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XT V 160  système d'inspection haute qualité

nikon metrology xray ct computed electronic inspection XTV160Le XT V 160 a été conçu spécialement pour les lignes de production et les laboratoires d’analyse des ruptures. Grâce à un joystick précis, l’utilisateur peut commander le manipulateur 5 axes. Le système aux rayons-X en temps réel lui permet de se déplacer intuitivement dans les cartes de circuit imprimé complexes et dans les composants électroniques afin de trouver rapidement les défauts. En mode d’inspection automatique, les pièces sont contrôlées à haut débit.

Avantages

  • Technologie micro-focus brevetée, de premier plan
  • Inspection rapide et automatisée des pièces grâce à des macros personnalisables
  • Joystick intuitif pour accéder en temps réel aux images par rayons-X
  • Double affichage pour combiner les mesures et l’analyse en temps réel
  • Faible coût de possession et de maintenance grâce à la technologie à tube ouvert
  • Priorité à la sécurité
  • Prêt pour la Tomographie Numérique
 
Caractéristiques clés et avantages
 

nikon metrology xray ct computed electronic inspection XTV160 nanotechSource NanoTech 160kV brevetée avec un point inférieur au micron

C’est en s’appuyant sur le contrôle très serré du point de rayons-X nano-focus et sur la toute dernière technologie d’imagerie numérique que le XT V 160 peut produire des images nettes de détails de la taille du micron, et ce même sur les échantillons les plus difficiles. L’objectif électromagnétique de pointe est commandé par ordinateur afin de faire en sorte que l’image reste nette et, qu’à pleine puissance, les réglages en kV, ainsi que la cible, ne soient pas modifiés.


nikon metrology xray ct computed electronic inspection XTV130C XTV160 parallel tracking of bga analysisVéritable repérage parallèle afin de fournir les meilleures vues pour l’analyse des BGA

Il faut combiner pivotement et rotation pour obtenir les meilleures vues, sans obstacle, des matrices de billes BGA. L’étape suivante consiste à scanner le long des rangées pour inspecter les défauts. Avec des manipulateurs standards, cela nécessite de travailler simultanément sur 3 axes et pour ce faire l’opérateur doit posséder un très grand savoir-faire.

La fonction de repérage véritablement parallèle de X-Tek maintient les axes X et Y parallèles aux matrices BGA, ce qui permet de pouvoir scanner les rangées sur un seul axe, X ou Y. Cette fonction est active sur les systèmes de contrôle avancés.


Imagerie véritablement concentrique

L’opérateur choisit la zone d’intérêt à inspecter et la positionne au centre de l’écran. Quelle que soit  la combinaison de la rotation, du pivotement et du grossissement, la zone d’intérêt reste au centre du champ de vision.

La véritable fonction d’imagerie concentrique est active sur toute la zone de scan du manipulateur. La zone d’intérêt est comme fixée à l’intérieur, quelle que soit la position de l’échantillon sur la table du manipulateur, ce qui est idéal pour inspecter autour d’une ou plusieurs matrices BGA.


nikon metrology xray ct computed electronic inspection XTV160 superior image resolutionGrande résolution et fort grossissement pour révéler tous les défauts

La cible de transmission qui équipe le XT V160 possède une fenêtre de sortie ultra fine permettant de placer, en toute sécurité, l’échantillon à moins de 250 microns du point focal, ce qui permet d’utiliser un grossissement atteignant 6000x. La source brevetée de rayons-X "à tube ouvert"  X-Tek Xi  est la plus petite de toutes et permet de voir facilement les plus petits détails des images aux rayons-X d’échantillons épais et denses.  Cette unité à haute énergie, sous vide et démontable, permet d’obtenir des vues, sous des angles extrêmes, de brasures ou de dissipateurs thermiques, sans manquer d’énergie.   


Système intrinsèquement sûr, ne nécessitant ni badge, ni protection spéciale

Le XT V 160 est équipé du logiciel le plus avancé pour la capture et l’analyse d’image, fonctionnant sur le tout dernier et tout meilleur matériel de traitement. Il est possible d‘enregistrer ou d’exporter directement les données des résultats vers des logiciels compatibles COM tels que Word, Excel, Access et les systèmes SPC. Les matériels et les logiciels de traitement sont contrôlés en interne, permettant à l’utilisateur de profiter immédiatement des avancées technologiques.

Ce système d’inspection comprend également des fonctions d’inspection des vides dans les semi-conducteurs, les câblages de fil et les points de brasure des BGA. Il rend également possible l’utilisation de Microsoft VBA (Visual Basic) comme langage de script/macro, ce qui permet de personnaliser rapidement le logiciel pour l’adapter à des exigences d’inspection spécifiques.


nikon metrology xray ct computed electronic inspection XTV130C XTV160 low costFaible coût de possession et de maintenance grâce à la technologie à tube ouvert

Le développement du tube ouvert à rayons-X pour le X-Tek a permis de réduire la taille, la masse et le prix du système tout en conservant son haut niveau de qualité et de performances.  En incluant un générateur HT sans fil, breveté et sans entretien, nous avons réussi  à diminuer considérablement la maintenance préventive, ce qui a aussi permis de diminuer considérablement, sur le long terme, le coût total de possession, par rapport aux systèmes comparables.  

