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XT H 320 pour l’inspection aux rayons-X et par TN des grands échantillons

nikon metrology xray ct computed tomography XTH320Le XT H 320 possède une puissante source microfocus de rayons-X, capable d’effectuer une inspection précise de pièces industrielles denses. Nikon Metrology est le seul fabricant à proposer une source microfocus de rayons-X 320kV. Avec une telle source, la taille du point est infiniment plus petite qu’avec les sources minifocus. Les avantages pour l’utilisateur sont : une meilleure résolution, une plus grande précision et une plus large palette de pièces mesurables.

With the optional rotation reflection target, an even higher X-ray flux is available enabling customers to obtain faster CT data acquisition or achieve higher CT data accuracy in the same time span

Avantages

  • Source brevetée micro-focus de rayons 320kV
  • Inspection précise de pièces industrielles denses
  • Facilité d’utilisation et faible coût total de possession
  • Images internes stupéfiantes
  • Acquisition très performante des images et excellent traitement du volume
  • Automatisation très directe de l’inspection
  • Priorité à la sécurité

Applications

  • Détection des défauts et analyse des ruptures
  • Inspection des assemblages mécaniques complexes
  • Mesure dimensionnelle des composants internes
  • Contrôle de pièce par CAO
  • Recherche de pointe sur les matériaux
  • Analyse des structures biologiques
  • Archivage numérique des modèles
 
Caractéristiques clés et avantages
 

nikon metrology xray ct computed tomography XTH320 sourceLa source brevetée micro-focus de rayons X 320kV permet d’obtenir une précision et des performances de très haut niveau

La plupart des fournisseurs de systèmes n’offrent que des sources microfocus allant jusqu’a 225 kV, tandis que
les sources plus puissantes qu’ils proposent sont de la catégorie minifocus.

Avec des échantillons plus grands, on a souvent besoin d’une plus grande puissance de pénétration, par
conséquent, Nikon Metrology offre une source unique de rayons X microfocus de 320 kV.

La taille des rayons X de ces sources étant plus faible par rapport aux sources minifocus, l’utilisateur bénéficie d’une meilleure résolution et précision ainsi que d’un plus large éventail de pièces mesurables.


nikon metrology xray ct computed tomography XTH320 rotating reflectionLa cible réfléchissante tourne et démultiplie le flux de rayons X

Les sources de rayons-X traditionnelles utilisent des cibles fixes qui ne peuvent recevoir qu’un flux limité d’électrons pour ne pas endommager la cible. En introduisant une cible réfléchissante rotative, qui possède de meilleures capacités de refroidissement, on augmente très nettement le flux d’électrons, sans courir le risque d’abimer la cible de façon permanente.  On accélère ainsi nettement le flux de rayons-X, ce qui permet au client d’acquérir plus rapidement des données de TN ou d’obtenir une meilleure précision des données TN pendant le même temps.
En prenant un flux de rayons-X 5 fois plus important, les clients peuvent soit accélérer d’autant l’acquisition des données, soit améliorer la précision des données en faisant plus de radiographies dans le même temps. 


Des images stupéfiantes de structures internes

On obtient des images nettes avec un petit point et un écran plat à haute résolution. Vous pouvez adapter la résolution à vos besoins : résolution grossière sur la pièce entière et résolution fine sur la zone d’intérêt.

nikon metrology xray ct computed tomography XTH225ST materials fr


nikon metrology xray ct computed tomography XTH320 accessibilityUn accés facile pour l'inspection des grands échantillons 

The XT H 320 systems feature a large access door and the heavy-duty precision 5-axis manipulator can hold samples in excess of 50 kg ??! with dimensions of 0.6 m (H) x 0.6 m (D).


La sécurité d’abord

Le système est complètement confiné, en conformité avec les normes de sécurité contre les radiations CE et DIN 54113. Aucun badge et aucune tenue de protection spéciale ne sont nécessaires. Le contrôle peut s’effectuer, sans danger, tout au long du fonctionnement du système. Le bouclier anti radiations assure une protection extérieure supérieure à 1µSv/heure et un double système de boutons/relais de sécurité permet de garantir la sécurité du fonctionnement.


nikon metrology xray ct computed tomography XTH320 accuracy and performanceConfigurez le système selon vos besoins spécifiques

Certaines applications exigent des images plus détaillées ou une plus grande précision. Il est possible de configurer le XT H 320 avec plusieurs panneaux plats (Varian, Perkin Elmer) ou plusieurs configurations de la source (cible de réflexion/ transmission) pour adapter parfaitement le système à vos besoins.

 
Spécifications
Source microfocus      Max. kVPuissance maxTaille de spot rayons XTaille de spot rayons X
 (puissance max)
225 kV Cible à réflexion  basic configuration 225 kV 225 W 3 µm à 7 W 225 µm à 225 W
225 kV Cible rotative en option alternative configuration 225 kV 450 W 10 µm à 30 W 160 µm à 450 W
320 kV Cible à réflexion  basic configuration 320 kV 320 W 30 µm à 30 W  320 µm à 320 W 

 

Détecteurs# BitsPixels actifsTaille pixelRafraichissement max
 1x1 binning
Rafraichissement max
 2x2 binning
Perkin Elmer 1611 alternative configuration 16-bit 4000 x 4000 100 µm 3.75 fps  7.5 fps
Perkin Elmer 1620  alternative configuration 16-bit 2000 x 2000 200 µm 3.75 fps  7.5 fps
Perkin Elmer 1621 EHS  alternative configuration 16-bit 2000 x 2000 200 µm 15 fps 30 fps


basic configuration:  Configuration standard
alternative configurationConfiguration alternative

Manipulateur       
# Axes 4 (5ième axe en option)

Course des axes

(Valeur théorique - les valeurs exactes dépendent de la configuration du système)

(X) 500 mm
(Y) 610 mm
(Z) 800 mm
(Rotate) n*360
Masse maxi de l’échantillon 100 kg

 

Spécifications générales    
Dimensions cabine (LxlxH) 2695 mm x 1828 mm x 2249 mm
Poids 8,500 kg
Sécurité Tous les systèmes sont fabriqués selon IRR99
Logiciel Tous les systèmes sont contrôlés par le logiciel InspectX développé par Nikon Metrology
 
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XT H Series
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