XT H 450
Sistema único TC de rayos X microfoco de 450kV para inspeccionar componentes densos

El sistema TC de rayos X de Nikon Metrology XT H 450 con la exclusiva fuente de rayos X microfoco de 450kV ofrece la potencia necesaria para penetrar piezas de alta densidad, mientras se logra una precisión micrónica. Utilizado junto con una matriz de diodos lineales curvos (CLDA) patentada, la XT H 450 puede producir radiografías sin dispersión y volúmenes de imágenes 3D de estructuras densas y complejas.

El XT H 450 es ideal para inspeccionar de forma no destructiva álabes de turbina de aleación de metal de tamaño pequeño a mediano, piezas metálicas fabricadas con manufactura aditiva o fundidas y otros objetos densos, lo que permite a los usuarios visualizar, analizar y medir geometría compleja, superficies y componentes internos sin seccionar físicamente la muestra.

 

 

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Descripción general del producto

El sistema XT H 450 ofrece la única fuente de rayos X microfoco de 450kV de alta potencia del mundo, con repetibilidad y precisión de 25 micras. El sistema genera impresionantes imágenes en 2D y 3D con una relación señal-ruido inigualable, con flexibilidad para integrar múltiples detectores. El XT H 450 es perfecto para un alto rendimiento, alta precisión y una amplia gama de aplicaciones.

 

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Fuente de rayos X microfoco de 450 kV única en el mundo
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CLDA exclusivo para rayos X y TC sin dispersión
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Inspección completamente automatizada

 

 


Benefits & features

 


 nikon metrology x ray xth450 highbrilliance450kvrotatingtargetsFuente de rayos X microfoco de 450 kV

La fuente de rayos X microfoco de 450 kV/450 W es la única en el mundo que ofrece una energía tan alta con una resolución bastante alta también, brindando una repetibilidad y precisión de 25 micras. El tamaño del punto es muchas veces más pequeño que el de las fuentes minifoco, por lo que el nivel de detalle que captura es incomparable. Los usuarios se benefician de una mejor visualización a través de una resolución y precisión superiores, así como la capacidad de abordar una amplia gama de aplicaciones.

El XT H 450 tiene un diseño de tubo abierto, lo que significa que el filamento se puede reemplazar de modo económico en minutos. En contraste, los tubos sellados son costosos de reemplazar cuando fallan. El cambio de filamento de tubo abierto de manera interna reduce el tiempo de inactividad a unos cuantos minutos en lugar de días o semanas, lo que permite una vida útil prolongada, una calidad de imagen constante y un costo de propiedad reducido. La fuente de rayos X de 450kV está disponible con tecnología de objetivo giratorio única (ver a continuación).

 



nikon metrology x ray sources graphObjetivos giratorios de 450 kV de alta luminosidad

La fuente de rayos X de 450kV de alta luminosidad de Nikon Metrology utiliza tecnología de objetivo giratorio, única en los sistemas de microfoco industriales. El objetivo giratorio disipa el calor durante la generación de rayos X, lo que permite un tamaño de punto más pequeño para energías y potencias más altas, lo que, a la larga, conduce a imágenes de mayor resolución y alto contraste.

El objetivo giratorio refrigerado por líquido significa que la potencia se puede aumentar cuatro veces sin degradar el tamaño del punto. Esto permite una adquisición de datos de TC más rápida al tomar más radiografías en un tiempo determinado sin sacrificar la calidad de la imagen, o una mayor precisión y resolución de los datos al mismo tiempo. La fuente de microfoco de 450kV proporciona una calidad de imagen óptima produciendo menos desenfoque geométrico, lo que permite la ampliación de la imagen sin sacrificar la calidad.

 



nikon metrology x ray software inspect x3d standardTecnología de detector única

El sistema XT H 450 está disponible con un detector de panel plano de alta calidad y el CLDA. Su diseño único permite una trayectoria de rayos X constante, con cristales más largos diseñados específicamente para mejorar la sensibilidad de los rayos X hasta 450kV y por lo tanto, aumentar la relación señal-ruido. El diseño de este detector también optimiza la recopilación de rayos X sin la captación de rayos X dispersos no deseados, que son causados ​​por muestras densas. Se entregan una nitidez y un contraste de imagen impresionantes, ya que se evitan la contaminación de la imagen y la reducción de contraste asociada, proporcionando información crítica sobre el componente que se está examinando.

La combinación de detectores permite un alto rendimiento y una calidad de imagen impresionante, lo que permite que la geometría interna y externa de una pieza se mida de manera eficiente y no destructiva, lo que ahorra el tiempo y el costo de seccionar muestras para el control de calidad. La precisión de medición superior y la capacidad de detección de pequeñas características significa que las piezas de precisión, los componentes fabricados con manufactura aditiva, las piezas fundidas y los ensamblajes complejos se pueden inspeccionar con rapidez.

 


 

Especificaciones

nikon metrology xth320 
XT H 320
Fuente de kV alto para piezas de densidad media
  nikon metrology xth450
XT H 450
Fuente de kV alto para piezas de alta densidad
Tamaño de la pieza artartartart   Tamaño de la pieza artartartart
Densidad de la pieza artartartart   Densidad de la pieza artartartart
Peso de la pieza artartartart   Peso de la pieza artartartart
Detector doble -   Detector doble nikon metrology ok
TC sin dispersión -   TC sin dispersión nikon metrology ok
Tamaño artartartart   Tamaño artartartart