Alors que son encombrement  au sol est limité à deux mètres-carré, le XT V 160 peut encore proposer un volume de scan généreux, basé sur une surface de  400x400mm.


Appareil facile à utiliser grâce à une ergonomie de pointe

Le XT V160 a été conçu pour être facile à utiliser, sans aucun compromis sur les performances.
Les étagères sont totalement réglables, ce qui fait que toutes les commandes du système sont à portée de main de l’opérateur, qu’il soit assis ou debout, et quelle que soit sa taille.
L’écran de contrôle de Windows se présente de façon logique, toutes les fonctions régulièrement utilisées sont accessibles d’un simple clic avec des boutons, tandis que des joysticks autorisent des déplacements précis et donnent une réponse directe et logique à partir du manipulateur de l’échantillon et de l’image aux rayons-X.
Le fonctionnement du système est hautement intuitif ce qui permet de réduire de façon significative le temps de formation de l’opérateur.


Prêt pour la Tomographie Numérique (en option)

Le XT V 160 est préconfiguré pour faire évoluer le système en un système à TN. Des images 3D peuvent ainsi être reconstruites pour obtenir un meilleur aperçu de l’intérieur des composants et des sous-ensembles.

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Spécifications
kv maxi 160 kV
Puissance maxi Rayons-X 20 W (radiographie), 10 W (CT)1
Source Rayons-X Tube ouvert à transmission
Taille du point 1 µm1 (en-dessous de 2W)
Taille defaut détecté 500 nm
Grossissement géometrique 2.5x -1,034x
Grossissement système Jusqu'à 36.000x 
Detecteur (en option) Ecran plat numérique Varex 1515DX (1,3 Mpixel 16 bits)
Ecran plat numérique Varex 2520DX (2,85 Mpixel, 16 bits)
Ecran plat numérique Varex 1512 (2,85 Mpixel, 14 bits)
Manipulateur 5-axes (X, Y, Z, T, R)
Axe de rotation Compris 
Inclinaison 0 - 72 degrés
Volume de mesure Taille maximum de la carte sur le plateau rotatif 406 x 406 mm
En absolu 711 x 762 mm maxi
Masse maxi piece 5 kg
Moniteurs Écran plat single 4k IPS (3 840 x 2 160 pixels)
Dimensions de la cabine  (PxLxH) 1200 x 1786 x 1916 mm
Masse 2.100 kg
Sécurité anti radiations  <1 μSv/hr
Contrôle Logiciel de commande et d’analyse Inspect-X
Inspection automatisée Comprise
Tomographie Numérique En option
Applications primaires  Inpection en temps réel et automatisée des composants électroniques et des semi-conducteurs
(BGA, μBGA, flip-chip et cartes PCB chargées) 

1
à 80kV, 80μA

2 en-dessous de 2
 
Brochures
Overview brochure
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XT V Series
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Etudes de cas
Revolutionizing defect analysis for electronic components
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Saline Lectronics, USA is an electronics contract manufacturer, offering to solve the most complex technical challenges with its impeccable quality standards. Up to date with the latest technological advancements and using the latest manufacturing equipment, Lectronics invests in the Nikon XT V 160.

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Printed circuit board manufacturer embraces X-ray inspection for QA of next-generation devices
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Nikon Metrology X-ray machine cuts the price of placing BGA devices by 70 per cent.

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In-process x-ray inspection improves quality control of circuit boards
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ESCATEC has deployed an X-ray inspection machine that sits alongside two lines producing PCB assemblies. The XT V 160 machine is used for real-time, in-process quality control and detects defects, reduces lead-times and optimizes costs.

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Philips Lighting, Belgium, recently took delivery of a XT V system for X-ray and computer tomography (CT) inspection. Engineers investigate electrodes and parts of high-intensity discharge (HID) lamp prototypes, to push the boundaries of lamp performance, lifespan and ecological material usage.

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X-ray irons out electronic flaws at Process Sciences Inc.
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Process Sciences Inc. (PSI) runs Nikon Metrology X-ray inspection to trace connectivity issues in electronic circuitry that otherwise remain hidden for the eye. Using intuitive real-time X-ray imaging, PSI collaborates with OEMs and contract assemblers nationwide to reveal and resolve weak points in their PCB manufacturing processes.

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X-ray further increases product quality at Mentzer Electronics
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Quality control at Mentzer Electronics in Burlingame, California, includes tracing electronics assembly issues using an XT V inspection system. This system allows quality engineers to navigate through the internal structure of assembled PCBs.

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Applications industrielles
 

Brochures

Overview brochure
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XT V Series
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