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XT H 225 ST: escaneo TC industrial

nikon metrology xray ct computed tomography XTH225STEl XT H 225 ST es un sistema de tomografía computarizada (TC) ideal para una amplia gama de materiales y tamaños de muestra, especialmente aquellas muy grandes o pesadas para otros sistemas de la gama. El sistema tiene tres fuentes intercambiables; el blanco de reflexión de 225 kV, de transmisión de 180 kV y giratorio de 225 kV. En combinación con la amplia gama de detectores de pantalla plana para elegir, el sistema ST ofrece una herramienta flexible para laboratorios de calidad, centros de producción y departamentos de investigación.

Ventajas:

  • Fuente de rayos X con microfoco de 225 kV patentada con punto focal de 3 µm
  • Fácil operación del sistema
  • Imágenes impresionantes que entregan la máxima percepción
  • Procesamiento de volumen y adquisición de imágenes de alto rendimiento
  • Automatización sencilla de la inspección
  • Seguridad como parte del diseño
  • Bajo costo de propiedad

Aplicaciones

  • Detección y análisis de fallas
  • Inspección de montaje de mecanismos complejos
  • Medición dimensional de componentes internos
  • Comparación 'pieza a CAD'
  • Investigación de materiales avanzada
  • Análisis de estructuras biológicas
  • Archivado digital de modelos
 
Ventajas y características
 

nikon metrology xray ct computed tomography XTH225ST superior accuracyPrecisión y rendimiento superior gracias a la fuente de rayos X con microfoco de 225 kV

La fuente de microfoco predeterminada está equipada con blanco de reflexión que ofrece un punto focal de 3 micrones. Con el blanco de transmisión optativo, se obtiene un tamaño de haz aún menor y mayor capacidad de aumento. Independientemente del blanco elegido, el sistema XT H 225 ST emplea una fuente de rayos X de tubo abierto que garantiza un costo de propiedad más bajo.


Imágenes impresionantes de estructuras internas

El punto pequeño y la pantalla plana de alta resolución permiten crear imágenes nítidas.  Adapte la resolución a sus necesidades: pieza completa en resolución aproximada y alta resolución en una zona de interés deseada.

nikonmaterials


nikon metrology xray ct computed tomography XTH225ST high performance processingProcesamiento de alto rendimiento

El núcleo de la potencia de procesamiento se encuentra en el paquete de software XT, basado en el historial de Nikon Metrology de mejora del flujo de muestras y simplificación de la operación, llevando los sistemas de las manos de expertos a las manos de los usuarios. El software XT también aporta la reconstrucción más rápida de datos de TC disponible actualmente en una sola PC. Esta PC se construye a partir de componentes estándar para facilitar el servicio. El flujo de muestras puede mejorarse con el uso de PC adicionales. El sistema completo también está preparado para funcionar con cualquier software de visualización y procesamiento de TC líder del mercado, como Volume Graphics.


nikon metrology xray ct computed tomography XTH225ST easy operationFácil operación y automatización

Los usuarios pueden comenzar a operar el sistema luego de pocos días de capacitación. El asistente de TC orienta a los operadores durante el proceso de adquisición de datos.

Macros personalizables permiten automatizar el flujo de trabajo de medición y la alta integración con aplicaciones industriales estándar de postprocesamiento simplifica el proceso de toma de decisiones.


La seguridad es lo primero

La caja de protección completa –que cumple con las normas de seguridad sobre radiación CE y DIN 54113– no requiere identificaciones especiales ni ropa de seguridad. Monitoreo continuo de fallas durante la operación del sistema. La protección antirradiación supera 1µSv/hora externos y los interruptores/relés dobles a prueba de fallas garantizan la operación segura


Bajo costo de propiedad

El tubo de rayos X abierto permite el mantenimiento localizado de los componentes internos. El transporte de 3 ruedas incorporado permite maniobrar a través de las entradas con puerta doble. Además, no se requiere tratamiento de piso especial para instalar el XT H 225 ST.


nikon metrology xray ct computed tomography XTH225STConfigure el sistema según sus necesidades específicas

Algunas aplicaciones específicas requieren imágenes más detalladas o mayor precisión. El XT H 225 puede configurarse con distintas pantallas planas (Varian, Perkin Elmer) o fuentes (blanco de reflexión/transmisión) para adaptar el sistema a sus necesidades.
El sistema XT H 225ST es una versión ampliada que puede aceptar muestras más grandes de hasta 50 kg, con un diámetro de unos 50 cm.


FID motorizada

Como opción, el gabinete del ST puede tener FID motorizada que permite acercar el detector a la fuente. A medida que la intensidad de los rayos X disminuye con la distancia, una menor FID (distancia del punto focal al generador de imágenes) impide la reducción del flujo de rayos X. Esto reduce la exposición del generador y acelera el escaneo. Por otro lado, una menor FID puede producir imágenes más brillantes cuando se aplican rayos X de baja energía. Ambos fenómenos son ventajosos cuando el alto aumento no es un factor limitante.

 
Especificaciones
Fuente de microfoco Máx. kVMáx. potenciaTamaño del punto focalTamaño del punto focal
 a potencia máx.
Blanco de transmisión de 180 kV alternative configuration 180 kV 20 W 1 µm hasta  3 W 20 µm a 20 W
Blanco de reflexión de 225 kVbasic configuration 225 kV 225 W 3 µm hasta  7 W 225 µm a 225 W
Opción de blanco giratorio de 225 kV alternative configuration 225 kV 450 W 10 µm hasta  30 W 160 µm a 450 W

 

DetectoresN° de bitsPíxeles activosTamaño en píxelesVelocidad de fotogramas máx.
en combinación 1x1
Velocidad de fotogramas máx.
 en combinación 2x2
Varex 4343 alternative configuration 16-bits 2880 x 2880 150 µm 15 fps  30 fps
Perkin Elmer 1611 alternative configuration 16-bits 4000 x 4000 100 µm 3.75 fps 7.5 fps
Perkin Elmer 1620  alternative configuration 16-bits 2000 x 2000 200 µm 3.75 fps 7.5 fps
Perking Elmer 1621 EHS alternative configuration 16-bits 2000 x 2000 200 µm 15 fps 30 fps

 
 basic configuration:  Configuración básica
  alternative configuration :  
Configuración alternativa

Manipulador  
N° de ejes 5

Desplazamiento de ejes

(Valores típicos: los valores exactos dependen de la configuración del sistema)

(X) 450 mm
(Y) 350 mm
(Z) 725 mm
(Inclinación) +/- 30
(Rotación) n*360°
Peso máx. de la muestra 50 kg

 

General 
Dimensiones del gabinete (ancho x fondo x altura) 2,414 mm x 1,275 mm x 2,202 mm
Peso 4,200 kg
Seguridad Todos los sistemas fabricados según IRR99
Software de control  Todos los sistemas controlados con el software de elaboración interna Inspect-X de Nikon Metrology 

 

 

 
Folletos
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Aplicaciones industriales
 
 

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