Technologie Nikon de sources de rayons X

Une source de rayons X, (superflu, mais ce n’est que mon avis) est au cœur de l’excellente qualité des images produites par les systèmes de TN Nikon Metrology. Depuis 1987 ces systèmes sont conçus et fabriqués en interne soit une expertise de plus de 30 années. Nikon garde le contrôle sur cette technologie de source de rayons X, qui est une des clé de la qualité d’un tomographe. Cela lui permet de rester en phase avec le marché et de développer des solutions complètes et innovantes pour s’adapter à chaque application. Toutes les sources de rayons X sont à tube ouvert, ce qui allonge la durée de vie et diminue le coût d’utilisation de tous les systèmes de la gamme, du 130kV au 450kV.

 


Avantages et caractéristiques


nikon metrology x ray sources 160kvSource Nanotech 160kV

La source microfocus Nikon Xi 160 kV est brevetée et propose une reconnaissance des entités inférieures au micron. Elle peut se monter sur les appareils de la gamme XT V  et développe une énergie allant jusqu’à 160kV pour une puissance maximale atteignant 20 Watts. La tâche focale de cette cible en transmission permet de grossir les échantillons pour obtenir une imagerie haute résolution. La source Xi est à tube ouvert, sa durée de vie est illimitée. Plus besoin d’effectuer de coûteux remplacements comme avec la technologie à tube scellé. Les utilisateurs peuvent facilement et à peu de frais remplacer les filaments protégés par une coupelle  fixation rapide. Les temps d’arrêt sont réduits et la qualité des images est assurée sur le long terme. La source Xi comprend également un générateur intégré, donc plus besoin de maintenance de câbles haute tension, ce qui diminue d’autant les coûts d’utilisation.

 

 



nikon metrology x ray sources onexraytubelimitlessapplicationsUn tube à rayons X, des applications sans limites

Les sources de rayons X de Nikon Metrology sont uniques : elles sont conçues et fabriquées en interne et les têtes des cibles sont facilement interchangeables. Les appareils de la gamme 225kV peuvent en accueillir 5 sur la même base de tube, offrant une flexibilité et des performances exceptionnelles. Quelles que soient la puissance ou la résolution, la qualité des images demeure remarquable. Alors que les modèles concurrents demandent une maintenance plus lourde voire un double tube pour être flexibles, toutes les sources Nikon Metrology, de la 180 kV à la 320 kV, sont équipées d’un tube ouvert universel, ce qui permet leur optimisation pour de nombreuses applications. On trouve des cibles de transmission avec une tâche focale d’1 μm, des cibles réfléchissantes, brevetées, de 225 kV  (avec l’option, unique, de la cible multi-métaux) et les cibles rotatives (répétition), innovation mondiale Nikon. La cible microfocus 320kV offre une extraordinaire capacité de pénétration pour les échantillons denses.

 

 



nikon metrology x ray sources 225kvreflectiontargetwithmultimetaloptionCible réfléchissante 225kV avec option multi-métaux

Ce qui fait la force de la gamme XT H 225 de Nikon Metrology, c’est la source ultra focus à tube ouvert de 225 kV, avec une tâche focale minimale de 3 μm. Cette source peut être intégrée sur de nombreux systèmes, : la gamme 225, à savoir en cabine standard XT H 225, en cabine allongée XT H 225 ST, en cabine entièrement contrôlée dédiée métrologie MCT 225, en cabine haute énergie XT H 320 en passant par les systèmes à grand volume. La source est suffisamment polyvalente pour travailler sur des échantillons de tailles et densités variées. Elle a une grande durée de vie et un faible coût d’utilisation. La cible multi-métaux est une option unique qui permet aux utilisateurs de changer le profil de l’émission des rayons X, ce qui peut être capital pour analyser plus finement des matériaux peu denses. Celle-ci permet de choisir entre tungstène, argent, molybdène ou cuivre, le tout, sans rompre le vide.

 



 

nikon metrology x ray sources graph1Technologie à cible rotative

Nikon Metrology est le seul fabricant de systèmes de TN à rayons X à proposer la technologie de la cible rotative. On retrouve cette option sur les sources de 225kV et 450kV, comme alternative aux cibles statiques par réfléxion. Elle permet de dissiper efficacement la chaleur générée afin de multiplier le flux par un facteur maximal de 5, ce qui permet d’obtenir des images très contrastées et d’une résolution incroyable. Le refroidissement liquide permet de fonctionner en continu et de scanner quelle que soit la puissance, avec un maximum de 450W. Le temps de scanning est optimisé car ne nécessitant pas de périodes de refroidissement, comme pour les cibles minifocus concurrentes. On obtient des images de bien meilleure qualité avec une résolution trois fois meilleure pour une puissance identique. Mais on peut aussi collecter des données 3 à 5 fois plus vite pour la même résolution.

 



nikon metrology x ray sources worldsonly450microfocusxraysourceSource microfocus de rayons X de 450kV unique au monde

Quand la source haute énergie de rayons X microfocus 450kV/450W, unique au monde, est associée à la technologie de la source rotative forte brillance, cela donne des images d’une résolution supérieure à celle de tous les autres systèmes microfocus, et infiniment meilleure que celle atteinte par les sources mini focus. Les résolutions offertes par cette source profitent directement à la qualité d’image, renforçant leur netteté et par conséquent le confort d’analyse de l’utilisateur, le tout avec un temps d’acquisition réduit. La solution de tube ouvert permet un remplacement rapide du filament de l’ordre de quelques minutes pour un coût réduit, limitant de fait l’immobilisation du système. Cette innovation est un avantage significatif en comparaison avec les tubes fermés dont la panne peut entrainer des semaines d’arrêt.