Nous sommes toujours en activité. COVID-19. En savoir plus

x

Choose a country or region to view content specific to your geographic location.

Nikon Metrology NV | Europe




  • Choisissez une langue
  • Global
Demande d'informations
  • Home
  • Produits
    • Métrologie 3DMétrologie 3D
      • Applications grand volume
      • Scanning 3D automatisé
      • Scanning 3D manuel
    • Systèmes mesure vidéoSystèmes mesure vidéo
      • iNEXIV
      • NEXIV
      • Logiciels de métrologie vidéo
    • Microscopes industrielsMicroscopes industriels
      • Microscopes droits
      • Semiconductor microscopes
      • Microscopes inversés
      • Microscopes stéréo
      • Digital Sight Cameras
      • NIS logiciel
      • Microscopes interférométriques lumière blanche
      • Microscopes scanning électroniques
    • Mesure optiqueMesure optique
      • Instruments de mesure optique
      • Instruments de mesure manuels
      • Instruments de microscopie optique de mesure
    • Rayons X et Tomographie NumériqueRayons X et Tomographie Numérique
      • Systèmes de Radioscopie et de Tomographie Numérique à Rayons-X
      • Principaux produits et services à Rayons-X
    • LogicielLogiciel
      • Logiciel nuages points
      • CMM logiciel
      • X-ray & CT logiciel
      • Logiciel imagerie
  • Service et maintenance
    • Service d’assistance aux clientsService d’assistance aux clients
    • FormationFormation
    • Inspection rayons X et par Tomographie NumériqueInspection rayons X et par Tomographie Numérique
    • Services d'inspection sur MMTServices d'inspection sur MMT
    • TéléchargementsTéléchargements
      • BrochuresBrochures
      • Etudes de casEtudes de cas
      • Viewer / Logiciel d'essaiViewer / Logiciel d'essai
      • LicensesLicenses
      • Téléchargements CMM ManagerTéléchargements CMM Manager
      • Articles technologiquesArticles technologiques
  • A propos
    • Histoire de Nikon MetrologyHistoire de Nikon Metrology
    • NouveautésNouveautés
    • EvènementsEvènements
    • WebinairesWebinaires
    • CarrièreCarrière
      • Offres d'emploi
      • Travailler chez NikonTravailler chez Nikon
      • Candidature spontanéeCandidature spontanée
    • GDPRGDPR
    • Partenaires stratégiquesPartenaires stratégiques
    • Déclarations et procéduresDéclarations et procédures
    • Accréditations et certificationsAccréditations et certifications
    • Conditions générales de venteConditions générales de vente
    • Autres sites NikonAutres sites Nikon
  • Contact
  • Produits
  • Microscopes industriels
  • Semiconductor microscopes

Semiconductor microscopes

Nikon Metrology

Vue d'ensemble

Eclipse L200N Series

Eclipse L200N Series

Microscopes d’inspection de masques et wafers de 200 mm pour l’identification des défauts par lumière réfléchie

Eclipse L300N Series

Eclipse L300N Series

Systèmes d’inspection des wafers de 300mm et des masques pour l’identification des défauts de la lumière réfléchie

NWL200

NWL200

Chargeur de wafers de 100 µm pour l’inspection avancée des circuits intégrés

Follow us

  • Twitter
  • Facebook
  • Blog
  • Linkedin
  • Youtube
  • Produits
  • Service et maintenance
  • A propos
  • Contact
  • Nikon Metrology NV
    • Politique de cookies
    • Paramètres de confidentialité
    • Mentions légales
    • Plan du site
    • © 2021 Nikon Metrology NV
  • Home
  • Produits
    • Métrologie 3DMétrologie 3D
      • Applications grand volume
      • Scanning 3D automatisé
      • Scanning 3D manuel
    • Systèmes mesure vidéoSystèmes mesure vidéo
      • iNEXIV
      • NEXIV
      • Logiciels de métrologie vidéo
    • Microscopes industrielsMicroscopes industriels
      • Microscopes droits
      • Semiconductor microscopes
      • Microscopes inversés
      • Microscopes stéréo
      • Digital Sight Cameras
      • NIS logiciel
      • Microscopes interférométriques lumière blanche
      • Microscopes scanning électroniques
    • Mesure optiqueMesure optique
      • Instruments de mesure optique
      • Instruments de mesure manuels
      • Instruments de microscopie optique de mesure
    • Rayons X et Tomographie NumériqueRayons X et Tomographie Numérique
      • Systèmes de Radioscopie et de Tomographie Numérique à Rayons-X
      • Principaux produits et services à Rayons-X
    • LogicielLogiciel
      • Logiciel nuages points
      • CMM logiciel
      • X-ray & CT logiciel
      • Logiciel imagerie
  • Service et maintenance
    • Service d’assistance aux clientsService d’assistance aux clients
    • FormationFormation
    • Inspection rayons X et par Tomographie NumériqueInspection rayons X et par Tomographie Numérique
    • Services d'inspection sur MMTServices d'inspection sur MMT
    • TéléchargementsTéléchargements
      • BrochuresBrochures
      • Etudes de casEtudes de cas
      • Viewer / Logiciel d'essaiViewer / Logiciel d'essai
      • LicensesLicenses
      • Téléchargements CMM ManagerTéléchargements CMM Manager
      • Articles technologiquesArticles technologiques
  • A propos
    • Histoire de Nikon MetrologyHistoire de Nikon Metrology
    • NouveautésNouveautés
    • EvènementsEvènements
    • WebinairesWebinaires
    • CarrièreCarrière
      • Offres d'emploi
      • Travailler chez NikonTravailler chez Nikon
      • Candidature spontanéeCandidature spontanée
    • GDPRGDPR
    • Partenaires stratégiquesPartenaires stratégiques
    • Déclarations et procéduresDéclarations et procédures
    • Accréditations et certificationsAccréditations et certifications
    • Conditions générales de venteConditions générales de vente
    • Autres sites NikonAutres sites Nikon
  • Contact
Demande d'informations
  • Choisissez une langue
  • Global

Demande d'informations

Nous vous remercions de remplir les informations suivantes pour accéder au document demandé.


Champ invalide : Prénom
Champ invalide : Nom
Champ invalide : E-mail
Champ invalide : Entreprise
Champ invalide : Pays
Champ invalide : Etat
Champ invalide : Code postal
Champ invalide : J'ai lu et j'accepte la politique de confidentialité de Nikon Metrology
Champ invalide : TEXT_DOWNLOAD_OPT_IN

Download