Le XT H 225 ST est un système de Tomographie Numérique convenant idéalement à une grande variété de matériaux et de tailles d’échantillon, et plus spécialement aux échantillons trop grands et trop lourds pour les autres systèmes de la gamme.
Le système possède trois sources interchangeables : la cible à réflexion 225 kV, la cible à transmisson 180 kV et la cible rotative 225 kV. Combiné à une grande variété de détecteurs à écran plat, parmi lesquels il suffit de choisir, le système ST se propose comme un outil flexible pour les laboratoires qualité, la production et les départements de recherche.
La source brevetée micro-focus de rayons-X 225kV permet d’obtenir une précision et des performances de très haut niveauLa source micro-focus est équipée par défaut d’une cible réfléchissante, offrant ainsi une taille de point de 3 microns. Grâce à la cible de transmission proposée en option, vous pouvez même obtenir une taille de point encore plus petite et un grossissement plus important. Quelle que soit la cible, le système XT H 225 utilise une source de rayons-X à tube ouvert, ce qui garantit un faible coût total de possession.
On obtient des images nettes avec un petit point et un écran plat à haute résolution. Vous pouvez adapter la résolution à vos besoins : résolution grossière sur la pièce entière et résolution fine sur la zone d’intérêt.
Traitement haute performanceLe cœur de la puissance de traitement se situe dans la suite logicielle XT qui s’ajoute à la fonction d’enregistrement du repérage, de Nikon Metrology, permettant d’améliorer le flux d’échantillonnage et de simplifier le fonctionnement afin que ce dernier ne soit plus laissé aux mains des experts mais de celles des opérateurs. Le logiciel XT permet également de reconstruire les données de TN de la façon la plus rapide actuellement sur un seul ordinateur. Cet ordinateur est construit avec des composants standards pour faciliter sa maintenance. Il est encore possible d’améliorer le flux d’échantillonnage en utilisant des ordinateurs supplémentaires. Tout le système est prêt à recevoir n’importe quel logiciel de visualisation et de traitement par TN, comme VolumeGraphics, par exemple.
Fonctionnement et automatisation facilesIl suffit de quelques jours de formation pour que les utilisateurs soient opérationnels. Un assistant TN guide les opérateurs à travers le processus d’acquisition des données.Des macros personnalisables permettent d’automatiser le processus de mesure et l’intégration d’applications de post-traitement, conformes aux normes industrielles, cela permet de fluidifier le processus de prise de décision.
Le système est complètement confiné, en conformité avec les normes de sécurité contre les radiations CE et DIN 54113. Aucun badge et aucune tenue de protection spéciale ne sont nécessaires. Le contrôle peut s’effectuer, sans danger, tout au long du fonctionnement du système. Le bouclier anti radiations assure une protection extérieure supérieure à 1µSv/heure et un double système de boutons/relais de sécurité permet de garantir la sécurité du fonctionnement.
La maintenance des composants internes du tube ouvert à rayons-X ouvert peut être assurée localement. Un système de transport à 3 roues permet de manœuvrer facilement l’appareil et de passer les double-portes d’entrée. Aucun traitement spécial n’est exigé pour les sols qui doivent recevoir le XT H 225 ST.
Configurez le système selon vos besoins spécifiquesCertaines applications exigent des images plus détaillées ou une plus grande précision. Il est possible de configurer le XT H 225 avec plusieurs panneaux plats (Varian, Perkin Elmer) ou plusieurs configurations de la source (cible de réflexion/ transmission) pour adapter parfaitement le système à vos besoins.
Le système XT H 225 ST est une version agrandie permettant de prendre en charge des échantillons pesant jusqu’à 50kg avec un diamètre d’environ 50cm.
