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XT H 225 pour l’inspection complète aux rayons X et par Tomographie Numérique

nikon metrology xray ct computed tomography XTH225Le système d’entrée de gamme XT H 160 et le système polyvalent XT H 225 proposent une source microfocus par rayons X, un grand volume d’inspection, une grande résolution d’image et une reconstruction ultra rapide par TN. Ils couvrent une large gamme d’applications, comme l’inspection des pièces en plastique, des petites pièces moulées et des mécanismes complexes, mais aussi la recherche sur les matériaux et les spécimens naturels.

Avantages

  • Source brevetée micro-focus de rayons X 225kV
  • Facile d’utilisation et faible coût total de possession
  • Images internes stupéfiantes
  • Mesure de pièces que les autres sources 225kV ne peuvent pas mesurer
  • Acquisition très performante des images et excellent traitement du volume
  • Automatisation très directe de l’inspection
  • Priorité à la sécurité

Applications

  • Détection des défauts et analyse des ruptures
  • Inspection des assemblages mécaniques complexes
  • Mesure dimensionnelle des composants internes
  • Contrôle de pièce par CAO
  • Recherche de pointe sur les matériaux
  • Analyse des structures biologiques
  • Archivage numérique des modèles
 
Caractéristiques clés et avantages
 

nikon metrology xray ct computed tomography XTH225ST superior accuracyLa source brevetée micro-focus de rayons X 225kV permet d’obtenir une précision et des performances de très haut niveau

La source micro-focus est équipée par défaut d’une cible réfléchissante, offrant ainsi  une taille de point de 3 microns. Grâce à la cible de transmission proposée en option, vous pouvez même obtenir une taille de point encore plus petite et un grossissement plus important. Quelle que soit la cible, le système XT H 225 utilise une source de rayons X à tube ouvert, ce qui garantit un faible coût total de possession.


Des images stupéfiantes de structures internes

On obtient des images nettes avec un petit point et un écran plat à haute résolution. Vous pouvez adapter la résolution à vos besoins : résolution grossière sur la pièce entière et résolution fine sur la zone d’intérêt.

nikon metrology xray ct computed tomography XTH225ST materials fr


nikon metrology xray ct computed tomography XTH225ST high performance processingTraitement haute performance

Le cœur de la puissance de traitement se situe dans la suite logicielle XT qui s’ajoute à la fonction d’enregistrement du repérage, de Nikon Metrology, permettant d’améliorer le flux d’échantillonnage et de simplifier le fonctionnement afin que ce dernier ne soit plus laissé aux mains des experts mais de celles des opérateurs. Le logiciel XT permet également de reconstruire les données de TN de la façon la plus rapide actuellement sur un seul ordinateur. Cet ordinateur est construit avec des composants standards pour faciliter sa maintenance. Il est encore possible d’améliorer le flux d’échantillonnage en utilisant des ordinateurs supplémentaires.  Tout le système est prêt à recevoir n’importe quel logiciel de visualisation et de traitement par TN, comme VolumeGraphics, par exemple


nikon metrology xray ct computed tomography XTH225ST easy operationFonctionnement et automatisation faciles

Il suffit de quelques jours de formation pour que les utilisateurs soient opérationnels. Un assistant TN guide les opérateurs à travers le processus d’acquisition des données.Des macros personnalisables permettent d’automatiser le processus de mesure et l’intégration d’applications de post-traitement, conformes aux normes industrielles, cela permet de fluidifier le processus de prise de décision. 

 


La sécurité d'abord

Le système est complètement confiné, en conformité avec les normes de sécurité contre les radiations CE et DIN 54113. Aucun badge et aucune tenue de protection spéciale ne sont nécessaires. Le contrôle peut s’effectuer, sans danger, tout au long du fonctionnement du système. Le bouclier anti radiations assure une protection extérieure supérieure à 1µSv/heure et un double système de boutons/relais de sécurité permet de garantir la sécurité du fonctionnement.


Faible coût total de possession

La maintenance des composants internes du tube ouvert à rayons-X ouvert peut être assurée localement. Un système de transport à 3 roues permet de manœuvrer facilement l’appareil et de passer les double-portes d’entrée. Aucun traitement spécial n’est exigé pour les sols qui doivent recevoir le XT H 225.


Configurez le système selon vos besoins spécifiques

Certaines applications exigent des images plus détaillées ou une plus grande précision. Il est possible de configurer le XT H 225 avec plusieurs panneaux plats (Varian, Perkin Elmer) ou plusieurs configurations de la source (cible de réflexion/ transmission) pour adapter parfaitement le système à vos besoins.

Le système XT H 225 ST est une version agrandie permettant de prendre en charge des échantillons pesant jusqu’à 50kg avec un diamètre d’environ 50cm.

 
Spécifications
Source Microfocus      kV maxiPuissance Max.Taille de spot rayons XTaille de spot rayons XXT H 160 XT H 225
160 kV Cible à réflexion 160 kV 225 W 3 µm à 7 W 225 µm à 225 W  alternative configuration  
180 kV Cible à transmission 180 kV 20 W 1 µm à 3 W  20 µm à 20 W     alternative configuration
225 kV Cible à réflexion 225 kV 225 W 3 µm à  7 W 225 µm à 225 W    basic configuration

 

Détecteurs                # BitsPixels actifs Taille pixelRafraichissement max
 1x1 binning
Rafraichissement max
 2x2 binning
XT H 160XT H 225
Varian 1313Dx 16-bit 1000 x 1000 127 µm 30 fps 60 fps  alternative configuration   
Varian 2520Dx 16-bit 1900 x 1500 127 µm 12.5 fps 30 fps alternative configuration  alternative configuration 
Varex 4343 16-bit 2880 x 2880 150 µm 15 fps  30 fps    alternative configuration
Perkin Elmer 0820 16-bit 1000 x 1000 200 µm 7.5 fps  15 fps   alternative configuration  alternative configuration 

 
 basic configuration:  Configuration standard
 alternative configuration :  Configuration alternative

Manipulateur       XT H 160/ XT H 225
# Axes 5

Course des axes

(Valeur théorique - les valeurs exactes dépendent de la configuration du système)

(X) 185 mm
(Y) 250 mm
(Z) 625 mm
(Tilt) +/- 30
(Rotate) n*360°
Masse maxi de l’échantillon 15 kg

 

Spécifications générales                 
Dimensions cabine (LxlxH) 1,830 mm x 875 mm x 1,987 mm
Poids 2,400 kg
Sécurité Tous les systèmes sont fabriqués selon IRR99
Logiciel Tous les systèmes sont contrôlés par le logiciel InspectX développé par Nikon Metrology
 
Brochures
Overview brochure
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XT H Series
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The demand for dental implants has increased due to new advanced manufacturing technology and our aging society. CT provides a detailed 3D image that enables to verify the correct positioning and orientation of dentures on prostheses, or structural integrity of assembled implants.

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Applications industrielles
 
 

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