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XT H 225 ST – Scanning et tomographie industriels

nikon metrology xray ct computed tomography XTH225STLe XT H 225 ST est un système de Tomographie Numérique convenant idéalement à une grande variété de matériaux et de tailles d’échantillon, et plus spécialement aux échantillons trop grands et trop lourds pour les autres systèmes de la gamme.

Le système possède trois sources interchangeables : la cible à réflexion 225 kV, la cible à transmisson 180 kV et la cible rotative 225 kV. Combiné à une grande variété de détecteurs à écran plat, parmi lesquels il suffit de choisir, le système ST se propose comme un outil flexible pour les laboratoires qualité, la production et les départements de recherche.

Avantages

  • Source brevetée micro-focus de rayons X 225kV avec taille de spot rayons X 3µm
  • Facile d’utilisation
  • Images internes stupéfiante
  • Acquisition très performante des images et excellent traitement du volume
  • Automatisation très directe de l’inspection
  • Priorité à la sécurité
  • Faible coût total de possession

Applications

  • Détection des défauts et analyse des ruptures
  • Inspection des assemblages mécaniques complexes
  • Mesure dimensionnelle des composants internes
  • Contrôle de pièce par CAO
  • Recherche de pointe sur les matériaux
  • Analyse des structures biologiques
  • Archivage numérique des modèles
 
Caractéristiques clés et avantages
 

nikon metrology xray ct computed tomography XTH225ST superior accuracyLa source brevetée micro-focus de rayons-X 225kV permet d’obtenir une précision et des performances de très haut niveau

La source micro-focus est équipée par défaut d’une cible réfléchissante, offrant ainsi  une taille de point de 3 microns. Grâce à la cible de transmission proposée en option, vous pouvez même obtenir une taille de point encore plus petite et un grossissement plus important. Quelle que soit la cible, le système  XT H 225 utilise une source de rayons-X à tube ouvert, ce qui garantit un faible coût total de possession.


Des images stupéfiantes de structures internes

On obtient des images nettes avec un petit point et un écran plat à haute résolution. Vous pouvez adapter la résolution à vos besoins : résolution grossière sur la pièce entière et résolution fine sur la zone d’intérêt.

nikon metrology xray ct computed tomography XTH225ST materials


nikon metrology xray ct computed tomography XTH225ST high performance processingTraitement haute performance

Le cœur de la puissance de traitement se situe dans la suite logicielle XT qui s’ajoute à la fonction d’enregistrement du repérage, de Nikon Metrology, permettant d’améliorer le flux d’échantillonnage et de simplifier le fonctionnement afin que ce dernier ne soit plus laissé aux mains des experts mais de celles des opérateurs. Le logiciel XT permet également de reconstruire les données de TN de la façon la plus rapide actuellement sur un seul ordinateur. Cet ordinateur est construit avec des composants standards pour faciliter sa maintenance. Il est encore possible d’améliorer le flux d’échantillonnage en utilisant des ordinateurs supplémentaires.  Tout le système est prêt à recevoir n’importe quel logiciel de visualisation et de traitement par TN, comme VolumeGraphics, par exemple. 


nikon metrology xray ct computed tomography XTH225ST easy operationFonctionnement et automatisation faciles

Il suffit de quelques jours de formation pour que les utilisateurs soient opérationnels. Un assistant TN guide les opérateurs à travers le processus d’acquisition des données.Des macros personnalisables permettent d’automatiser le processus de mesure et l’intégration d’applications de post-traitement, conformes aux normes industrielles, cela permet de fluidifier le processus de prise de décision. 

 


La sécurité d’abord

Le système est complètement confiné, en conformité avec les normes de sécurité contre les radiations CE et DIN 54113. Aucun badge et aucune tenue de protection spéciale ne sont nécessaires. Le contrôle peut s’effectuer, sans danger, tout au long du fonctionnement du système. Le bouclier anti radiations assure une protection extérieure supérieure à 1µSv/heure et un double système de boutons/relais de sécurité permet de garantir la sécurité du fonctionnement.


Faible coût total de possession

La maintenance des composants internes du tube ouvert à rayons-X ouvert peut être assurée localement. Un système de transport à 3 roues permet de manœuvrer facilement l’appareil et de passer les double-portes d’entrée. Aucun traitement spécial n’est exigé pour les sols qui doivent recevoir le XT H 225 ST.


nikon metrology xray ct computed tomography XTH225STConfigurez le système selon vos besoins spécifiques

Certaines applications exigent des images plus détaillées ou une plus grande précision. Il est possible de configurer le XT H 225 avec plusieurs panneaux plats (Varian, Perkin Elmer) ou plusieurs configurations de la source (cible de réflexion/ transmission) pour adapter parfaitement le système à vos besoins.

