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El MCT225 ofrece precisión absoluta para geometría interior

nikon metrology xray ct computed metrology ct MCT225Este nuevo sistema de TC para metrología (MCT) de 'precisión absoluta' garantiza la medición eficiente de toda la geometría interna y externa. Una fuente de reflexión de microfoco patentada refrigerada por líquido y un gabinete refrigerado por aire ofrecen estabilidad a largo plazo y permiten al MCT225 alcanzar una impresionante especificación de precisión. Ofrece precisión de medición y detección de características pequeñas superior para inspeccionar piezas de precisión de plástico, piezas fundidas pequeñas y piezas y montajes complejos.

Ventajas

  • Experiencia de 50 años en metrología de máquinas de medición por coordenadas (CMM), combinada con 25 años de experiencia en tomografía computarizada (TC) de rayos X
  • Precisión absoluta de 9 + L/50 μm conforme a VDI/VDE 2630
  • Fuente de microfoco patentada, desarrollada para fines de metrología-TC
  • La mecatrónica de alta precisión incrementa la precisión de manipulación de muestras
  • Uso manual sencillo y ejecución automatizada del flujo del proceso
  • El poderoso análisis y visualización ofrecen percepción detallada
  • Apto para una amplia variedad de tamaños de muestras y densidades de materiales
 
Ventajas y características
 
Caja con control de temperatura
 
Alta resolución
 
Precisión 9+L/50μm
 
Bajo costo de propiedad
 
Monitores dobles
 
Gran capacidad
 
Fuente de rayos X de Nikon Metrology
 
Caja de protección
 
Manipulador de precisión
 

TC para metrología: Inspección 3D no destructiva de geometría interna/externa

TC para metrología es la fusión de metrología y tomografía computarizada (TC) de rayos X. Los rayos X se utilizan desde hace mucho tiempo para aplicaciones industriales. Con TC de rayos X se toman varias imágenes de rayos X en 2D desde distintos ángulos alrededor de la muestra. Se capta toda la geometría externa e interna a medida que los rayos X pasan por la muestra. El software de TC construye un modelo en 3D de la muestra empleando esas imágenes en 2D. Pueden medirse directamente características dimensionales como tamaño, posición y forma utilizando el modelo, además de una comparación 'pieza a CAD' completa, generación de informes de sección y análisis GD&T. 

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nikon metrology xray ct computed metrology ct accuracyPrecisión absoluta de 9 μm + L/50 y capacidad de detección de características de 2 μm

El MCT225 ofrece una precisión absoluta de 9 μm + L/50 y una capacidad de detección de características de 2 μm. La precisión absoluta garantiza precisión de medición sin las exploraciones comparativas y mediciones de referencia que consumen mucho tiempo. Las muestras se colocan simplemente sobre una mesa giratoria dentro de la caja y se miden. El sistema TC está precalibrado según estándares de precisión del National Measurement Institute (NPL) del Reino Unido y verificado utilizando directivas VDI/VDE 2630 para Tomografía Computarizada en Medición Dimensional.

Un componente fundamental del sistema MCT225 es la fuente de rayos X de microfoco de 225 kV, desarrollada internamente por Nikon Metrology. Produce imágenes increíblemente nítidas con bajos niveles de ruido, lo cual permite niveles de aumento de hasta 150 con detección de características de 2 µm.

El MCT225 está precalibrado según estándares de precisión del National Measurement Institute (NPL) del Reino Unido y verificado utilizando directivas VDI/VDE 2630 para Tomografía Computarizada en Medición Dimensional. "Precisión absoluta" garantiza precisión de medición sin exploraciones comparativas o mediciones de referencia que consumen mucho tiempo; las muestras se colocan simplemente sobre una mesa giratoria dentro de la caja y se miden.


La mecatrónica de alta precisión incrementa la precisión de manipulación de muestras

El MCT225 está equipado con un manipulador de muestras de precisión y gran capacidad de 5 ejes, totalmente programable. El manipulador se ha optimizado mediante análisis de elementos finitos (FEA). El diseño del manipulador se benefició de 50 años de experiencia en el desarrollo de CMM para garantizar un movimiento de muestras altamente preciso.

Guías lineales de alta precisión y la corrección de errores de desplazamiento del eje ofrecen un movimiento preciso y repetible dentro de la caja con temperatura controlada. Codificadores ópticos de alta resolución también tienen cabida en esta estrategia para una precisión máxima. Las imágenes de rayos X tomadas por un detector de 4 megapíxeles de alta resolución son el punto de partida para la generación y el procesamiento de imágenes digitales de alto rendimiento del sistema.

  • Manipulador de gran capacidad para muestras de hasta 5 kg que tiene cabida en un volumen de medición de 250 mm de diámetro y 450 mm de altura
  • Largo desplazamiento del manipulador: 480 mm (18.89”) en dirección x, 450 mm (17.71”) en dirección y, 730 mm (28.74”) en dirección z y rotación en 360 grados

nikon metrology xray ct computed metrology ct MCT225 CT wizardUso manual sencillo y flujo de proceso automatizado

El asistente de TC exclusivo guía al operador por todos los pasos, desde la carga de muestras hasta la creación del informe de inspección final. La configuración se optimiza automáticamente para ofrecer precisión y calidad de imagen sin comprometer la productividad. La reconstrucción acelerada del volumen de la muestra, utilizando tarjetas gráficas optimizadas, reduce el tiempo de proceso total de horas a minutos.

