Nikon Metrology Inc. | America
Cambiar de ubicación
Bienvenido a Nikon Metrology, seleccione su región e idioma preferido.
 
 
 
Póngase en contacto con nosotros
 
 

X.Tend: mayor resolución y velocidad: “X.tienda” su capacidad de escaneo TC

nikon metrology software x ray ct XTend working principle helicalEn comparación con el escaneo TC circular convencional, X.Tend es un método de adquisición de TC que permite que los clientes amplíen la altura de su escaneo TC a través del movimiento de la muestra alta a través del haz cónico de rayos X a medida que la muestra gira. X.Tend elimina la necesidad de escaneos parciales de una muestra para unirlos posteriormente.

Ventajas

  • Mayor velocidad de adquisición y procesamiento
    • Más rápido que varios escaneos circulares al mismo aumento
    • Montaje más fácil de la pieza
  • Mejor calidad de imagen
    • Sin artefacto de haz cónico (mejores resultados en superficies horizontales)
    • Sin artefacto de anillo
    • Sin artefacto de unión
  • Mayor resolución
    • No es necesario que la muestra coincida con una sola imagen
    • Escaneo de muestras altas con alto aumento
 
Ventajas y características
 

X.Tend duplica la velocidad del proceso de TC para muestras más altas

El escaneo de piezas altas suele presentar un dilema: escanear la pieza completa a menor aumento o secciones de la muestra a alta resolución para luego unir con software de análisis. En el primer caso, tendrá menor resolución y perderá parte del detalle en los datos; en el segundo el escaneo, la reconstrucción y la unión demorarán más, con artefactos visibles en los datos finales.  X.Tend elimina la necesidad de escaneos parciales de una muestra para unirlos posteriormente. Además las piezas son más fáciles de montar y se mueven verticalmente a través del haz de rayos X. Esto reduce a la mitad el tiempo de procesamiento total y mejora la calidad de imagen.

nikon metrology software x ray ct XTend doubles speed

 


Mejor percepción y calidad de imagen

X.Tend mejora la calidad de imagen de los escaneos TC porque elimina los artefactos de haz cónico, anillo y unión, todos los cuales se presentarían durante el escaneo circular. X.Tend también permite que el usuario escanee una pieza cerca de la fuente de rayos X, lo cual genera mayor resolución en vóxeles. La nueva técnica X.Tend genera imágenes más claras, fáciles de interpretar y no deja dudas sobre el reconocimiento de defectos, lo que en última instancia acelera la toma de decisiones o las medidas correctivas.

nikon metrology software x ray ct XTend cd stack circular scanEscaneo circular de pila de CD: efecto de haz cónico en los bordesnikon metrology software x ray ct XTend cd stack xtend scanAdquisición continua con X.Tend: sin artefacto de haz cónico

 
Folletos
Overview brochure
Overview brochure

en fr de

 
Contáctenos
42.517726, -83.69813899999997

Nikon Metrology, Inc

12701 Grand River Avenue
Brighton, MI 48116
United States

Correo electrónico: sales.nm-us@nikon.com
Sitio web: www.nikonmetrology.com
Número de teléfono: (810) 220-4360

 
33.649429, -117.710097

Nikon Metrology, Inc (California)

12 Goodyear, Suite #105
Irvine, CA 92618
United States

Correo electrónico: sales.nm-us@nikon.com
Sitio web: www.nikonmetrology.com
Número de teléfono: (949) 716-4440

 
32.916631, -96.98600299999998

Nikon Metrology, Inc (Texas)

8113 Ridgepoint Dr.
Irving, TX 75063
United States

Correo electrónico: sales.nm-us@nikon.com
Número de teléfono: (810) 220-4360

 
 

Folletos

Overview brochure
Overview brochure

en fr de