Sistemas configurables de área grande
Amplia gama de opciones para rayos X de precisión y escaneo TC

Los sistemas de escaneo de rayos X y TC de área grande de Nikon Metrology ofrecen tecnología de rayos X líder en la industria, diseño de manipulador de gran precisión, software intuitivo y modos de escaneo avanzados para producir los sistemas TC estándar más competentes disponibles. Con un gran volumen de inspección, estos sistemas admiten múltiples fuentes y detectores y se pueden configurar a la medida para adaptarse a una variedad de aplicaciones en la industria aeroespacial, automotriz, manufactura, electrónica, fundición, plásticos, productos de consumo y mucho más. El escaneo TC de rayos X de precisión permite aplicaciones tales como ingeniería inversa, comparación de pieza-a-CAD, análisis detallado de fallas, investigación avanzada de materiales y estructuras biológicas, archivado digital y mucho más.

 

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Descripción general del producto

La gama de sistemas de área grande se puede construir en una multiplicidad de configuraciones para adaptarse a las aplicaciones industriales más exigentes, desde muestras pequeñas de baja densidad hasta materiales grandes de alta densidad.

 

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Fuente de microfoco única de 450kV y objetivos giratorios
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Versatilidad inigualable
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CLDA exclusivo para rayos X y TC sin dispersión

 

 

Beneficios y características

 


nikon metrology x ray les high energyx raysourcetechnologyTecnología de la fuente de rayos X de alta potencia

La avanzada tecnología de la fuente de rayos X, diseñada internamente y líder mundial; clasificada desde 180 kV hasta 450 kV, es la base de una calidad de imagen superior en los Sistemas TC de rayos X de Nikon Metrology. La única fuente de rayos X microfoco de 450kV de gran energía en el mundo y la tecnología de objetivo giratorio de alta luminosidad dan como resultado una resolución de imagen superior a todos los demás sistemas microfoco en el mercado y mucho mejor que la que se puede lograr con fuentes minifoco. Esto permite una adquisición de datos de TC más rápida al tomar más radiografías en un tiempo determinado sin sacrificar la calidad de la imagen o una mayor precisión y resolución de los datos al mismo tiempo. Se pueden combinar una fuente microfoco de 450 kV y una fuente minifoco de 450 kV en una configuración del sistema.


 

 



nikon metrology x ray les unrivalledsystemversatilityVersatilidad inigualable del sistema

Las opciones de las series E1, M2, C1, C2 y C3 son soluciones personalizables, desde configuraciones de recinto más pequeño con fuente única hasta configuraciones de recinto más grande con fuente triple, así los usuarios pueden encontrar un sistema adecuado para la aplicación. Los sistemas pueden instalarse en un recinto de radiación existente o suministrarse con un nuevo recinto modular con diseño ergonómico y funciones de usuario intuitivas.

Las opciones de detector de panel plano con escaneo de panel (Panel-Scan) rápido, Offset.CT y capacidades X.Tend helicoidales para todos los tamaños de muestras se suman a la versatilidad, mientras que se puede especificar personalización adicional para atender muestras pesadas, configuraciones de carga o altura extendida.

La base de granito de grado metrológico proporciona un escaneo de gran precisión, con las series E y M que tienen un recorrido vertical en el manipulador de muestras, y la serie C tiene una fuente de rayos X vertical intuitiva y un movimiento del detector, que se adapta a cualquier aplicación.

 

 



nikon metrology x ray sources graph3Detectores avanzados y modos de escaneo

Los sistemas de área grande se pueden configurar con una selección de detectores grandes de alta calidad de 16 bits de hasta 4000x4000 píxeles para una calidad de imagen óptima. Estos detectores se pueden configurar con una distancia variable entre la fuente y el detector, lo que significa que cualquier imagen de muestra se puede optimizar para contraste y resolución.

Para aumentar la versatilidad, la gama de modos de escaneo avanzados de Nikon permite una calidad de imagen superior incluso con muestras grandes, altas, anchas o densas. El modo de escaneo de panel rápido permite un campo de visión extendido para muestras más anchas, mientras que X.Tend permite a los usuarios extender la altura de una TC a través de múltiples campos de visión en un solo escaneo continuo sin interrupciones, mejorando la resolución para muestras altas. Las opciones del detector doble pueden combinar detectores de panel plano con tecnología del detector CLDA, para TC sin dispersión incluso en muestras densas.

 

 



nikon metrology x ray xth225 versatilex rayctsolutions 2Software para ayudar en todas las aplicaciones

Una Interfaz Gráfica de Usuario (GUI) intuitiva, ofrece flujos de trabajo rápidos guiados por menús que se adaptan a cualquier usuario. Hay personalización completa para operadores expertos, así como escaneo por lotes y perfiles precargados para principiantes. Además de los modos de escaneo avanzados, los sistemas de área grande vienen con el motor de reconstrucción avanzado de Nikon, para tiempos de reconstrucción líderes en el mundo y generación de datos de alta calidad.

El control a través de la comunicación IPC permite análisis y flujos de trabajo automatizados, con salida de datos al software de visualización y análisis líder en la industria. Hay disponibles herramientas de análisis y soluciones de software personalizables para análisis de muestras específicas.

 


 

Especificaciones

nikon metrology m1
M2
Sistema flexible para una variedad de aplicaciones
  nikon metrology c1
C1
Metrología TC de rayos X de alta precisión
  nikon metrology c2
C2
Fuente de kV alto para piezas grandes y densas
Peso de la pieza artartartart   Peso de la pieza artartartart   Peso de la pieza artartartart
Múltiples fuentesartartartart   Múltiples fuentesartartartart   Múltiples fuentesartartartart
Múltiples detectores art   Múltiples detectores -   Múltiples detectores nikon metrology ok
TC sin dispersión art   TC sin dispersión -   TC sin dispersión nikon metrology ok 
Cambio de panel art   Cambio de panel art   Cambio de panel art 
Tamañoartartartart   Tamañoartartartart   Tamañoartartartart