La source brevetée micro-focus de rayons-X 225kV permet d’obtenir une précision et des performances de très haut niveau
La source micro-focus est équipée par défaut d’une cible réfléchissante, offrant ainsi une taille de point de 3 microns. Grâce à la cible de transmission proposée en option, vous pouvez même obtenir une taille de point encore plus petite et un grossissement plus important. Quelle que soit la cible, le système XT H 225 utilise une source de rayons-X à tube ouvert, ce qui garantit un faible coût total de possession.
Des images stupéfiantes de structures internes
On obtient des images nettes avec un petit point et un écran plat à haute résolution. Vous pouvez adapter la résolution à vos besoins : résolution grossière sur la pièce entière et résolution fine sur la zone d’intérêt.

Traitement haute performance
Le cœur de la puissance de traitement se situe dans la suite logicielle XT qui s’ajoute à la fonction d’enregistrement du repérage, de Nikon Metrology, permettant d’améliorer le flux d’échantillonnage et de simplifier le fonctionnement afin que ce dernier ne soit plus laissé aux mains des experts mais de celles des opérateurs. Le logiciel XT permet également de reconstruire les données de TN de la façon la plus rapide actuellement sur un seul ordinateur. Cet ordinateur est construit avec des composants standards pour faciliter sa maintenance. Il est encore possible d’améliorer le flux d’échantillonnage en utilisant des ordinateurs supplémentaires. Tout le système est prêt à recevoir n’importe quel logiciel de visualisation et de traitement par TN, comme VolumeGraphics, par exemple.
Fonctionnement et automatisation faciles
Il suffit de quelques jours de formation pour que les utilisateurs soient opérationnels. Un assistant TN guide les opérateurs à travers le processus d’acquisition des données.Des macros personnalisables permettent d’automatiser le processus de mesure et l’intégration d’applications de post-traitement, conformes aux normes industrielles, cela permet de fluidifier le processus de prise de décision.
La sécurité d’abord
Le système est complètement confiné, en conformité avec les normes de sécurité contre les radiations CE et DIN 54113. Aucun badge et aucune tenue de protection spéciale ne sont nécessaires. Le contrôle peut s’effectuer, sans danger, tout au long du fonctionnement du système. Le bouclier anti radiations assure une protection extérieure supérieure à 1µSv/heure et un double système de boutons/relais de sécurité permet de garantir la sécurité du fonctionnement.
Faible coût total de possession
La maintenance des composants internes du tube ouvert à rayons-X ouvert peut être assurée localement. Un système de transport à 3 roues permet de manœuvrer facilement l’appareil et de passer les double-portes d’entrée. Aucun traitement spécial n’est exigé pour les sols qui doivent recevoir le XT H 225 ST.
Configurez le système selon vos besoins spécifiques
Certaines applications exigent des images plus détaillées ou une plus grande précision. Il est possible de configurer le XT H 225 avec plusieurs panneaux plats (Varian, Perkin Elmer) ou plusieurs configurations de la source (cible de réflexion/ transmission) pour adapter parfaitement le système à vos besoins.
Le système XT H 225 ST est une version agrandie permettant de prendre en charge des échantillons pesant jusqu’à 50kg avec un diamètre d’environ 50cm.
FID motorisée
Dans la cabine ST, il est possible d’amener le détecteur au plus près de la source, en le pilotant avec l’ordinateur. L’atténuation des rayons X chute à mesure que le faisceau de rayons X passe du point focal à l’imageur. Une FID (Distance du point focal à l’imageur) plus petite signifie que le flux de rayons X augmente et qu’avec une exposition plus courte de l’imageur, le temps de scan est réduit. D’un autre côté, une FID plus courte peut donner des images plus lumineuses quand on utilise des rayons à faible énergie. Les deux phénomènes sont avantageux quand le fort grossissement n’est pas un facteur limitant.