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Eclipse MA200 - microscope inversé le plus avancé, dédié à la métallurgie

nikon metrology industrial microscopes inverted MA200L’Eclipse MA200 est un microscope inversé pour l'étude des matériaux, doté d’un design innovant optimisé pour l’imagerie numérique et pour offrir une excellente ergonomie. Le MA200 utilise une intelligence intégrée pour combiner de manière automatique les images capturées avec les données concernant les réglages utilisés pour leur observation afin de permettre une documentation plus complète. De plus, son nouveau design exclusif permet un accès facile à l’échantillon situé sur la platine et au porte-objectifs, le tout avec un encombrement 3 fois moindre que celui du modèle conventionnel.

Applications

  • Métallurgie, fabrication automobile
  • Noduralité de la fonte et analyse des flocons, granulomètrie
  • Analyuse de surface
  • Antennes, Optique
  • Télécommunication et électronique 
  • Téléphones portables, rasoirs et montres
 
Caractéristiques clés et avantages
 

nikon metrology industrial microscopes inverted compact durable design MA200Design compact et durable

Le design compact est composé de tourelles internes qui maintiennent les filtres d’éclairage à l’abri de la poussière pour assurer un éclairage uniforme. En outre, l’alimentation électrique est intégrée afin d’économiser de l'espace

  • Corps principal stable en forme de boîte
  • Commande complète par l’avant
  • Haute visibilité des échantillons
  • Système porte-filtres à tourelle
  • Mécanisme synchronisé A / P
  • Diaphragmes d’ouverture synchronisés avec changement B / D
  • Mécanisme de prévention de la lumière parasite
  • Faible consommation d’énergie mais une luminosité supérieure à celle du modèle 12 V – 100 W.
  • Corps anti-poussière et antistatique
        
       

nikon metrology industrial microscopes user friendly operation MA200Utilisation conviviale

  • Commandes - Toutes les commandes sont situées à l’avant de l’instrument pour faciliter l’utilisation au maximum.
  • Contrôle rapide du statut - Vous pouvez facilement vérifier la position d’observation de l’objectif et de l’échantillon sur le panneau avant du microscope.
  • Mécanisme de verrouillage de l’analyseur/polariseur - Relie la fixation/libération de l'analyseur/polariseur.
  • Commutation fond clair/fond noir avec ouverture automatique - La butée de champ et la butée d’ouverture s’ouvrent automatiquement lorsque l’on passe de fond clair à fond noir. Lorsque l’on repasse à l’observation en fond clair, les paramètres antérieurs de butée de champ et d’ouverture sont reproduits.
  • Mécanisme anti-flash - Les réflexions qui se produisent lors du changement d’objectif sont automatiquement stoppées.

nikon metrology industrial microscopes inverted cfl60 2 MA200Système optique CFI60

Les optiques CFI60-2 de Nikon permettent d’obtenir des images claires à haut contraste en fond clair et des images en fond noir avec une luminosité égale à trois fois celle des modèles conventionnels.

Caractéristiques:

  • Des performances optiques de haut niveau avec toutes les méthodes d’observation
  • Système optimisé pour l’imagerie numérique avancée
  • Obtention d’images plates et nettes
  • Système optique sans plomb
  • Nouveaux objectifs métallurgiques disponibles
  • Un objectif grossissement extra faible 1 x et 2,5x avec une excellente planéité
  • Des objectifs à fort grossissement de haute qualité (50x, 100x)

nikon metrology industrial microscopes illumination MA200Un éclairage uniforme

L’amélioration de l’uniformité de l’éclairage permet l’obtention d’images très claires, en particulier pour l’imagerie numérique.


Large champ d'observation

Le MA200 présente un champ d’observation extralarge avec un diamètre d’oculaire de 25 mm. En y combinant le nouvel objectif 1x, il est possible d'observer un échantillon de 25 mm de diamètre dans un même champ d'observation.


Analyse d'images

L’unité de contrôle de caméra DS-U2 et le logiciel d’imagerie NIS-Elements de Nikon permettent à l’utilisateur d'exécuter toutes les opérations, de la capture d’images de base aux opérations de mesure, d’analyse et de gestion des images capturées.

nikon metrology industrial microscopes status display MA200Affichage du statut

Les informations concernant le facteur de grossissement de l’objectif et les conditions d’éclairage sont affichées sur un écran. Les données d’étalonnage sont modifiées automatiquement lorsque le grossissement de l’objectif est modifié. Cette fonction facilite l’utilisation de la fonction de mesure et des autres modules logiciels optionnels tels que le module d’analyse granulométrique et d’analyse de la fonte du logiciel NIS-Element.

