XT H 225 ST 2x
Productividad sin compromiso

Durante muchos años, la TC (Tomografía Computarizada) por rayos X se ha utilizado en los laboratorios para inspeccionar el interior de muestras como fósiles y artefactos. Más recientemente, esta valiosa tecnología se ha abierto camino en el ambiente de producción para aplicaciones de control de calidad. Es capaz de detectar de forma no destructiva huecos, rebabas, grietas y otras imperfecciones dentro de los componentes y ensamblajes, incluidos los que se han fabricado con manufactura aditiva. También sirve como herramienta de metrología para asegurar el cumplimiento dimensional, tanto interna como externamente, con un alto grado de precisión.

Ahora bien, los fabricantes ya no solo están encontrando fallas en un proceso de manufactura. La utilidad de la TC va aún más allá de la planta de producción, ya que permite que una línea de producción se ajuste continuamente en tiempo real para evitar que los componentes se salgan de  tolerancia. Al combinar hardware exclusivo con un software innovador, la XT H 225 ST 2x ofrece la eficiencia, confiabilidad y precisión necesarias para estas aplicaciones de producción. Durante todo el tiempo de lanzamiento de nuevos productos de un usuario, todas las fases son apoyadas, desde la I+D (Investigación y Desarrollo) hasta la configuración de la línea de producción y de las pruebas previas a la serie hasta la producción completa.

 


Descripción general del producto

La integración de funciones líderes en la industria en el sistema de TC por rayos X microfoco XT H 225 ST 2x, permite duplicar la velocidad de adquisición de datos y por lo tanto, la productividad de la inspección. Esto es el resultado del uso de tecnología avanzada de detectores combinada con nuevas funciones que incluyen Half.Turn y Rotating.Target 2.0.

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ROTATING.TARGET 2.0
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HALF.TURN, FASTER CT ACQUISITION
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SMART.FILAMENT, DOUBLED FILAMENT LIFETIME


Beneficios y características


nikon metrology xth225st2x halfturn

Half.Turn CT, adquisición de TC más rápida

En vez de girar la muestra bajo investigación 360 grados, mientras que los rayos X dirigidos a ella son absorbidos o pasan al detector, Nikon Metrology ha ideado un método que permite obtener datos suficientes girando la muestra un poco más de 180 grados.


Al tener el control completo del desarrollo de software de reconstrucción, líder en el mundo y desarrollado internamente; ha facilitado el avance de Half.Turn, ya que permitió la introducción de un nuevo cálculo automático del centro de rotación junto con la optimización del algoritmo de reconstrucción. Juntos eliminan los artefactos introducidos girando una muestra menos de 360 ​​grados. Como consecuencia, una imagen es producida automáticamente sin pérdida de calidad o precisión a partir de aproximadamente la mitad de los datos adquiridos habitualmente con la TC convencional.



nikon metrology x ray sources graph1Objetivo giratorio único

 

Nikon Metrology es la única empresa del mundo que suministra sistemas TC de rayos X con tecnología de objetivo giratorio. Otros productos en el mercado, que utilizan materiales absorbentes de calor, requieren períodos de enfriamiento y pueden tener limitaciones de energía, pero el exclusivo objetivo giratorio de 225kV permite un funcionamiento continuo en todo su rango de potencia hasta 450W para una productividad máxima de inspección.

La tecnología del objetivo giratorio refrigerado por líquido agrega más capacidades de potencia, resolución y reducción del tiempo de escaneo. Dispersa eficientemente el calor generado cuando el haz de electrones golpea la superficie para generar fotones de rayos X, aumentando el flujo hasta 5 veces, permitiendo una resolución hasta 3 veces mayor para la misma potencia, o permitiendo que se recopilen datos de 3 a 5 veces más rápido para la misma resolución.

 



nikon metrology xth225st2x smartfilamentAuto.Filament Control y Quick.Change

Los rayos X microfoco de alta resolución comienzan con electrones emitidos por un filamento delgado que debe reemplazarse periódicamente. Es conveniente que el filamento sea cambiado con menos frecuencia, ya que significa que la disponibilidad del sistema es mayor.
Hay disponibles filamentos de larga duración, pero son más gruesos, por lo que se pierde la naturaleza de la alta resolución de los rayos X microfoco. Con la XT H 225 ST 2x, el usuario ya no tiene que elegir entre filamentos de alta resolución y de larga duración.

Auto.Filament  controla de forma inteligente la fuente de rayos X para duplicar la vida útil del filamento y aumentar la disponibilidad del sistema. Nikon Metrology es capaz de implementar estos algoritmos ya que sus fuentes se diseñan y fabrican internamente, proporcionando la capacidad y la experiencia para controlar la fuente de tal manera que se incremente la vida operativa.

Cuando el filamento tiene que ser reemplazado, el tiempo de inactividad se reduce considerablemente con la introducción de las copas de filamento Quick.Change plug-and-play. Este procedimiento conveniente y altamente repetible elimina el error humano. Además, los propios filamentos han sido alineados y acondicionados por los ingenieros de rayos X de Nikon Metrology para ofrecer un rendimiento óptimo.

 



nikon metrology xth225st2x localcalibrationLocal.Calibration, mediciones TC de alta precisión

Local.Calibration permite una calibración rápida y automatizada del tamaño del vóxel en cualquier posición de escaneo TC, en lugar de que el usuario tenga que realizar la función manualmente. Conduce a una mejora radical en la precisión de la medición para aplicaciones de metrología. Otras ventajas son que el procedimiento está descalificado y la precisión dimensional es detectable. Como la posición del escaneo TC se calibra con referencia a un artefacto conocido, las mediciones se pueden realizar con un alto nivel de confianza.

 



nikon metrology x ray xth225 x raysourceforeveryapplication

Fuente de rayos X para cada aplicación

La parte fundamental de una calidad de imagen superior de Nikon Metrology, es la tecnología de la fuente de rayos X que es líder a nivel mundial. Donde los modelos de la competencia requieren configuraciones de doble tubo para mayor flexibilidad, el diseño de la fuente de rayos X único y propio de Nikon de la XT H 225 ST 2x, permite que se ajusten hasta 4 cabezales de objetivo en la misma base del tubo de rayos X, dando como resultado flexibilidad y rendimiento con un solo tubo.

Los objetivos de rayos X fácilmente intercambiables permiten la optimización para una amplia gama de muestras, ofreciendo un objetivo de transmisión con reconocimiento de características submicrónicas, a través del objetivo de reflexión de 225kV (con la opción única de objetivo de múltiples metales), al diseño único de objetivo giratorio del mundo para un rendimiento excepcional.



nikon metrology x ray xth225 semi automated CT 5Automatización e integración

La serie XT H ofrece modos de automatización para maximizar la productividad de la TC. Los flujos de trabajo de producción automatizados son totalmente personalizables, con escaneo, reconstrucción y análisis de datos automatizados. El software CT Pro interno ofrece tiempos de reconstrucción líderes en el mundo realizados por las especificaciones de la computadora de alto rendimiento configuradas por expertos de Nikon Metrology, con opciones de mejora de imagen y eliminación de artefactos incluidas como estándar.

Con control total a través de la comunicación IPC, la serie XT H se puede configurar con cargadores automáticos y actualización de robots para una automatización completa y una integración perfecta en una línea de producción. Después de proporcionar una calidad de imagen superior y tiempos de reconstrucción líderes, las herramientas de análisis personalizables están disponibles con salida de datos compatible tanto con el software interno como con todo el software de terceros líder en la industria, para automatizar el análisis específico de la muestra.



 

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