Dans la cabine ST, il est possible d’amener le détecteur au plus près de la source, en le pilotant avec l’ordinateur. L’atténuation des rayons X chute à mesure que le faisceau de rayons X passe du point focal à l’imageur. Une FID (Distance du point focal à l’imageur) plus petite signifie que le flux de rayons X augmente et qu’avec une exposition plus courte de l’imageur, le temps de scan est réduit. D’un autre côté, une FID plus courte peut donner des images plus lumineuses quand on utilise des rayons à faible énergie. Les deux phénomènes sont avantageux quand le fort grossissement n’est pas un facteur limitant.
| Source microfocus | Max. kV | Puissance max. | Taille de spot rayons X | Taille de spot rayons X (puissance max.) |
|---|---|---|---|---|
180 kV Cible à transmission  |
180 kV | 20 W | 1 µm à 3 W | 20 µm à 20 W |
225 kV Cible à réflexion  |
225 kV | 225 W | 3 µm à 7 W | 225 µm à 225 W |
| 225 kV Cible rotative en option |
225 kV | 450 W | 10 µm à 30 W | 160 µm à 450 W |
| Détecteurs | # Bits | Pixels actifs | Taille pixel | Rafraichissement max 1x1 binning | Rafraichissement max 2x2 binning |
|---|---|---|---|---|---|
| Varex 4343 |
16-bit | 2880 x 2880 | 150 µm | 15 fps | 30 fps |
| Perkin Elmer 1611 |
16-bit | 4000 x 4000 | 100 µm | 3.75 fps | 7.5 fps |
| Perkin Elmer 1620 |
16-bit | 2000 x 2000 | 200 µm | 3.75 fps | 7.5 fps |
| Perking Elmer 1621 EHS |
16-bit | 2000 x 2000 | 200 µm | 15 fps | 30 fps |
: Configuration standard
: Configuration alternative
| Manipulateur | |
|---|---|
| # Axes | 5 |
|
Course des axes (Valeur théorique - les valeurs exactes dépendent de la configuration du système) |
(X) 450 mm (Y) 350 mm (Z) 725 mm (Tilt) +/- 30 (Rotate) n*360° |
| Masse maxi de l’échantillon | 50 kg |
| Spécifications générales | |
|---|---|
| Dimensions cabine (LxlxH) | 2,414 mm x 1,275 mm x 2,202 mm |
| Poids | 4,200 kg |
| Sécurité | Tous les systèmes sont fabriqués selon IRR99 |
| Logiciel | Tous les systèmes sont contrôlés par le logiciel InspectX développé par Nikon Metrology |
12701 Grand River Avenue
Brighton, MI 48116
United States
E-mail: sales.nm-us@nikon.com
Site web: www.nikonmetrology.com
Téléphone: (810) 220-4360
12 Goodyear, Suite #105
Irvine, CA 92618
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E-mail: sales.nm-us@nikon.com
Site web: www.nikonmetrology.com
Téléphone: (949) 716-4440
8113 Ridgepoint Dr.
Irving, TX 75063
United States
E-mail: sales.nm-us@nikon.com
Téléphone: (810) 220-4360
Mindarika designs and manufactures electrical switches for automotive OEMs. Requiring a non-destructive inspection method, the XT H 225 ST was installed to introduce non-destructive testing for an increased insight and high levels of quality.
Being subject to excessive temperatures and pressures, the smallest variations or defects can enormously effect the performance of automotive components such as impellers in turbochargers. This makes 100% inspection necessary not only for dimensions but also for structural and build quality.
Many sizes of implants produced today and their dimensions are critical for use in the human body. New manufacturing technologies need careful inspection to guarantee a long service life. CT provides a detailed inner and outer 3D image that verifies the correct positioning, shapes and structural.
Advanced filters are used in many industries such as automotive, medical, oil & air filtration. As filters are often complex assemblies, advanced inspection techniques help to provide a better insight in structural or operational deficiencies such as internal voids, sealing problems or filter tears.
SwitchGear Company uses a 225 kV Microfocus CT system to non-destructively inspect the quality of various components to accelerate product development and maintain high quality standards for incoming components from suppliers.
At Duke University, X-ray micro CT equipment is used to research anthropology studying the origin of mankind. But also biotech firms, electronic materials companies, government research organizations, and others have interest in using CT.