Le réglage de l’éclairage quantitatif, qui est fondamental à l’acquisition des paramètres optimaux pour l’observation, la capture d’image et en particulier la recomposition de grandes images, peut être réalisé par le biais d’un ordinateur.

Recomposition

Il est possible d’assembler des images adjacentes afin de créer une image avec un grand champ. Il est maintenant possible de capturer des images encore plus éclatantes grâce à l’uniformité du système d’éclairage.

Granulométrie

Vous pouvez mesurer les dimensions des grains et afficher les résultats aux normes JIS et ASTM.

Mesure de la nodularité du graphite

Vous pouvez mesurer la nodularité de la fonte rectifiée et afficher les images résultantes selon les normes JIS et ASTM.


nikon metrology industrial microscopes DS L3 camera MA200Capture d'images

Unité de contrôle de caméra DS-L3 

Un écran ACL XGA intégré de 213,4 mm (8,4 po) à haute définition vous permet de visualiser et de discuter de l’échantillon sans devoir regarder dans l’oculaire.

Facilité de sauvegarde/impression des données

Vous pouvez sauvegarder les images capturées sur une clé USB ou une carte CF. En plus de la possibilité d’imprimer les images directement depuis une imprimante compatible PictBridge, vous pouvez également sauvegarder les données sur un serveur par le biais d’un réseau LAN.

Affichage du statut

Les informations concernant l’objectif et les conditions d’éclairage sont affichées sur un écran. Puisque les bonnes données d'étalonnage sont automatiquement modifiées lorsque vous changez de grossissement, vous pouvez facilement utiliser la fonction de mesure simplifiée du DS-L3.

Le réglage de l’éclairage quantitatif peut être effectué manuellement par observation de la valeur de tension. Cette possibilité est fondamentale à l’acquisition des paramètres optimaux pour l’observation et la capture d’image.


Economie d'énergie

La source de lumière halogène de 50 W permet d’atteindre la même luminosité que la précédente source lumineuse de 100 W en consommant moitié moins d’électricité.

nikon metrology industrial microscopes user friendly energy saving MA200


Accessoires

  • Porte-objectifs motorisé de la série LV
  • Nombreux porte-échantillons
  • Colonne diascopique
  • INTENSILIGHT 
  • Module de grossissement
 
Spécifications

Main body

Focusing mechanism
Focusing nosepiece (Fixed stage) Coaxial coarse/fine adjustment knob (torque adjustable)
Coarse adjustment of 4.0 mm per rotation, fine adjustment of 0.2 mm per rotation

Illumination
With flare prevention, Built-in UV cut filter
Field diaphragm: dialing continuous variable (centerable), Aperture diaphragm: dialing continuous variable (centerable)
Filter: Double turret (ND16, ND4/GIF, NCB, Additional option available), Polarizing block (Selectable with or without 1/4 Plate)
Fluorescence filter blocks: B/G/V/BV, Built in 12 V 50 W halogen lamp, C-HGFI HG Fiber Illuminator

Light distribution
Eyepiece tube/Back port: 100/0, 55/45

Système optique

CFI60 /CFI60-2 system

Observation image

Surface Image

Méthode d'observation

Fond clair/noir, polarisation simple/DIC/épifluorescence

Porte-objectifs rotatifs

MA2-NUI5: Bright/Darkfield/ DIC 5 position nosepiece, LV-NU5A: Motorized Bright/Darkfield/DIC 5 position nosepiece
D-NID6: Brightfield 6 position nosepiece (Intelligent), D-NI7: Brightfield 7 position nosepiece (Intelligent)

Platine

MA-SR Rectangular 3-plate Stage
Course: 50 x 50 mm  (includes two stage inserts (ø20mm and 40mm opening) and coaxial control handle on the right side
Dimension: 295 x 215 mm, Course: 50 mm x 50 mm (with distance graduation), Accessoire standard: support d'échantillon unviversel ø22 (avec pince pour échantillon)

Tube trinoculaire

Type Siedentopf avec possibilité de réglage de la distance interpupillaire de 50 à 75 mm

Alimentation électrique

100-240 V, 50-60 Hz

Consommation électrique maximale

1.2 A 75 W

Poids

Environ 26 kg (en fonction de la configuration)

Option

Intermediate magnification
Turret (1x, 1.5x, 2x), Status detection (Output magnification information to main unit)

Scale
MA2-GR Grain Reticle (ASTM E112-63 grain sizing numbers 1 to 8), Grid Reticle (20 lines, 0.5 mm)
MA2-MR Scale Reticle (compatible with 5-100x, Read in um, Dialing System)

 
Brochures
Eclipse MA200-MA100N
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