Los macros permiten flujos de trabajo automatizados que ejecutan una captura de datos de TC reiterada. Después de grabar un macro, un operador coloca una muestra sobre la mesa del manipulador e inicia el procedimiento. El sistema MCT225 mueve automáticamente la muestra mientras se captan imágenes de rayos X. Cuando el ciclo de captura de imágenes está completado, el operador puede cambiar de espécimen y reiniciar el procedimiento.


El poderoso análisis y visualización ofrecen percepción detallada

El asistente de TC exclusivo guía al operador por todos los pasos, desde la carga de muestras hasta la creación del informe de inspección final. La configuración se optimiza automáticamente para ofrecer precisión y calidad de imagen sin comprometer la productividad. La reconstrucción acelerada del volumen de la muestra, utilizando tarjetas gráficas optimizadas, reduce el tiempo de proceso total de horas a minutos.

La funciones de generación de informes y análisis incluyen:

  • Comparación 'pieza a CAD' con mapeado de color
  • Medición de superficie utilizando datos de superficie y de vóxeles
  • Inspección de características geométricas
  • Especificación de dimensiones y tolerancias geométricas (GD&T)
  • Visualización en 3D del volumen de la muestra

El mismo conjunto de datos puede utilizarse de forma sencilla para medición y análisis de defectos (NDT).

es pic1 X ray and CT Inspection 608 MCT225


Eficiencia flexible para un gran número de aplicaciones

MCT255 es un activo imprescindible para fabricantes que quieren beneficiarse de la reducción de los plazos de entrega y ciclos de inspección. La potente fuente de rayos X y el manipulador de gran capacidad se combinan con un elevado aumento y con la detección de características pequeñas para crear una solución apta para un gran número de aplicaciones.

Los fabricantes de moldes de inyección de plástico y piezas de metal fundidas pueden reducir en gran medida los ciclos de corrección durante el desarrollo de herramientas y la puesta en marcha de la producción, acelerando el tiempo de comercialización para nuevos productos. Todos los errores de contracción, deformación y dimensionales se identifican claramente en informes de inspección fáciles de comprender, lo cual simplifica la determinación de acciones correctivas.

Técnicas de producción emergentes como la fabricación por adición permiten ahora producir componentes pequeños y muy complejos que no pueden inspeccionarse mediante sondas de toque ni sensores ópticos. Aquí, el MCT225 también permite medir y analizar esos componentes en una operación única, no destructiva.
La fuente de microfoco de alta precisión, de 225 kV y 225 kW, penetra en diferentes materiales. El espesor de las muestras que puede ser completamente penetrado por los haces de rayos X depende de la densidad del material.

  • Penetración de material: plástico 170 mm (6.7”), aluminio 75 mm (2.9”) y hierro 15 mm (0.6”). Otros materiales aptos son: acero, cerámica, fibra de carbono y madera.
  • Manipulador de gran capacidad para muestras de hasta 5 kg que tiene cabida en un volumen de medición de 250 mm de diámetro y 450 mm de altura

La tecnología de tubo abierto reduce el costo de propiedad

La tecnología de tubo abierto de la nueva fuente montada en el MCT225 reduce el costo de la propiedad. La fuente de tubo abierto fácil de mantener permite una sustitución rápida y directa del filamento, lo cual ahorra tiempo y dinero.

 
Especificaciones
Precisión (μm)1 MPESD 9+L/50 (L en mm)
Tamaño de muestra (máximo) Diámetro 250 mm (9.84”) Altura 450 mm (17.71”)
Peso de muestra (máximo) 5 kg (11 lbs)

Desplazamiento del manipulador

(Valores típicos: los valores exactos dependen de la configuración del sistema)

X 400 mm
Y 300 mm
Z 720 mm
R 360deg
Fuente a detector 1165 mm (nominal) (45.98”)
Detector 16 bits 4 megapíxeles (2000x2000 píxeles)
Aumento 1.6 a 150 aumentos
Capacidad de detección de características (mínima) Radiografía 2D 2 μm (0.002”)
Fuente de rayos X Tubo abierto de 225 kV/225 W
Punto de rayos X Microfoco de 3 μm (0.00012 pulg.)
Temperatura de la caja 19 a 21 °C (66 a 70 °F)
Temperatura ambiente 17 a 25 °C (63 a 77 °F)
Protección contra la radiación
(DIN 54113-2, IRR99)
< 1μSv/hr
Dimensiones de la caja Ancho 2414 mm (95.0”) x fondo 1275 mm (50.2”) x altura 2202 mm (86.7”)
Peso del sistema 4200 kg (9260 lbs)

1Solo válido para muestras de un único material con un diámetro máximo de 250 mm (9.84”) y una altura máxima de 250 mm (9.84”)

 
Folletos
Overview brochure
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MCT225
MCT225

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Estudios de casos
University of Leuven applies metrology CT to research geometrical accuracy of inner and outer features of industrial components
University of Leuven applies metrology CT to research geometrical accuracy of inner and outer features of industrial components

The PMA division of Leuven’s university is using X-ray CT machines to research and measure the interiors of complex AM components such as a hollow hydroformed camshaft, a 3D printed mould with conformal cooling channels.

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Elbflorace verifies the quality of new vehicle technology using Nikon's CT technology
Elbflorace verifies the quality of new vehicle technology using Nikon's CT technology

In order to guarantee the high quality of the electric vehicles developed by Elbflorace,students from Dresden University use Nikon measuring technology to measure and test their automobile components.

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Aplicaciones industriales
 

Folletos

Overview brochure
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MCT225
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Estudios de casos

University of Leuven applies metrology CT to research geometrical accuracy of inner and outer features of industrial components
University of Leuven applies metrology CT to research geometrical accuracy of inner and outer features of industrial components

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Elbflorace verifies the quality of new vehicle technology using Nikon's CT technology
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