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XT H 320 para inspección de rayos X y TC de muestras más grandes

nikon metrology xray ct computed tomography XTH320El XT H 320 cuenta con una fuente de microfoco más potente, capaz de efectuar inspecciones de alta precisión en objetos industriales densos. Nikon Metrology es la única empresa en producir fuentes de rayos X de 320 kV de microfoco. Dado que el tamaño de punto de rayos X de estas fuentes es increíblemente más pequeño que el de las fuentes de minienfoque, los usuarios finales se benefician de la resolución y precisión superior además de una gama más amplia de piezas medibles.

Con el blanco de reflexión giratorio optativo, existe un flujo de rayos X aún mayor disponible, que permite que los clientes obtengan datos de TC más rápido o mayor precisión de los datos de TC en el mismo período

Ventajas

  • Fuente de rayos X con microfoco patentada de 320 kV
  • Ejecute inspecciones de alta precisión en objetos industriales densos
  • Operación fácil del sistema con bajo costo de propiedad
  • Imágenes impresionantes que entregan excelente percepción
  • Procesamiento de volumen y adquisición de imágenes de alto rendimiento
  • Automatización sencilla de la inspección
  • La seguridad es lo primero

Aplicaciones

  • Detección y análisis de fallas
  • Inspección de montaje de mecanismos complejos
  • Medición dimensional de componentes internos
  • Comparación 'pieza a CAD'
  • Investigación de materiales avanzada
  • Análisis de estructuras biológicas
  • Archivado digital de modelos
 
Ventajas y características
 

nikon metrology xray ct computed tomography XTH320 sourcePrecisión y rendimiento superior gracias a la fuente de rayos X con microfoco de 225 o 320kV

La fuente de microfoco de 225 kV predeterminada está equipada con blanco de reflexión que ofrece un punto focal de 3 micrones. Con el blanco de transmisión optativo, se obtiene un tamaño de haz aún menor y mayor capacidad de aumento.

La fuente de microfoco de 320 kV se utiliza para penetrar muestras más grandes o más densas.

Independientemente del blanco elegido, el sistema XT H LC utiliza una fuente de rayos X de tubo abierto que garantiza un costo de propiedad más bajo.


nikon metrology xray ct computed tomography XTH320 rotating reflectionEl blanco de reflexión giratorio multiplica el flujo de rayos X

Las fuentes tradicionales de rayos X que utilizan blancos fijos solo pueden recibir un flujo limitado de electrones para evitar causar daños en el blanco. Introduciendo un blanco de reflexión giratorio, que permite mejorar el rendimiento del enfriamiento, el flujo de electrones en el blanco giratorio aumenta radicalmente sin el riesgo de causar daños permanentes. Esto aumenta el flujo de rayos X por un factor elevado y permite que los clientes adquieran los datos de TC de forma más rápida o que consigan una mayor precisión de los datos de TC en el mismo período
Consiguiendo un flujo de rayos X 5 veces mayor, los clientes pueden acelerar la adquisición de datos en un factor similar o aumentar la precisión de los datos tomando más radiografías en el mismo tiempo.


Imágenes impresionantes de estructuras internas

El punto pequeño y la pantalla plana de alta resolución permiten crear imágenes nítidas.  Adapte la resolución a sus necesidades: pieza completa en resolución aproximada y alta resolución en una zona de interés deseada.

nikonmaterials2


nikon metrology xray ct computed tomography XTH320 accessibilityFácil acceso para inspeccionar piezas más grandes

Los sistemas XT H LC tienen una gran puerta de acceso y el manipulador de precisión de 5 ejes de servicio pesado puede aceptar muestras de más de 50 kg con unas dimensiones de 0,6 m (altura) x 0,6 m (fondo).


La seguridad es lo primero

La caja de protección completa –que cumple con las normas de seguridad sobre radiación CE y DIN 54113– no requiere identificaciones especiales ni ropa de seguridad. Monitoreo continuo de fallas durante la operación del sistema. La protección antirradiación supera 1µSv/hora externos y los interruptores/relés dobles a prueba de fallas garantizan la operación segura


nikon metrology xray ct computed tomography XTH320 accuracy and performanceConfigure el sistema según sus necesidades específicas

Algunas aplicaciones específicas requieren imágenes más detalladas o mayor precisión. El XT H 320 puede configurarse con distintas pantallas planas (Varian, Perkin Elmer) o fuentes (blanco de reflexión/transmisión) para adaptar el sistema a sus necesidades.

 
Especificaciones
Fuente de microfoco      Máx. kVMáx. potenciaTamaño del punto focalTamaño del punto focal
a potencia máx.
Blanco de reflexión de 225 kVbasic configuration 225 kV 225 W 3 µm hasta 7 W 225 µm a 225 W
Opción de blanco giratorio de 225 kValternative configuration 225 kV 450 W 10 µm hasta 30 W 160 µm a 450 W
Blanco de reflexión de 320 kV  basic configuration 320 kV 320 W 30 µm hasta 30 W  320 µm a 320 W 

 

DetectoresN° de bitsPíxeles activosTamaño en píxelesVelocidad de fotogramas máx.
en combinación 1x1
Velocidad de fotogramas máx.
en combinación 2x2
Perkin Elmer 1611 alternative configuration 16-bits 4000 x 4000 100 µm 3.75 fps  7.5 fps
Perkin Elmer 1620  alternative configuration 16-bits 2000 x 2000 200 µm 3.75 fps  7.5 fps
Perkin Elmer 1621 EHS  alternative configuration 16-bits 2000 x 2000 200 µm 15 fps 30 fps


basic configuration: Configuración básica
alternative configuration
: Configuración alternativa

Manipulador  
N° de ejes 4 (5o eje optativo)

Desplazamiento de ejes

(Valores típicos: los valores exactos dependen de la configuración del sistema)

(X) 500 mm
(Y) 610 mm
(Z) 800 mm
(Rotación) n*360
Peso máx. de la muestra 100 kg

 

General  
Dimensiones del gabinete (ancho x fondo x altura) 2695 mm x 1828 mm x 2249 mm
Peso 8,500 kg
Seguridad Todos los sistemas fabricados según IRR99
Software de control  Todos los sistemas controlados con el software de elaboración interna Inspect-X de Nikon Metrology 
 
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