Software Inspect-X
Rayos X y tomografía computarizada (TC) 3D

Inspect-X es un software desarrollado por Nikon, de 6a. generación, líder en la industria para sistemas TC de rayos X. Diseñado en función a la experiencia del usuario, Inspect-X es una interfaz gráfica de usuario intuitiva y avanzada que agiliza los flujos de trabajo para una inspección TC de rayos X más productiva. Inspect-X para escaneo TC en el XT H y la gama de sistemas de área grande (LES) presenta flujos de trabajo fáciles de usar para simplificar y optimizar la inspección TC de rayos X de cualquier muestra. Inspect-X ofrece visualización interactiva para una calidad de imagen perfecta, al mismo tiempo que ofrece soluciones automatizadas y modos de escaneo avanzados para producir datos de alta resolución, alto contraste y alta calidad.


Beneficios y características


nikon metrology x ray software inspect x3d intuitivectworkflowFlujo de trabajo TC intuitivo

Inspect-X permite una transición perfecta entre la radiografía y la tomografía computarizada (TC), todo en un software intuitivo. El motor de captura de imágenes de Nikon C.Clear ayuda a proporcionar las imágenes más claras y nítidas con mejoras y filtros en tiempo real para producir impresionantes imágenes de radiografía de rayos X digitales.

Los usuarios pueden utilizar la misma interfaz gráfica intuitiva para perfeccionar la calidad de la imagen para TC 3D, con flujos de trabajo fáciles de usar. Los usuarios pueden optimizar la calidad de la imagen utilizando representaciones visuales de contraste y resolución de la imagen. La optimización automática del número de proyección ayuda a los usuarios a maximizar la calidad de la imagen de las muestras a cualquier ampliación. Con múltiples niveles de usuario y perfiles con capacidades para guardar, cargar, archivar y analizar por lotes, Inspect-X es perfecto para cualquier entorno de usuario.

 

 



nikon metrology x ray software inspect x3d worldleadingreconstructiontimeswithctproTiempos de reconstrucción líderes en el mundo con CT Pro

El motor de reconstrucción TC propio de Nikon se basa en la confiabilidad y la eficiencia, con tiempos de reconstrucción líderes en el mundo para transformar las imágenes de proyección de rayos X en datos 3D de alta calidad. El paquete de reconstrucción TC de Nikon Metrology, CT Pro, viene como estándar junto con Inspect-X.

CT Pro es un software intuitivo que permite a los usuarios optimizar la reconstrucción TC, con una gama de filtros de mejora de imagen avanzados y vistas previas instantáneas de cortes. Los usuarios pueden maximizar las relaciones de contraste-a-ruido y señal-a-ruido en cada escaneo con filtros inteligentes de eliminación de artefactos, correcciones de endurecimiento del haz, reducción de dispersión, filtros de suavizado, filtros de nitidez y cálculo automático del centro-de-rotación (COR).

Los usuarios pueden reconstruir cualquier ROI (región de interés) elegida utilizando pantallas interactivas, con estaciones de trabajo configuradas por expertos para un rendimiento supremo, todas compatibles con software propio y con software líder de terceros.

 

 



nikon metrology x ray software inspect x3d helicalx tendscanningmode 2Modo de escaneo helicoidal X.Tend

X.Tend es un modo de escaneo TC helicoidal avanzado que permite a los usuarios extender la altura de un escaneo TC a través de varios campos de visión (FOV) en un solo escaneo continuo sin interrupciones. La muestra se mueve verticalmente a través del haz cónico de rayos X mientras la muestra gira, eliminando la necesidad de tomar múltiples escaneos. X.Tend permite datos de vóxel 3D de mayor resolución en muestras altas, ya que los usuarios pueden aumentar la ampliación de la muestra.

X.Tend duplica la velocidad del proceso de TC para estos tipos de muestras al tiempo que proporciona una mejor calidad de imagen sin artefactos de costura. La adquisición y reconstrucción de X.Tend utiliza el mismo software intuitivo Inspect-X y CT Pro para flujos de trabajo fáciles de usar y datos de alta calidad.


 



nikon metrology x ray sources graphModos de escaneo de objetos grandes y densos

Nikon ofrece múltiples modos de escaneo para producir datos de alta calidad de objetos grandes, densos y muchas veces difíciles de manejar. Panel-Scan permite a los usuarios escanear muestras que son demasiado anchas para un solo campo de visión, incorporando un escaneo de panel rápido de hasta cuatro posiciones (en sistemas compatibles).

Además, los usuarios pueden elegir escaneos de ángulo parcial, que pueden proporcionar una mayor resolución de muestras grandes sin tener que realizar una rotación completa de 360 grados. Inspect-X incorpora flujos de trabajo intuitivos para radiografía y TC sin dispersión, en combinación con el exclusivo detector de matriz de diodos lineales curvos (CLDA) de Nikon. Los usuarios pueden producir impresionantes imágenes, sin dispersiones y con una relación señal-ruido inigualable.

 

 



nikon metrology x ray software material thicknessEvaluación automatizada del detector de acuerdo con la norma ASTM E2737

El producto Nikon ASTM E2737 permite a los usuarios evaluar y rastrear el rendimiento de un detector digital dentro de un sistema TC de rayos X de Nikon, de acuerdo con la norma ASTM E2737 reconocida mundialmente. Este producto revoluciona la evaluación del rendimiento de los detectores al optimizar los flujos de trabajo del usuario con un cálculo totalmente automatizado de los parámetros de calidad de la imagen.

La evaluación del rendimiento del detector se mejora mediante una sección exclusiva y dedicada para el seguimiento del rendimiento y el análisis de tendencias, con una transparencia total del rendimiento que permite al usuario visualizar las tendencias antes de que alcancen los límites definidos por el usuario. Esto se puede realizar con todos los parámetros de rendimiento, incluida la resolución espacial, la sensibilidad al contraste, la relación señal-ruido (SNR) y muchos más.

El producto es compatible con la gama completa de máquinas TC de rayos X de Nikon con hardware diseñado a la medida para permitir una configuración sencilla, flujos de trabajo eficientes e informes automatizados.  Todas las comprobaciones de rendimiento cumplen con la norma ASTM E2737 y se pueden configurar para usuarios novatos y usuarios expertos.

 

 



nikon metrology offset.ct Offset.CT

En la TC estándar, el componente que se escanea debe permanecer dentro del campo de visión en todo momento durante la rotación, para reconstruir la muestra completa en 3D. Con Offset.CT, la muestra puede girar fuera del campo de visión y aún así reconstruirse, siempre que algo más de la mitad de la muestra permanezca dentro del campo de visión en un momento dado.

Offset.CT permite dos ventajas principales para los usuarios: 1) campo de visión horizontal aumentado para el escaneo por TC, lo que significa que las muestras que son más anchas que el detector se pueden explorar en una sola pasada, con el detector en una posición fija; y 2) aumento de la ampliación geométrica de las muestras, lo que significa que se puede lograr un escaneo con una resolución significativamente mayor.

Offset.CT duplica la velocidad del proceso de TC para tipos de muestra más grandes, al tiempo que proporciona una mejor calidad de imagen sin artefactos de costura. La adquisición y reconstrucción de Offset.CT utilizan el mismo software intuitivo Inspect-X y CT Pro para flujos de trabajo fáciles de usar, con tiempos de reconstrucción líderes y datos de alta calidad.