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nikon metrology xray ct configurable ct C2 large envelopSistema de inspección de rayos X/TC con área extra grande C2

La plataforma C2 es un sistema de inspección modular, con área extra grande y alta precisión. La base de granito para metrología ofrece el cimiento para el manipulador de 7 ejes patentado, ultra preciso y estable.

Las fuentes dobles de hasta 450 kV ofrecen la potencia necesaria para penetrar piezas de alta densidad y generar volúmenes TC sin dispersión con precisión micrónica. El sistema está disponible con detector de pantalla plana y matriz lineal curva patentada (CLA) para optimizar la captura de los rayos X sin captar rayos dispersos no deseados.

El detector lineal produce imágenes de nitidez y contraste excepcional, ya que evita la contaminación de la imagen y la reducción de contraste asociada. El C2 es ideal para inspección de piezas de diverso tamaño, desde muestras pequeñas de baja densidad hasta materiales grandes de alta densidad.

 

Características

  • Patented ultra precise and stable manipulator
  • Área de inspección extra grande
  • Puede instalarse en la caja de radiación existente o suministrarse con una nueva caja modular
  • Tecnología patentada de tubo de rayos X de microfoco, disponible en 225 kV, 320 kV y 450 kV
  • Admite tubos de rayos x dobles
  • Admite detectores dobles
  • Tecnología de detector de 16 bits de formato grande
  • Exclusiva tecnología de matriz lineal curva de diodos
  • Interfaz de software intuitiva
  • Avanzado análisis y visualización en 3D
  • Macros personalizables para automatizar el flujo de trabajo

Aplicaciones

  • Estructuras aeroespaciales
  • Evaluación de piezas de precisión y piezas fundidas grandes, mecanismos complejos y componentes internos
  • Comparación 'pieza a CAD'
  • Ingeniería inversa
  • Análisis de errores detallado
  • Avanzada investigación de materiales y análisis de estructuras biológicas
  • Archivado digital de modelos
 
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