XT V 130 y XT V 160
Para producción, control de calidad, análisis de fallas, detección de defectos, investigación de materiales y mucho más

La gama de sistemas XT V comprende sistemas de inspección TC de rayos X de clase mundial de diseño ergonómico avanzado, que satisfacen la necesidad actual de inspección de alto rendimiento de componentes cada vez más complejos con tolerancias cada vez más estrictas.

Los sistemas son de uso intuitivo y aprovechan el software líder en la industria para maximizar la productividad de todos los operadores, con una necesidad mínima de capacitación. Los modos de inspección automatizados permiten la inspección de muestras a tasas altas de rendimiento, con informes intuitivos de éxito/fallo.

Con reconocimiento de características submicrónicas, los sistemas de inspección XT V son aplicables a una amplia gama de aplicaciones e industrias, incluido el ensamblaje de PCB, inspección BGA, diseño de chips, fabricación de componentes médicos y automotrices, aeroespacial, productos de consumo y mucho más.

 

 

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Descripción general del producto

La serie XT V incluye la fuente de rayos X patentada Nikon Xi Nanotech combinada con detectores de panel plano líderes en la industria para producir la mejor calidad de imagen de su clase, junto con una transición perfecta entre radiografía, tomografía 3D y laminografía 3D en un solo sistema.

 

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Fuente de rayos X Nanotech Xi
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Imágenes concéntricas verdaderas
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Calidad de imagen optimizada


Beneficios y características

 


nikon metrology x ray sources 160kvSistema de inspección superior

La fuente de rayos X patentada Nikon Xi Nanotech tiene un diseño de tubo abierto, lo que permite un ciclo de vida ilimitado y evita costosos reemplazos asociados con los tubos sellados. La fuente de rayos X tiene un diseño de generador integrado único, que evita el mantenimiento de cables de alto voltaje y ofrece energía ilimitada y un bajo costo de propiedad. Los ensamblajes de filamentos reemplazables por el usuario simplemente hacen 'clic' en su lugar y el software intuitivo realiza la calibración automatizada de la alineación de los filamentos para un fácil mantenimiento del sistema y una calidad de imagen constante, año tras año.

Los sistemas XT V cuentan con una energía máxima de 160kV, una potencia de objetivo real de 20W, una ampliación geométrica superior a 2000x y un reconocimiento de defectos submicrónicos. Los sistemas de inspección XT V albergan tamaños de muestra de hasta 711mmx762mm (28x30") y un peso máximo de muestra de 5kg, con opciones de detector que permiten grandes áreas de detección (25cmx20cm) y una imagen eficiente de hasta 56fps.

 



nikon metrology x ray xtv maximum productivityinminimuminspectiontimeMáxima productividad en un tiempo mínimo de inspección

La verdadera imagen concéntrica es una característica única que viene como estándar con la serie XT V, lo que permite que cualquier región de interés (ROI) permanezca a la vista con cualquier combinación de rotación, inclinación y ampliación, gracias al software y hardware inteligentes.

Las vistas extremas en ángulo oblicuo de hasta 90° a través de la muestra se logran fácilmente en cualquier rotación de la muestra de 360​​°, lo que hace que la inspección de ensamblajes complejos y de capas múltiples sea una tarea sencilla para cualquier usuario. La plataforma programable inteligente de 5 ejes tiene una bandeja de fibra de carbono resistente para manipulación de muestras sin colisiones, incluso con la máxima ampliación. La fuente de rayos X intuitiva y el movimiento del detector se controlan mediante la navegación con joystick para obtener imágenes de rayos X en tiempo real sin problema.

 

 



nikon metrology x ray software cclear 1

Software intuitivo avanzado

El software Inspect-X líder en la industria se suministra como estándar con la serie XT V. El motor de captura de imágenes C.Clear de Nikon se adapta de forma inteligente a las condiciones cambiantes de los rayos X y las posiciones de las muestras, ajustando automáticamente los controles de la imagen, el contraste y el brillo para proporcionar las imágenes más claras y nítidas. Las barras de herramientas de acceso rápido están disponibles para el análisis de defectos de última generación, con herramientas dedicadas para la medición de muestras y módulos de análisis para ensamblajes de PCB.

Inspect-X permite la inspección en modo de automatización para maximizar la productividad; con informes automatizados en un formato que se puede abrir en cualquier PC, una interfaz gráfica intuitiva para configurar la inspección, optimización de éxito/fallo y verificaciones visuales opcionales durante las rutinas de inspección automatizadas. La inspección 3D se realiza con laminografía TC y X.Tract para permitir cortes digitales en cualquier orientación para una comprensión completa de la geometría de los componentes 3D.

 

 


 

Specifications

nikon metrology xtv130c
XT V 130C
Inspección de rayos X de componentes electrónicos
  nikon metrology xtv160
XT V 160
Inspección avanzada de rayos X de alta precisión
Potencia artartartart   Potencia artartartart
Resolución artartartart   Resoluciónartartartart
Campo de visión artartartart   Campo de visión artartartart
TC listo nikon metrology ok   TC listo nikon metrology ok
X.Tract listo -   X.Tract listo nikon metrology ok

 

Folletos

Estudios de casos