   Résolution artartartart
Champ de vision artartartart   Champ de vision artartartart
TN prête à fonctionner nikon metrology ok   TN prête à fonctionner nikon metrology ok
X.Tract prêt à fonctionner -   X.Tract prêt à fonctionner nikon metrology ok

 

 

Brochures