Le système XT H 225 ST est une version agrandie permettant de prendre en charge des échantillons pesant jusqu’à 50kg avec un diamètre d’environ 50cm.


FID motorisée

Dans la cabine ST, il est possible d’amener le détecteur au plus près de la source, en le pilotant avec l’ordinateur. L’atténuation des rayons X chute à mesure que le faisceau de rayons X passe du point focal à l’imageur. Une FID (Distance du point focal à l’imageur) plus petite signifie que le flux de rayons X augmente et qu’avec une exposition plus courte de l’imageur, le temps de scan est réduit. D’un autre côté, une FID plus courte peut donner des images plus lumineuses quand on utilise des rayons à faible énergie. Les deux phénomènes sont avantageux quand le fort grossissement n’est pas un facteur limitant.

 
Spécifications
Source microfocusMax. kVPuissance max. Taille de spot rayons XTaille de spot rayons X
 (puissance max.)
180 kV Cible à transmission alternative configuration 180 kV 20 W 1 µm à 3 W 20 µm à 20 W
225 kV Cible à réflexion basic configuration 225 kV 225 W 3 µm à 7 W 225 µm à 225 W
225 kV Cible rotative en option alternative configuration 225 kV 450 W 10 µm à 30 W 160 µm à 450 W

 

Détecteurs# BitsPixels actifsTaille pixelRafraichissement max
 1x1 binning
Rafraichissement max
 2x2 binning
Varian 4030 alternative configuration 14-bit 2300 x 3200 127 µm 3 fps  7 fps
Perkin Elmer 1611 alternative configuration 16-bit 4000 x 4000 100 µm 3.75 fps 7.5 fps
Perkin Elmer 1620  alternative configuration 16-bit 2000 x 2000 200 µm 3.75 fps 7.5 fps
Perking Elmer 1621 EHS alternative configuration 16-bit 2000 x 2000 200 µm 15 fps 30 fps

 
 basic configurationConfiguration standard
  alternative configurationConfiguration alternative

Manipulateur       
# Axes 5

Course des axes

(Valeur théorique - les valeurs exactes dépendent de la configuration du système)

(X) 450 mm
(Y) 350 mm
(Z) 725 mm
(Tilt) +/- 30
(Rotate) n*360°
Masse maxi de l’échantillon 50 kg

 

Spécifications générales    
Dimensions cabine (LxlxH) 2,414 mm x 1,275 mm x 2,202 mm
Poids 4,200 kg
Sécurité Tous les systèmes sont fabriqués selon IRR99
Logiciel Tous les systèmes sont contrôlés par le logiciel InspectX développé par Nikon Metrology

 

 

 
Brochures
Overview brochure
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XT H Series
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Etudes de cas
X-Ray Computed Tomography expands horizons of anthropology at Duke university
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At Duke University, X-ray micro CT equipment is used to research anthropology studying the origin of mankind. But also biotech firms, electronic materials companies, government research organizations, and others have interest in using CT.

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SwitchGear Company uses a 225 kV Microfocus CT system to non-destructively inspect the quality of various components to accelerate product development and maintain high quality standards for incoming components from suppliers.

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Advanced filters are used in many industries such as automotive, medical, oil & air filtration. As filters are often complex assemblies, advanced inspection techniques help to provide a better insight in structural or operational deficiencies such as internal voids, sealing problems or filter tears.

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Many sizes of implants produced today and their dimensions are critical for use in the human body. New manufacturing technologies need careful inspection to guarantee a long service life. CT provides a detailed inner and outer 3D image that verifies the correct positioning, shapes and structural.

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Being subject to excessive temperatures and pressures, the smallest variations or defects can enormously effect the performance of automotive components such as impellers in turbochargers. This makes 100% inspection necessary not only for dimensions but also for structural and build quality.

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 Mindarika designs and manufactures electrical switches for automotive OEMs. Requiring a non-destructive inspection method, the XT H 225 ST was installed to introduce non-destructive testing for an increased insight and high levels of quality.

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Applications industrielles
 
 

Brochures

Overview brochure
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XT H Series
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