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Eclipse LV150NL - la rencontre entre l’imagerie numérique et un système optique de pointe avec éclairage à LED

nikon metrology industrial microscopes upright LV150NL

Un microscope à tourelle manuelle répondant aux différents besoins d’observation, d’inspection, de recherche et d’analyse de nombreux domaines industriels. Grâce à une ouverture numérique et une distance de travail sans précédent, ce microscope offre des performances optiques supérieures et une imagerie numérique ultra-efficace.
Taille max. de l’échantillon : 150 x 150 mm

Avantages

  • Statif modulaire adapté à différentes tâches et observations
  • La toute dernière gamme CFI60-2 offre des distances de travail exceptionnellement longues ainsi qu’une correction optimale des aberrations chromatiques
  • Imagerie numérique simple d’utilisation
  • ECLIPSE LV150NL avec éclairage à LED

Applications

  • Antennes
  • Télécommunications & électronique
  • Optiques de télescope
  • Téléphones mobiles, rasoirs électriques et montres
 
Caractéristiques clés et avantages
 

Type de microscope

  • Modèles dédiés à lumière réfléchie
  • Manuel

ECLIPSE LV150NL avec éclairage à LED

Une version du LV150NL respectueuse de l’environnement est également disponible. Celle-ci consomme moins d’énergie grâce à l’éclairage à LED d’une grande longévité.


Statif modulaire adapté à différentes tâches et observations
Compatible avec des observations fond clair, fond noir, polarisation simple, contraste interférentiel différentiel, épifluorescence et interférométrie double bande.

Le boîtier permet des recherches, des analyses et des inspections de pointe dans des domaines extrêmement variés.

 

Méthodes d’observation compatibles :

nikon metrology industrial microscopes upright compatible observation methods LV150NL

*Choisissez la lentille adaptée à chaque observation


Platines compatibles

  • Platine LV-S32 3x2 (course : 75 x 50 mm avec plaque de verre)
    *Peut être équipée de la plaque ESD LV-S32SPL
  • Platine LV-S32 3x2 (course : 75 x 50 mm avec plaque de verre)
    *Peut être équipée de la plaque ESD LV-S32SPL
  • Platine rotative LV-SRP P
  • Platine 2 P-GS2 G (s’utilise avec l’adaptateur de platine LV-SAD)

Nouvelle gamme CFI60-2

La toute dernière gamme CFI60-2 offre des distances de travail exceptionnellement longues ainsi qu’une correction optimale des aberrations chromatiques


La gamme CFI60-2 offre une ouverture numérique et des distances de travail encore jamais atteintes.

 

nikon metrology industrial microscopes upright Eclipse objectives for brightfield observation

Objectives for brightfield observation (epi)


Imagerie numérique simple d’utilisation

nikon metrology industrial microscopes upright digital imagingDès que l’objectif en cours d’utilisation est détecté, des informations relatives à celui-ci s’affichent sur l’unité de commande de la caméra. De plus, les informations sont automatiquement converties en données d’étalonnage adéquates au moindre changement de grossissement.

  • Système de caméra numérique pour microscopie Digital Sight Series
  • Logiciel de traitement d’image « NIS-Elements »
 
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