Nous sommes toujours en activité. COVID-19. En savoir plus

Nikon Metrology NV | Europe
Changer la langue
Bienvenue chez Nikon Metrology, veuillez sélectionner votre région et votre langue.
 
 
 
Demande d'informations
 
 

Microscope Electronique à Balayage nouvelle génération

nikon metrology scanning electron microscopes scanning electron JCM 7000

MEB JEOL NeoScope JCM-7000

Le JCM-7000 présente des fonctions automatiques avancées, une platine motorisée et un logiciel qui permettent aux utilisateurs d’accéder à une imagerie simple des échantillons et à une analyse élémentaire quel que soit leur niveau d’expérience.

Le système propose une grande chambre pour les échantillons, des modes de fonctionnement à basse et grande dépression, des détecteurs électroniques secondaires et à rétrodiffusion (SED & BSED), une imagerie 3D en temps réel, des outils métrologiques faciles à utiliser et l’EDS (Spectroscopie à Dispersion d’Energie) totalement intégrée (en option). Le JCM-7000 NeoScope est INTELLIGENT – FLEXIBLE - PUISSANT

 

INTELLIGENT– FLEXIBLE – PUISSANT

  • Intelligent– Les dernières innovations sont intégrées à la plateforme de paillasse pour rendre le Microscope Electronique à Balayage accessible à tous. Toutes les commandes sont à portée de main de l’utilisateur grâce à une interface logicielle intuitive. Les réglages en mode automatique dépendent du type d’échantillon et de l’application pour la formation de l’image en quelques minutes. La navigation en douceur à partir du dessin support ou de l’image optique (en option) vers l’image MEB haute résolution améliore la productivité.

  • Flexible – Choisissez la bonne plateforme. Ajoutez des options comme le système de Navigation de la platine (caméra couleur), le support motorisé de rotation et de pivotement pour la manipulation des échantillons, l’EDS (Spectroscopie à Dispersion d’Energie) pour l’analyse élémentaire et Smile View Map pour la reconstruction des images 3D et l’analyse de la texture des surfaces.

  • Puissant – Source haute résolution au filament de tungstène (W) grossissant jusqu’à 100 000 fois. La grande chambre analytique peut recevoir des échantillons atteignant 80 mm de diamètre et 50 mm de haut. Les détecteurs électroniques secondaires et à rétrodiffusion et les modes de fonctionnement à basse et grande dépression permettent d’étudier de nombreux types d’échantillons. Les détecteurs à rétrodiffusion (BSE) sont compatibles avec l’imagerie 3D afin d’accéder à la connaissance intuitive de la forme des surfaces des échantillons.

 

Fonctions

  • Zeromag - Simplifie la navigation et améliore la cadence de travail en effectuant en douceur la transition entre les images de la caméra couleur (en option) ou le dessin support et les images MEB (Microscope Electronique à Balayage).
  • Montage - Capacité à installer l’assemblage automatisé des images et les cartes EDS de montage automatisé.
  • Plusieurs modes d’imagerie en direct- Imageries SE et BSE simultanées incluant un mélange des signaux et le contrôle par l’utilisateur de la contribution de chaque détecteur.
  • Installation facile- Ce système est compatible avec une sortie électrique standard (aucun circuit spécial n’est exigé).
  • SmileView™ Lab - Le logiciel de gestion des données centrales fait le lien entre l’image SNS (optique), les images MEB, les résultats d’analyse par EDS (Spectrographie à Dispersion d’Energie) et les emplacements. Modèle de rapport intelligent.

 

 
Vidéo
 
Caractéristiques clés et avantages
 

 

Un travail bien plus efficace

Quel corps étranger a été observé le premier avec un microscope optique ? Y a-t-il des problèmes avec la forme de la pièce ? La matière première était-elle contaminée ou hors spécifications ? Le système permet de confirmer rapidement la morphologie et la composition (éléments constitutifs), qui ne peuvent pas être totalement identifiés en utilisant uniquement un microscope optique.

Meilleure efficacité : exemple - Contrôle Qualité

Avec le Microscope Electronique à Balayage, il est possible d’observer le contraste de la composition, impossible à voir avec une image optique, car même avec un grossissement identique on peut obtenir plus d’informations. En mode faible dépression on peut réaliser l’observation et l’analyse sans pré traiter l’échantillon.

  


 

Transition en douceur des images optiques aux images par faisceau d’électrons MEB

holly leaf exampleFeuille de houx à 100 μm et 10 μm.Zeromag (accessoire en option)

Une image optique est acquise automatiquement quand l’échantillon est mis en place. Recherchez le champ de vision sur l’image optique, puis zoomez sur la cible pour obtenir automatiquement une image MEB. Afin d’acquérir rapidement une image MEB quelques étapes suffisent pour déplacer facilement le point d’observation.

salt rock exampleRoche saline à 500 μm et 10 μm.
Mode à faible dépression (LV)

Le JCM-7000 est équipé du mode grande dépression pour observer plus clairement la morphologie des surfaces par MEB mais il est également équipé de deux modes à faible dépression LV pour voir et réaliser l‘imagerie de différents échantillons non conducteurs sans pré traitement.

