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XT H 225 para inspección de rayos X y TC de uso múltiple

nikon metrology xray ct computed tomography XTH225

El sistema XT H 160 de nivel básico y el versátil XT H 225 ofrecen una fuente de rayos X con microfoco, gran volumen de inspección, alta resolución de imagen y reconstrucción por TC ultrarrápida. Cubren una amplia gama de aplicaciones como inspección de piezas de plástico, fundiciones pequeñas y mecanismos complejos además de investigación de materiales y especímenes naturales.

Ventajas

  • Fuente de rayos X con microfoco de 225 kV patentada con punto focal de 3 µm
  • Operación fácil del sistema con bajo costo de propiedad
  • Imágenes impresionantes que entregan excelente percepción
  • Procesamiento de volumen y adquisición de imágenes de alto rendimiento
  • Automatización sencilla de la inspección
  • La seguridad es lo primero 

Aplicaciones

  • Detección y análisis de fallas
  • Inspección de montaje de mecanismos complejos
  • Medición dimensional de componentes internos
  • Comparación 'pieza a CAD'
  • Investigación de materiales avanzada
  • Análisis de estructuras biológicas
  • Archivado digital de modelos
 
Ventajas y características
 

nikon metrology xray ct computed tomography XTH225ST superior accuracyPrecisión y rendimiento superior gracias a la fuente de rayos X con microfoco de 225 kV

La fuente de microfoco predeterminada está equipada con blanco de reflexión que ofrece un punto focal de 3 micrones. Con el blanco de transmisión optativo, se obtiene un tamaño de haz aún menor y mayor capacidad de aumento. Independientemente del blanco elegido, el sistema XT H 225 emplea una fuente de rayos X de tubo abierto que garantiza un costo de propiedad más bajo.


Imágenes impresionantes de estructuras internas

El punto pequeño y la pantalla plana de alta resolución permiten crear imágenes nítidas.  Adapte la resolución a sus necesidades: pieza completa en resolución aproximada y alta resolución en una zona de interés deseada.

nikon0


nikon metrology xray ct computed tomography XTH225ST high performance processingProcesamiento de alto rendimiento

El núcleo de la potencia de procesamiento se encuentra en el paquete de software XT, basado en el historial de Nikon Metrology de mejora del flujo de muestras y simplificación de la operación, llevando los sistemas de las manos de expertos a las manos de los usuarios. El software XT también aporta la reconstrucción más rápida de datos de TC disponible actualmente en una sola PC. Esta PC se construye a partir de componentes estándar para facilitar el servicio. El flujo de muestras puede mejorarse con el uso de PC adicionales. El sistema completo también está preparado para funcionar con cualquier software de visualización y procesamiento de TC líder del mercado, como Volume Graphics.


nikon metrology xray ct computed tomography XTH225ST easy operationFácil operación y automatización

Los usuarios pueden comenzar a operar el sistema luego de pocos días de capacitación. El asistente de TC orienta a los operadores durante el proceso de adquisición de datos.

Macros personalizables permiten automatizar el flujo de trabajo de medición y la alta integración con aplicaciones industriales estándar de postprocesamiento simplifica el proceso de toma de decisiones.


La seguridad es lo primero

La caja de protección completa –que cumple con las normas de seguridad sobre radiación CE y DIN 54113– no requiere identificaciones especiales ni ropa de seguridad. Monitoreo continuo de fallas durante la operación del sistema. La protección antirradiación supera 1µSv/hora externos y los interruptores/relés dobles a prueba de fallas garantizan la operación segura


Bajo costo de propiedad

El tubo de rayos X abierto permite el mantenimiento localizado de los componentes internos. El transporte de 3 ruedas incorporado permite maniobrar a través de las entradas con puerta doble. Además, no se requiere tratamiento de piso especial para instalar el XT H 225.


Configure el sistema según sus necesidades específicas

Algunas aplicaciones específicas requieren imágenes más detalladas o mayor precisión. El XT H 225 puede configurarse con distintas pantallas planas (Varian, Perkin Elmer) o fuentes (blanco de reflexión/transmisión) para adaptar el sistema a sus necesidades. 
El sistema XT H 225ST es una versión ampliada que puede aceptar muestras más grandes de hasta 50 kg, con un diámetro de unos 50 cm.

 
Especificaciones
Fuente de microfoco       Máx. kVMáx. potenciaTamaño del punto focalTamaño del punto focal
 a potencia máx.
XT H 160 XT H 225
Blanco de reflexión de 160 kV  160 kV 225 W 3 µm hasta 7 W 225 µm a 225 W  alternative configuration  
Blanco de transmisión de 180 kV 180 kV 20 W 1 µm hasta 3 W  20 µm a 20 W     alternative configuration
Blanco de reflexión de 225 kV 225 kV 225 W 3 µm hasta 7 W 225 µm a 225 W    basic configuration

 

Detectores                  N° de bitsPíxeles activosTamaño en píxelesVelocidad de fotogramas máx.
en combinación 1x1
Velocidad de fotogramas máx.
en combinación 2x2
XT H 160XT H 225
Varian 1313Dx 16-bits 1000 x 1000 127 µm 30 fps 60 fps  alternative configuration   
Varian 2520Dx 16-bits 1900 x 1500 127 µm 12.5 fps 30 fps alternative configuration  alternative configuration 
Varex 4343 16-bits 2880 x 2880 150 µm 15 fps  30 fps    alternative configuration
Perkin Elmer 0820 16-bits 1000 x 1000 200 µm 7.5 fps  15 fps   alternative configuration  alternative configuration 

 
 basic configuration:  Configuración básica
 alternative configuration :  
Configuración alternativa

Manipulador             XT H 160/ XT H 225
N° de ejes 5

Desplazamiento de ejes

(Valores típicos: los valores exactos dependen de la configuración del sistema)

(X) 185 mm
(Y) 250 mm
(Z) 625 mm
(Inclinación) +/- 30
(Rotación) n*360°
Peso máx. de la muestra 15 kg

 

General                   
Dimensiones del gabinete (ancho x fondo x altura) 1,830 mm x 875 mm x 1,987 mm
Peso 2,400 kg
Seguridad Todos los sistemas fabricados según IRR99
Software de control  Todos los sistemas controlados con el software de elaboración interna Inspect-X de Nikon Metrology 
 
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