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Eclipse LV150NA - la rencontre entre l’imagerie numérique et un système optique avancé

nikon metrology industrial microscopes upright LV150NAUn microscope à tourelle motorisée répondant aux différents besoins d’observation, d’inspection, de recherche et d’analyse de nombreux domaines industriels. Grâce à une ouverture numérique et une distance de travail sans précédent, ce microscope offre des performances optiques supérieures et une imagerie numérique ultra-efficace

Taille max. de l’échantillon : 150 x 150 mm

Avantages

  • Statif modulaire adapté à différentes tâches et observations
  • La toute dernière gamme CFI60-2 offre des distances de travail exceptionnellement longues ainsi qu’une correction optimale des aberrations chromatiques
  • Imagerie numérique simple d’utilisation
 
Caractéristiques clés et avantages
 

Type de microscope

  • Modèles dédiés à lumière réfléchie (Reflexion – Diascopie)
  • Motorisé (tourelle)

Platines compatibles

  • Platine LV-S32 3x2 (course : 75 x 50 mm avec plaque de verre)
    *Peut être équipée de la plaque ESD LV-S32SPL
  • Platine LV-S6 6x6 (course : 150 x 150 mm)
    *Peut être équipée du porte-wafer LV-S6WH/de la plaque ESD LV-S6PL
  • Platine rotative LV-SRP P
  • Platine 2 P-GS2 G (s’utilise avec l’adaptateur de platine LV-SAD)

Nouvelle gamme CFI60-2

La toute dernière gamme CFI60-2 offre des distances de travail exceptionnellement longues ainsi qu’une correction optimale des aberrations chromatiques

La gamme CFI60-2 offre une ouverture numérique et des distances de travail encore jamais atteintes.

nikon metrology industrial microscopes upright Eclipse objectives for brightfield observation

Objectives for brightfield observation (epi)


Statif modulaire adapté à différentes tâches et observations

Compatible avec des observations fond clair, fond noir, polarisation simple, contraste interférentiel différentiel, épifluorescence et interférométrie double bande.

Ce microscope permet des recherches, des analyses et des inspections de pointe dans des domaines extrêmement variés.

Méthodes d’observation compatibles :

nikon metrology industrial microscopes upright compatible observation methods LV150N LV150NA

*Choisissez la lentille adaptée à chaque observation


Imagerie numérique simple d’utilisation

nikon metrology industrial microscopes upright digital imagingDès que l’objectif en cours d’utilisation est détecté, des informations relatives à celui-ci s’affichent sur l’unité de commande de la caméra. De plus, les informations sont automatiquement converties en données d’étalonnage adéquates au moindre changement de grossissement.

  • Système de caméra numérique pour microscopie Digital Sight Series
  • Logiciel de traitement d’image « NIS-Elements »
 
Spécifications
Boîtier: Hauteur maximale de l’échantillon : 38 mm (avec la tourelle LVNU5AI U5AI et la platine LV-S32 3x2 / LV-S64 6x4)
* 73 mm avec alimentation électrique interne 12V50W par colonne montante pour molettes de réglage micro et macrométrique et variateur
Gauche : mise au point micro et macrométrique / droite : mise au point micrométrique, course de 40 mm
Mise au point macrométrique : 14 mm/tour (avec réglage du couple, mémorisation du plan de mise au point)
Mise au point micrométrique : 0,1 mm/tour (1 µ/graduation)
Intervalles entre les trous de montage de la platine : 70 x 94 (platine fixée à l’aide de 4 vis M4)
Tourelles: C-N6 ESD Tourelle six positions - ESD, tourelle ESD universelle cinq positions LV-NU5, tourelle ESD cinq positions LV-NBD5 BD, tourelle ESD universelle intelligente cinq positions LV-NU5I
Eclairage épiscopique: LV-UEPI-N
Source de lumière précentrée 12V50W LV-LH50PC avec bouton fond clair/fond noir et diaphragme d’ouverture (centrable) liée, diaphragme de champ (centrable) ; compatible avec filtres ø 25 mm (NCB11, ND16, ND4), polariseur/analyseur, plaque, compensateur de lumière d’excitation ; équipée d’un réducteur de bruit
LV-UEPI2
Source de lumière précentrée 12V50W LV-LH50PC, système d’éclairage précentré à fibre au mercure : C-HGFIE (avec contrôle de l’intensité lumineuse) ; *en option : bouton fond clair/fond noir et diaphragme d’ouverture (centrable) liée, diaphragme de champ (centrable), fonction de changement automatique d’élément optique liée au bouton fond clair, fond noir et épifluorescence ; compatible avec filtres ø 25 mm (NCB11, ND16, ND4), polariseur/analyseur, plaque λ, compensateur de lumière d’excitation ; équipée d’un réducteur de bruit
Têtes porte-oculaire : Tête trinoculaire ESD LV-TI3 (image redressée, champ de vision : 22/25)
Tête trinoculaire inclinable LV-TT2 TT2 (image redressée , champ de vision : 22/25)
Tête binoculaire C-TB (image inversée, champ de vision : 22)
Tête binoculaire P-TB (image inversée, champ de vision : 22)
Tête trinoculaire P-TT2 (image inversée, champ de vision : 22)
Platines: Platine LV-S32 3x2 (course : 75 x 50 mm avec plaque de verre) compatible ESD
Platine LV-S64 6x4 (course : 150 x 100 mm avec plaque de verre) compatible ESD
Platine LV-S6 6x6 (course : 150 x 150 mm) compatible ESD
Oculaires: Oculaires de la gamme CFI
Objectifs: Système optique CFI60-2/CFI60 pour les microscopes industriel ; gamme d’objectifs : combinaisons de différents objectifs en fonction de la méthode d’observation employée
 Performance de l’ESD: 1 000 à 10 V, en 0,2 s (hormis certains accessoires)
Consommation électrique :
1,2 A/75 W
Poids : Environ 8.6kg
 
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