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X-Tract – Vous pouvez voir plus avec X.Tract

nikon metrology software x ray ct xtractX.Tract permet d’obtenir des résultats d’inspection de qualité, par TN, d’assemblages électroniques multi-couches complexes sans avoir à faire tourner la carte. Grâce à un processus rapide et convivial, des micro coupes de l’assemblage sont créées dans n’importe quelle direction de la zone d’intérêt. X.Tract révèle les défauts qui restent invisibles sur les radiographies 2D des composants empilés.

Le nouvel outil X.Tract propose une acquisition entièrement automatisée, un puissant traitement des images et une création de rapport détaillée. Avec X.Tract, les utilisateurs accèdent à un meilleur aperçu des encapsulages complexes, comme les PoP (Package on Package), ou les cartes multi couche afin de réduire le nombre de faux rappels et d’augmenter la productivité.

Avantages

  • Identification aisée des défauts dans des cartes électroniques multicouches complexes
  • Navigation à travers un composant, en observant les sections 2D dans n’importe quelle direction, ce qui permet d’isoler les vues claires
  • Travail sur les petites et grandes cartes et assemblages électroniques
  • Acquisition rapide et automatisée et visualisation en quelques minutes
  • Disponible sur les systèmes XT V 160
 
Caractéristiques clés et avantages
 

Comment fonctionne X.Tract?

nikon metrology software x ray XTract principle1Vue détaillée de n’importe quelle coupe virtuelle, dans n’importe quelle direction, dans un processus non destructif et aisé

Les cartes électroniques, les composants ou les wafers sont placés dans un système d’inspection par rayons X de la gamme XTV et des images 2D avec une résolution inférieure au micron sont automatiquement prises à 360° autour de la zone d’intérêt. Il suffit de quelques minutes pour acquérir les images et les scans 2D permettent la construction d’un modèle 3D détaillé. Grâce à l’outil d’analyse X.Tract, on peut alors découper en tronçons et analyser le modèle, dans n’importe quel plan.

La technologie X.Tract permet d’obtenir une grande résolution et un fort grossissement, en TN, dans la zone d’intérêt de la carte électronique, ce qui permet d’accélérer le développement du produit, la détection des défauts et l’inspection des encapsulages complexes.

 


De meilleures inspections avec X.Tract

nikon metrology software x ray XTract principle2Le nouvel outil X.Tract propose une acquisition entièrement automatisée, un puissant traitement des images et une création de rapport détaillée. Avec X.Tract, les utilisateurs accèdent à un meilleur aperçu des encapsulages complexes, comme les PoP (Package on Package), ou les cartes multi couche afin de réduire le nombre de faux rappels et d’augmenter la productivité.

  • Création de micro sections 3D virtuelles de n’importe quelle zone,sans avoir à découper la carte électronique
  • Analyse des cartes électroniques multi-couches là où les rayons pourraient obscurcir les défauts
  • Inspection des encapsulages complexes, comme les BGA, PoP, CSP, QFN, LGA etc.
  • Isoler les vues de chaque côté d’une carte électronique que l’on ne pourrait dissocier en rayons X 2D
  • Détermination de la taille et de la position des vides aux interfaces des jointures ou des brasures en masse
  • Identification aisée des défauts difficiles à voir, comme les HoP (défauts de soudure en rotule), les jointures ouvertes et les fissures
  • Isoler les vues des différentes couches, dans des encapsulages multi-couches, comme les PoP (Package on Package), ou les
    modules multi-puces
  • Permet d’obtenir des vues des composants traversants, des connecteurs et des trous métallisés
  • Identifier les défauts tels que l’alignement et le vrillage
  • Visualiser des couches de cartes individuelles pour analyser les plans et les pistes

Exemples X.Tract

nikon metrology software x ray XTract example1anikon metrology software x ray XTract example1bLes composants en couches sont difficiles à détecter avec une image par rayons X classiquenikon metrology software x ray XTract example1cNavigation couche par couche dans une carte électronique, qui révèle des informations détaillées sur les composants, dans chaque tronçon virtuel.

 

 

 

 

 

 

 

 

nikon metrology software x ray XTract example2anikon metrology software x ray XTract example2bImage 2D par rayons X d’un smartphonenikon metrology software x ray XTract example2cDétail d’une couche avec X.Tractnikon metrology software x ray XTract example2dFort grossissement de BGA, visualisée en 3D

 
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