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X.Tend – Plus rapide avec une meilleure résolution, augmente la capacité de scan par TN

nikon metrology software x ray ct XTend working principle helicalPar comparaison avec le scanning circulaire conventionnel par TN, X.Tend est une méthode d’acquisition par TN qui permet aux clients d’augmenter la hauteur de leurs scans par TN en faisant remonter les échantillons hauts dans le faisceau conique de rayons X pendant la rotation de l’échantillon. Avec X.Tend plus besoin d’effectuer des scans partiels de l’échantillon pour les assembler par la suite.

Avantages

  • Acquisition & traitement plus rapides
    • Plus rapide que plusieurs scans circulaires sous le même grossissement
    • Echantillon plus facile à monter
  • Image de meilleure qualité
    • Pas d’effet parasite du faisceau conique (les résultats sont meilleurs sur une surface horizontale)
    • Pas d’effet parasite de la couronne
    • Pas d’assemblage de scans
  • Meilleure résolution
    • Pas besoin de faire rentrer l’échantillon dans une seule image
    • Scanning d’échantillons hauts sous fort grossissement
 
Caractéristiques clés et avantages
 

X.Tend double la vitesse du processus par TN pour les échantillons hauts

Scanner des échantillons hauts cause souvent un dilemme : faut-il scanner la pièce complète sous un faible grossissement ou scanner l’échantillons en plusieurs fois et assembler les scans avec le logiciel d’analyse ?  Dans le premier cas, la résolution n’est pas bonne et il y a une perte de détails des données tandis que dans le deuxième cas il faut plus de temps pour scanner, puis reconstruire et assembler les scans. Au final, les données montrent des traces d’assemblage. Avec X.Tend plus besoin d’effectuer des scans partiels d’un échantillon pour les assembler par la suite. Les pièces sont également plus faciles à monter car elles se déplacent verticalement dans le faisceau de rayons X. Cela permet de diviser par deux le temps de traitement de l’échantillon tout en fournissant une image de meilleure qualité.

nikon metrology software x ray ct XTend doubles speed

 


Un meilleur aperçu avec une image de meilleure qualité

X.Tend améliore la qualité des images des scans par TN en supprimant les effets parasites du faisceau conique, de la couronne et de l’assemblage des scans, ces effets parasites se manifestant pendant un scan circulaire. X.Tend permet également à l’utilisateur de scanner une pièce près de la source de rayons X, ce qui donne un voxel avec une meilleure résolution. La nouvelle technique de X.Tend engendre des images plus claires et plus faciles à interpréter en ne laissant aucun doute pendant la reconnaissance des défauts, ce qui permet de prendre plus rapidement des décisions ou de démarrer des actions correctives.

nikon metrology software x ray ct XTend cd stack circular scanScan circulaire d’une pile de CD : effet du faisceau conique sur les bords de la pilenikon metrology software x ray ct XTend cd stack xtend scanAcquisition en continu avec X.Tend : pas d’effet parasite du faisceau conique.

 
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