La tecnología de microscopía y rayos X de alta precisión facilita el análisis de defectos de componentes electrónicos, obleas y placas de circuito impreso en un proceso uniforme y no destructivo.

La invaluable experiencia de Nikon en producción microelectrónica ha generado instrumentos avanzados para inspección de semiconductores y pantallas planas

Los sistemas de medición por video de alto rendimiento NEXIV abarcan de volúmenes de trabajo pequeños a ultra amplios. Con excelente detección de bordes y diversas cabezas ópticas e iluminaciones, son adecuados para cualquier aplicación.