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Inspect-X:  software de procesamiento y adquisición de rayos X y TC

nikon metrology software x ray ct Inspect XInspect-X está diseñado pensando en la experiencia del usuario, para lograr inspección de rayos X intuitiva y productiva. Inspect-X cuenta con asistentes fáciles de usar para orientar a los usuarios en las inspecciones complejas, además de emplear las más avanzadas funcionalidades de visualización y análisis. Los sistemas XT V con Inspect-X permiten la rápida implementación de nuevas líneas de producción, en cuestión de minutos en lugar de horas o días.

Ventajas

  • Centrado en aumentar la productividad de la inspección de rayos X en electrónica
  • Basado en el flujo de trabajo: todos los controles necesarios disponibles para el proceso del usuario
  • Visualización interactiva o inspección completamente automática
  • Imágenes ultra nítidas para tomar las decisiones correctas
  • La captura de imágenes con alta resolución y alto aumento revela todos los defectos
  • Análisis de apto/no apto automatizado y específico de componentes para BGA, hilos de unión
  • Generación automática de informes HTML
  • Adquisición de TC integrada
  • Mínimo período de capacitación
 
Video
 
Ventajas y características
 

nikon metrology software x ray ct Inspect X real time xray inspectionInspección de rayos X en tiempo real

  • Movimientos de mouse y mandos en pantalla, además de intuitivo control con mando convencional para posicionamiento interactivo de piezas en vivo
  • Aumento variable y ángulo de visualización inclinado para permitir detección de defectos como HiP en tiempo real
  • Aumento, inclinación y rotación en todas las posiciones, mantenimiento una región de interés fija al centro del campo de visión
  • El motor de captura de imágenes C.Clear ofrece imágenes en vivo extremadamente claras
  • Generador de imágenes en tiempo real para visualización interactiva

es Page 52Mejoramiento y análisis de imágenes

C.Clear se adapta inteligentemente a las condiciones cambiantes de los rayos X y las posiciones de la muestra, ajustando automáticamente los controles, el contraste y el brillo para entregar las imágenes más claras y nítidas a fin de ayudar en la detección de defectos. Pueden seleccionarse filtros y mejoras en tiempo real, almacenados como perfiles del usuario, para adaptarse a distintos tipos de muestra o las preferencias del operador.

Con C.Clear, los operadores pueden tomar decisiones rápidas y fundamentadas para permitir la detección de defectos correctamente al primer intento, especialmente aquellos difíciles de detectar dentro de hilos de unión complejos o BGA de varios niveles. El motor de captura de imágenes C.Clear permite que los fabricantes aumenten el rendimiento de la inspección y reduzcan los falsos positivos, para mejorar la calidad y la eficiencia.

  • Filtros y mejoras en tiempo real, almacenados como perfiles del usuario, para adaptarse a distintos tipos de muestra o las preferencias del operador
  • Filtros de procesamiento de imágenes (nitidez, alisado, detección de bordes, estampado, sustracción de fondo, etc.)
  • Histograma de imágenes

Herramienta de análisis de BGA: análisis defectos automatizado de última generación

La nueva herramienta de BGA ofrece potente procesamiento de imágenes, análisis completamente automatizado e informes detallados para inspeccionar bastidores complejos como PoP o placas con doble capa. Con su potente algoritmo de procesamiento de imágenes, la herramienta entrega resultados precisos incluso en montajes de placa complejos con componentes ocultos. La herramienta permite crear una biblioteca interna de plantillas de BGA con un asistente o importación de archivos para reducir el tiempo necesario para crear rutinas automatizadas de inspección de apto/no apto.

La funcionalidad de inspección de dispositivos BGA es una herramienta ‘todo en uno’ que ofrece análisis automático de:

  • Vacío (porcentaje de bola total e individual)
  • Circularidad de bola
  • Conteo de bolas
  • Puentes
  • Aprobar/desaprobar

nikon metrology software x ray ct Inspect X bga analyis wizard Asistente de definición de plantillas de BGA nikon metrology software x ray ct Inspect X bga analyis reportInforme que indica vacíos de BGA fuera de tolerancia

 

 


nikon metrology software x ray ct Inspect X bond wire analysisAnálisis de hilo de unión

Con alto aumento y detección de características (sub)micrónica, las plataformas XT V equipadas con Inspect-X son una potente herramienta para inspección avanzada de hilos de unión.  La nueva herramienta automatizada para hilo de unión múltiple permite inspecciones repetibles con la mayor precisión.

  • Identifique y detecte hilos de unión rotos y haga barrido de cables con estado apto/no apto
  • Analice automáticamente múltiples hilos de unión de un dispositivo en una sola inspección
  • Pueden guardarse plantillas de componentes en una biblioteca interna para acelerar la creación de futuras rutinas de inspección

nikon metrology software x ray ct Inspect X reportInformes reveladores

Inspect-X ofrece un conjunto de herramientas fáciles de usar y plantillas HTML personalizables, para infinidad de posibilidades de generación de informes automatizados o en tiempo real. Los informes pueden compartirse fácilmente con colegas o proveedores para facilitar la toma de decisiones. Los resultados quedan disponibles para análisis fuera de línea y solución de problemas en la estación de validación.


Maximizar la productividad

nikon metrology software x ray ct Inspect X maximize productivityAutomatización de Inspect-X

En modo de inspección automatizada, el XT V junto con Inspect-X forman una productiva solución de rayos X para inspección repetida de placas de circuito impreso, semiconductores y placas complejas de alta densidad. La creación y ejecución de rutinas de inspección es sencilla con la interfaz gráfica o la funcionalidad de capacitación y aprendizaje.

  • Macros para automatizar tareas simples y repetitivas
  • Programas de inspección para análisis e inspección automatizados de placas completas o componentes múltiples
  • Los programas de inspección automatizados no requieren conocimientos de programación para utilizar la interfaz gráfica o la funcionalidad de capacitación y aprendizaje
  • Control de programa inteligente (ipc) para personalizar completamente el control del sistema
  • Estación de validación fuera de línea para maximizar la eficiencia del sistema de rayos X
  • Función de informes HTML legibles en cualquier PC, sin necesidad de software especial
  • Cambio sin problemas entre modo radiográfico (2D) y TC (3D) en un solo software
  • La verificación visual durante la rutina de inspección automática permite inspección interactiva

nikon metrology software x ray ct Inspect X integrated ct acquisitionAdquisición de TC integrada

Los usuarios que requieran percepción en detalle de componentes electrónicos (multicapa) pueden aprovechar la funcionalidad de tomografía computarizada optativa para obtener una vista completa en 3D de la estructura interna.

  • Adquisición y análisis de TC como opción de fábrica o actualización en terreno
  • Recopilación de datos de TC fácil y guiada por el usuario
  • Vuelva a examinar en solo dos pasos
  • Liderazgo mundial en tiempo de reconstrucción
  • Reconstrucción automática de datos TC transmitidos desde el sistema XT V
  • Potente análisis TC en el software que elija
 
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