 


 

screening whilst performing observation with live analysisSélection pendant l'observation avec Live Analysis

Transition en douceur des images par faisceau d’électrons MEB à l‘analyse EDS

Avec Live Analysis l’observation MEB et l’analyse EDS ne se font plus séparément. Le spectre rayons X et les principaux éléments constitutifs s’affichent en temps réel sur l’écran d’observation.

Le JCM-7000 comprend également Live Map pour visualiser la répartition dans l’espace des éléments en temps réel. Live Map augmente la probabilité de trouver des éléments intéressants et de détecter des éléments inattendus.

 

 


 

Création simple des rapports et gestion des données

SMILE VIEW Lab est un programme logiciel de gestion des données totalement intégré, permettant de relier les images optiques, les images MEB, les résultats d’analyse par Spectroscopie à Dispersion d'Energie et les coordonnées correspondantes de la platine  afin de générer rapidement un rapport, de rappeler la position d’un échantillon et les conditions MEB pour des études ultérieures.

Création de rapports sur des lots

A partir de l’écran de gestion des données, l’utilisateur peut revoir ou analyser de nouveau toutes les données et créer des rapports sur des lots à partir des données et des images MEB grâce à l’analyse. Pour ouvrir  l’écran de gestion des données, il faut utiliser le bouton gestion des données ou la liste des données mesurées. Une fois les données sélectionnées, un seul clic suffit pour générer un rapport. Les rapports peuvent être exportés sous PDF, Microsoft Word ou PowerPoint®.

 


 

 
Spécifications

Principales caractéristiques

Grossissement direct De x10 à 10 000
Le grossissement est défini par 128 mm x 96 mm
Grossissement à l’écran De x24 à 202 168
Le grossissement est défini par 280 mm x 210 mm
Mode  Mode grande dépression : image électronique secondaire, image électronique à rétrodiffusion (composition, topographie et ombre, images 3D)
Mode faible dépression : image électronique à rétrodiffusion (composition, topographie et ombre, images 3D)
Tension, à l’accélération 5 kV, 10 kV, 15 kV  (3 niveaux)
Source électronique Filament au tungstène / grille Wehnelt Intégrée
Platine de l’échantillon Entrainement moteur platine
X: 40 mm Y: 40 mm
Taille maxi de l’échantillon Diamètre 80 mm x hauteur 50 mm
Changement d’échantillon Mécanisme à tiroir
Pixels pour l’acquisition des images 540 x 480, 1,280 x 960
2,560 x 1920, 5,120 x 3,480
Fonctions automatiques Alignement, mise au point, stigmateur, luminosité / contraste
Fonctions de mesure Distance entre 2 points, angles, lignes, largeur
Format du fichier BMP, TIFF, JPEG, PNG
Ordinateur PC portable avec Windows® 10
Moniteur 24 pouces
Production du vide Entièrement automatique TMP: 1, RP: 1

 

Exigences relatives à l’installation

Alimentation électrique

Monophasé CA 100 V (120 V, 220 V, 240 V sont acceptés) 50 / 60 Hz
Maximum 700 VA (CA 10 V), 840 VA (CA 120 V)
880 VA (CA 220 V), 960 VA (CA 240 V)

Tolérance sur les écarts de tension 90 à 110 V pour une tension d’alimentation de 100 V
108 à 132 V pour une tension d’alimentation de 120 V
198 à 242 V pour une tension d’alimentation de 220 V
216 à 250 V pour une tension d’alimentation de 240 V
Terre
Salle d’installation de l’appareil Température : 15 à 30 °C
Humidité : 30 à 60% HR (sans condensation)
Champs magnétiques parasites : 0.3 μT maxi (50 / 60 Hz, onde sinusoïdale)
Bureau : 100 kg au moins, rigide
Dimensions de l’unité principale (Largeur) 324 mm x (profondeur) 586 mm x (hauteur) 566 mm
Masse de l’unité principale 67 kg
 
Brochures
Industrial Instruments General Catalogue
Industrial Instruments General Catalogue

en

JEOL NeoScope JCM-7000 SEM
JEOL NeoScope JCM-7000 SEM

en

 
Applications industrielles
 

Brochures

Industrial Instruments General Catalogue
Industrial Instruments General Catalogue

en

JEOL NeoScope JCM-7000 SEM
JEOL NeoScope JCM-7000 SEM

en