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XT H 450: exclusivo sistema de rayos X y TC con microfoco para inspección de álabes de turbinas y piezas fundidas

nikon metrology xray ct computed tomography XTH450El sistema XT H 450 ofrece la potencia necesaria para penetrar piezas de alta densidad y generar un volumen TC sin dispersión con precisión micrónica. El sistema está disponible con pantalla plana o una matriz lineal curva patentada (CLA) para optimizar la captura de los rayos X sin captar rayos dispersos no deseados.
Este detector lineal logra imágenes de nitidez y contraste excepcional, ya que evita la contaminación de la imagen y la reducción de contraste asociada. 450 kV y CLA son ideales para inspección de piezas fundidas y álabes de turbinas de aleación de metal pequeñas y medianas.

Ventajas

  • Fuente de rayos X con microfoco patentada de 450 kV
  • Ejecute inspecciones de alta precisión en álabes de turbinas densas
  • Operación fácil del sistema con bajo costo de propiedad
  • Las impresionantes imágenes 3D sin dispersión entregan una percepción fundamental
  • Procesamiento de volumen y adquisición de imágenes de alto rendimiento
  • Automatización sencilla de la inspección

Aplicaciones:

  • Inspección de fundiciones
  • Inspección de álabes de turbinas
  • Inspección de micro TC de materiales densos
 
Ventajas y características
 

nikon metrology xray ct computed tomography XTH450 turbine bladesLa fuente de rayos X de 450 kV ofrece la potencia para inspeccionar piezas metálicas

En la médula de este poderoso equipo se encuentra una fuente de 450 kV/450 W de microfoco que ofrece suficiente potencia de rayos X para penetrar especímenes densos como álabes de turbinas y piezas fundidas de motores.
Mediante inspección automatizada y reconstrucción por TC de alta velocidad, los fabricantes de álabes pueden ejecutar inspección por TC detallada de álabes de turbinas (por ejemplo de grosor de pared) para optimizar el consumo de combustible de los reactores.


nikon metrology xray ct computed tomography XTH450 casting

Precisión superior gracias a la fuente de rayos X con microfoco patentada

La fuente de 450 kV/450 W patentada es la única fuente de rayos X de microfoco con esta energía y ofrece una repetibilidad y precisión de 25 micrones. Dado que este tamaño de punto de microfoco es considerablemente inferior al de las fuentes de minienfoque existentes, el nivel de detalle que captura no tiene igual. Dado que el tamaño de punto de rayos X de estas fuentes es increíblemente más pequeño que el de las fuentes de minienfoque, los usuarios finales se benefician de la resolución y precisión superior además de una gama más amplia de piezas medibles.


nikon metrology xray ct computed tomography XTH450 x ray section turbine blade

Detector de matriz lineal curva (CLA) para recopilación optimizada de rayos X

Cuando los rayos X impactan un objeto, se absorben pero también se dispersan, un fenómeno indeseado que se agrava en función de la densidad de la pieza. La dispersión procedente de todos los puntos de la pieza reduce la sensibilidad de contraste de la imagen visible en las imágenes de pantalla plana. El nuevo detector, que presenta una matriz lineal curva (CLA) de diodos, optimiza la recopilación de los rayos X que atraviesan la pieza sin capturar los rayos X dispersos. Evitando la contaminación de la imagen y la reducción de contraste asociada, la CLA consigue una nitidez y un contraste de imagen excepcional.

La matriz lineal de diodos está curvada para mejorar la calidad de la imagen manteniendo constante la longitud del trayecto de los rayos X hasta los receptores de diodos en comparación con las matrices rectas. Esto permite utilizar cristales más largos para mejorar la sensibilidad de los rayos X y mejorar la relación señal/ruido. El XT H 450 gestiona la adquisición de datos de rayos X para generar un corte en 2D de la mayor precisión posible, y para obtener un volumen en 3D se combinan varios cortes.


3D reconstruction of turbine blade

Macros personalizables para automatizar el flujo de trabajo de medición

Con un diámetro máximo del espécimen de 600 mm y 500 mm de longitud, el XT H 450 es un sistema flexible de rayos X/TC que puede gestionar múltiples álabes pequeños con alto aumento, así como álabes y piezas fundidas más grandes. En un entorno de producción, este sistema fácil de usar en la planta realiza la adquisición e inspección automática de datos basándose en el tipo de álabe, generando estado de apto/no apto para cada pieza inspeccionada.
Al tomar radiografías de álabes de turbinas, las imágenes en bruto y determinada información específica, como los perfiles del álabe y los grosores de la pared interior y exterior, se almacenan en la base de datos para su trazabilidad y análisis posterior.


Caja de protección y completa y monitoreo continuo de fallas

Los sistemas XT H tienen una caja de protección y completa que cumple las normas de seguridad relativas a la radiación CE y DIN 54113, y cuenta con un monitoreo continuo de fallas durante la operación del sistema.

La operación no requiere identificaciones especiales ni ropa de seguridad.

 
Especificaciones
Fuente de microfoco          Máx. kVMáx. potenciaTamaño del punto focalTamaño del punto focal
a potencia máx.
Blanco de reflexión de 450 kVbasic configuration 450 kV 450 W 80 µm hasta 50 W 320 µm  a 450 W
Fuente de alta luminosidad de 450 kValternative configuration 450 kV 450 W 80 µm hasta 100 W 113 µm a 450 W

 

DetectoresN° de bitsPíxeles activosTamaño en píxelesVelocidad de fotogramas máx. 
en combinación 1x1
Velocidad de fotogramas máx.
en combinación 2x2
Perkin Elmer 1611 alternative configuration 16-bits 4000 x 4000 100 µm 3.75 fps 7.5 fps
Perkin Elmer 1620 alternative configuration 16-bits 2000 x 2000 200 µm 3.75 fps  7.5 fps 
Perkin Elmer 1621 EHS alternative configuration 16-bits 2000 x 2000 200 µm 15 fps  30 fps 
Nikon Metrology CLDA alternative configuration 16-bits 2000 415 µm 50 fps  50 fps
Combinación PE162x & CLDA alternative configuration Configuración con detector de matriz lineal curva de diodos y pantalla plana 

 

Manipulador  
N° de ejes 4 (5o eje optativo)

Desplazamiento de ejes

(Typical values - Exact values depend on system configuration)

(X) 400 mm
(Y) 600 mm
(Z) 600 mm
(Rotación) n*360
Peso máx. de la muestra 100 kg

 

General 
Dimensiones del gabinete (ancho x fondo x altura) 3613 mm x 1828 mm x 2249 mm
Peso 14,000 kg
Seguridad Todos los sistemas fabricados según IRR99
Software de control Todos los sistemas controlados con el software de elaboración interna Inspect-X de Nikon Metrology 
 
Folletos
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XT H Series
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