XT H 225 y MCT225
Objetivo giratorio único y soluciones flexibles

La gama de sistemas de 225kV líderes en la industria de Nikon Metrology ofrece la máxima flexibilidad y versatilidad para la Inspección TC de rayos X y la metrología. Las series XT H 225, XT H 225 ST 2x, MCT y XT H 320 ofrecen soluciones personalizables para aplicaciones de rayos X 2D y tomografía computarizada (TC) 3D. Estos sistemas son suministrados a una amplia base de clientes respaldados por soporte global y pueden configurarse para adaptarse a una variedad de aplicaciones en los sectores automotriz, aeroespacial, energético, médico, dental, manufactura aditiva, electrónica, del consumidor y muchos otros sectores.

 

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Descripción general del producto

La versátil serie XT H 225 está controlada por el software Inspect-X líder en la industria, una Interfaz Gráfica de Usuario (GUI) avanzada de 6a. generación que proporciona flujos de trabajo intuitivos adaptados a todos los usuarios. Junto con los tiempos de reconstrucción líderes en el mundo y el software de vanguardia para visualización y análisis, la serie XT H ofrece el paquete completo para la inspección TC de rayos X.

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Tecnología única de objetivo giratorio
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Soluciones versátiles de TC de rayos X
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TC para metrología


Beneficios y características


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Fuente de rayos X para cada aplicación

La parte fundamental de una calidad de imagen superior de Nikon Metrology, es la tecnología de la fuente de rayos X que es líder a nivel mundial. Donde los modelos de la competencia requieren configuraciones de doble tubo para mayor flexibilidad, el diseño propio de la fuente de rayos X única de Nikon, permite que hasta 5 cabezas de objetivo encajen en la misma base del tubo de rayos X, lo que resulta en una flexibilidad y un rendimiento únicos desde un solo tubo.

Los objetivos de rayos X fácilmente intercambiables permiten la optimización para una amplia gama de muestras, ofreciendo un objetivo de transmisión con reconocimiento de características submicrónicas, a través del objetivo de reflexión de 225kV (con la opción única del objetivo de múltiples metales), al único diseño de objetivo giratorio del mundo para un rendimiento excepcional.

Finalmente, el objetivo microfoco de 320kV proporciona una capacidad de penetración adicional para muestras más densas. El tubo único y adaptable proporciona una calidad de imagen excelente en múltiples potencias y resoluciones como ningún otro, sin agregar mantenimiento adicional e innecesario y costo de un enfoque de doble tubo.



nikon metrology x ray xth225 versatilex rayctsolutionsSoluciones versátiles de TC de rayos X

Las series XT H 225 y 320 permiten personalizar el tamaño del sistema, el peso de la muestra, la potencia de la fuente y la resolución, con una selección de detectores de pantalla plana de alta calidad. Los avances intuitivos de hardware y software permiten opciones como la distancia ajustable de la fuente al detector para optimizar la calidad de la imagen y los modos de escaneo como el X.Tend helicoidal para imágenes de alta resolución de muestras altas que abarcan múltiples campos de visión.

El sistema MCT 225 grado metrología está configurado para aplicaciones de medición de alta precision, con modificaciones de hardware y procedimientos de alineación de precisión con verificación MPE de acuerdo con VDI/VDE 2630. El software avanzado Inspect-X, con flujos de trabajo intuitivos, visualizaciones gráficas y capacidades de automatización, controla todos los sistemas de la gama.

 



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Objetivo giratorio único

Nikon Metrology es la única empresa del mundo que suministra sistemas TC de rayos X con tecnología de objetivo giratorio. Otros productos en el mercado, que utilizan materiales absorbentes de calor, requieren períodos de enfriamiento y pueden tener limitaciones de energía, pero el exclusivo objetivo giratorio de 225kV permite un funcionamiento continuo en todo su rango de potencia hasta 450W para una productividad de inspección superior.

La tecnología de objetivo giratorio refrigerado por líquido agrega más capacidades de potencia, resolución y reducción del tiempo de escaneo. Dispersa eficientemente el calor generado cuando el haz de electrones golpea la superficie para generar fotones de rayos X, aumentando hasta 5 veces el flujo, permitiendo una resolución hasta 3 veces mayor para la misma potencia, o permitiendo que se recopilen datos de 3 a 5 veces más rápido para la misma resolución.



semi automated ct 5

Automatización e integración

La serie XT H ofrece modos de automatización para maximizar la productividad de la TC. Los flujos de trabajo de producción automatizados son totalmente personalizables, con escaneo, reconstrucción y análisis de datos automatizados. El software CT Pro interno ofrece tiempos de reconstrucción líderes en el mundo realizados por las especificaciones de la computadora de alto rendimiento configuradas por expertos de Nikon Metrology, con opciones de mejora de imagen y eliminación de artefactos incluidas como estándar.

Con control total a través de la comunicación IPC, la serie XT H se puede configurar con cargadores automáticos y actualización de robots para una automatización completa y una integración perfecta en una línea de producción. Después de proporcionar una calidad de imagen superior y tiempos de reconstrucción líderes, las herramientas de análisis personalizables están disponibles con salida de datos compatible con el software interno y de terceros, líder en la industria para automatizar el análisis específico de muestras.

 


 

Specifications

 

nikon metrology x ray xth225 xt h 225 
XT H 225
Para inspección de piezas pequeñas a medianas
nikon metrology x ray xth225 xt h 225 st
XT H 225 ST 2x
Sistema flexible para una variedad de aplicaciones
nikon metrology x ray xth225 mct 225
MCT225
Metrología TC de rayos X de alta precisión
nikon metrology x ray xth225 xt h 320
XT H 320
Fuente de kV alto para piezas grandes y densas
Tamaño de la piezaartartartart Tamaño de la piezaartartartart Tamaño de la piezaartartartart Tamaño de la piezaartartartart
Densidad de la piezaartartartart Densidad de la piezaartartartart Densidad de la piezaartartartart Densidad de la piezaartartartart
Precisiónartartartart Precisiónartartartart Precisiónartartartart Precisiónartartartart
Potenciaartartartart Potenciaartartartart Potenciaartartartart Potenciaartartartart
Versatilidadartartartart Versatilidadartartartart Versatilidadartartartart Versatilidadartartartart
Tamañoartartartart Tamañoartartartart Tamañoartartartart Tamañoartartartart

 

Folletos