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Serie L300N: microscopios de inspección FPD/LSI

nikon metrology industrial microscopes upright Eclipse L300N series

Con la óptica más avanzada de Nikon para inspección inigualable de los últimos tipos de obleas.
Los microscopios de inspección Nikon Eclipse L300N/L300ND FPD/para obleas incorporan la renombrada óptica al infinito CFI60 de Nikon, que ofrece el mejor rendimiento óptico del mundo. La función de epifluorescencia mejorada, que permite excitación UV de 365 nm, es óptima para inspección de resistencia de semiconductor en obleas de 300 mm y visualizaciones de electroluminiscencia orgánica.

Applications

  • Antenas
  • Telecomunicaciones y electrónica
  • Óptica de telescopios
  • Teléfonos móviles, afeitadoras y relojes 
 
Ventajas y características
 

Observación de epifluorescencia

El L300N/L300ND cuenta con potentes capacidades de observación de epifluorescencia y amplía el rango de inspección, lo que incluye excitación de 365 nm. Permite iluminación diascópica y diversos métodos de observación como campo claro, campo oscuro, polarización simple y DIC. Esta versatilidad en observación es altamente beneficiosa en inspección de resistencia de semiconductor y visualizaciones de electroluminiscencia orgánica.

nikon metrology industrial microscopes upright brightfield observation of wafer pattern L300NObservación de campo claro de patrón de oblea

nikon metrology industrial microscopes upright darkfield observation L300NObservación de campo oscuro


nikon metrology industrial microscopes upright dic observation L300NObservación DIC


nikon metrology industrial microscopes upright epi fluorescence observation organic subtsance on wafer L300NObservación de epifluorescencia de sustancia orgánica en oblea


Iluminador por fibra de mercurio motorizado

  • El iluminador por fibra precentrado de mercurio motorizado Nikon Intensilight ofrece observación de fluorescencia superior.
  • No requiere centrado de la lámpara ni ajuste de enfoque, incluso después de reemplazar la lámpara.
  • La fuente de luz puede ubicarse lejos del microscopio para reducir el calor cerca del microscopio y evitar desenfoque.
  • La intensidad variable de la luz y el control del obturador ofrecen gran flexibilidad.
  • La lámpara tiene una duración promedio de 2000 horas.

Cuatro veces más brillante que la observación diascópica convencional

El L300ND emplea una nueva fuente de luz y óptica avanzada para ofrecer iluminación cuatro veces más brillante para observación diascópica.


Iluminador halógeno de 12V-50W de alta intensidad

El nuevo iluminador halógeno de 12V-50W de alta intensidad es más brillante que el estándar de 12V-100W.

  • Emplea la caseta para lámpara precentrada LV-LH50PC, que ofrece mayor brillo que el iluminador 12V-100W con la mitad del consumo. Se adapta a la observación de semiconductores y LCD.
  • Incorporar un espejo trasero en la lámpara y optimizar el tamaño de los filamentos permite iluminación eficaz y uniforme del plano de la pupila, fundamental en un sistema óptico. Los objetivos de 50 aumentos o más se benefician del brillo un 20 por ciento superior al del iluminador 12V-100W estándar.
  • El diseño protege el medio ambiente y reduce el desenfoque por calor.

La óptica CFI60 ofrece larga distancia de trabajo y alta AN

  • nikon43La óptica CFI60 original de Nikon ofrece imágenes brillantes a través de alta AN y rango de piezas más amplio además de acceso con larga D.T.
  • Ofrece imágenes de campo claro claras y de alto contraste, porque minimiza los destellos.
  • El surtido de lentes “ojo de mosca”, que ofrece iluminación uniforme en todo el campo visual, se emplea para óptica de iluminación de campo oscuro y permite imágenes de campo oscuro notablemente brillantes y de alta resolución. 

Revólver universal motorizado

El nuevo revólver universal motorizado dura tres veces más que los modelos convencionales.

  • Pueden montarse hasta seis objetivos.
  • Mecanismo de centrado posible en tres posiciones del revólver.
  • La centricidad mejorada minimiza el desenfoque de la imagen cuando se cambia de objetivo, incluso con alto aumento. Esto permite observaciones estables de alto a bajo aumento.
  • Un mecanismo anti flash se conecta cuando el revólver gira para proteger el ojo del operador.

Blanco para facilitar el enfoque

nikon metrology industrial microscopes upright focusing target L300N

Insertar un blanco de enfoque en el trayecto óptico permite enfocar con facilidad y precisión muestras de bajo contraste, como obleas.


Recubrimientos antiestáticos para dar más protección contra la contaminación

Se han aplicado recubrimientos antiestáticos al cuerpo, la platina, el cabezal ocular y varios controles más. Fortalecen la protección contra la contaminación y ayudan a evitar daños en las muestras por cargas electrostáticas, por eso ayudan a aumentar la productividad.


Cabezal trinocular inclinable para observación en el punto de mira óptimo

  • nikon metrology industrial microscopes upright tilting trinocular eyepiece tube L300NCampo de visión ultra amplio de 25 mm y ajuste de ángulo del ocular entre 0° y 30°.
  • Permite que los operadores ajusten el punto de mira para asegurar una posición de visualización cómoda.

Control de movimiento fino X-Y de posición fija

El control de movimiento fino X-Y está ubicado cerca del operador.
 
Todos los controles están cerca, lo que permite mover la platina y enfocar con facilidad.


Controles de fácil acceso

Los botones y las perillas de control principales están al frente del microscopio para facilitar el acceso.

Operación rápida y fácil del microscopio mientras se visualizan muestras.

Minimiza la fatiga durante observaciones prolongadas.


Software de captura de imágenes NIS-Elements

El software de captura de imágenes NIS-Elements de Nikon optimiza el flujo de trabajo para observación, captura de imágenes y análisis.

Todos los aspectos del flujo de imágenes están respaldados, incluida la configuración de las mejores condiciones de visualización, la captura de imágenes digitales, el procesamiento y el análisis.

Funciones avanzadas como unión de imágenes grandes, profundidad de campo extendida y medición automática

 
Folletos
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