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Eclipse MA200: el microscopio metalúrgico más avanzado de Nikon. 

nikon metrology industrial microscopes inverted MA200El Eclipse MA200 es un microscopio invertido con diseño innovador, optimizado para captura de imágenes digitales y eficiencia ergonómica. El MA200 cuenta con inteligencia integrada para combinar automáticamente las imágenes captadas con los datos en su configuración de observación para hacer una documentación más exhaustiva. Además, su nuevo y exclusivo diseño de caja facilita el acceso a la muestra en la platina y el revólver, con un tercio del tamaño del modelo convencional. 

Aplicaciones 

  • Metalurgia, fabricación de metal  
  • Análisis de la nodularidad y las escamas de hierro fundido, granulometría 
  • Examen de superficies
  • Antenas, óptica de telescopios
  • Telecomunicaciones y electrónica
  • Teléfonos móviles, afeitadoras y relojes
 
Ventajas y características
 

nikon3Diseño compacto y durable 

El diseño compacto emplea torretas internas que evitan el ingreso de polvo a los filtros de iluminación, para que esta se mantenga brillante y uniforme. Además la alimentación está incorporada para ahorrar espacio.

  • Firme cuerpo principal tipo caja
  • Operación completamente frontal
  • Alta visibilidad de la muestra
  • Sistema de filtro tipo torreta
  • Mecanismo sincronizado A/P
  • Diafragmas de apertura sincronizados con cambio B/D
  • Mecanismo de prevención de destellos
  • Bajo consumo de energía, pero el brillo supera al de 12V-100W.
  • Cuerpo a prueba de polvo y antiestático

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 Operación sencilla 

  • Controles: todos los controles están en la parte delantera del instrumento para maximizar la operabilidad.
  • Verificación de estado rápida: la posición de observación de la lente objetivo y la muestra puede verificarse fácilmente desde el panel delantero del microscopio.  
  • Mecanismo de enclavamiento de analizador/polarizador: vincula la conexión/desconexión del analizador/polarizador. 
  • Controls Cambio de apertura automático de campo claro/oscuro: el tope de apertura y de campo se abre automáticamente cuando se pasa de campo claro a oscuro. Al volver a observación de campo claro, se reproduce la configuración anterior del tope de apertura y campo.   
  • Mecanismo de prevención de flash: los flashes por reflexión al cambiar de lentes objetivo de previenen automáticamente.    

nikon8Sistema óptico CFI60-2 de clase mundial 

La óptica CFI60-2 de clase mundial de Nikon entrega imágenes de campo claro claras y de alto contraste, además de imágenes de campo oscuro con el triple de brillo que los modelos convencionales. 

 

Characterísticas: 

  • Rendimiento óptico superior en todos los métodos de observación  
  • Optimizado para captura avanzada de imágenes digitales  
  • Entrega imágenes planas y nítidas  
  • Sistema óptico sin plomo  
  • Nuevos objetivos metalúrgicos disponibles  
  • Objetivo de aumento extra bajo de 1, 2.5 con excelente planeidad  
  • Objetivos de alto aumento de alta calidad (50, 100 aumentos) 

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Iluminación uniforme

La uniformidad mejorada de la iluminación produce imágenes claras, especialmente para captura digital. 


Campo de visión amplio 

El MA200 cuenta con un campo de visión súper amplio, con un diámetro de ocular de 25 mm. Con la combinación de las nuevas lentes objetivo de 1 aumento, una muestra de 25 mm de diámetro puede observarse en un solo campo de visión. 


Análisis de imágenes 

La unidad de control de cámara DS-U2 y el software de captura de imágenes NIS-Elements de Nikon permiten que el usuario haga toda clase de tareas, desde captura básica hasta medición, análisis y administración de las imágenes captadas. 

nikon11Pantalla de estado

Muestra información como el aumento de la lente objetivo y las condiciones de iluminación. Los datos de calibración se modifican automáticamente cuando se cambia el aumento del objetivo. Esta característica facilita el uso de la función de medición y otros módulos de software optativos, como análisis de granularidad y hierro fundido en NIS-Elements. 
El ajuste de iluminación cuantitativo, fundamental para adquirir la configuración óptima para observación, captura de imágenes y especialmente unión de imágenes grandes, puede realizarse mediante PC. 

Unión 

Es posible unir imágenes adyacentes para crear una imagen con campo amplio. Ahora es posible captar imágenes aún más vívidas gracias a la uniformidad mejorada del sistema de iluminación. 

Medición de granularidad 

Mide la granularidad y muestra los resultados con base en las normas JIS y ASTM.

Medición de nodularidad de grafito 

Mide la nodularidad de grafito del hierro fundido rectificado y muestra los resultados con base en las normas JIS y ASTM. 


nikon metrology industrial microscopes DS L3 camera MA200Captura de imagen 

Unidad de control de cámara DS-L3

La gran pantalla incorporada de alta definición de 8.4 pulgadas XGA LCD le permite ver y analizar la muestra sin necesidad de observar los oculares.

Guarde/imprima datos con facilidad  

Las imágenes captadas pueden guardarse en una memoria USB o tarjeta CF. Además de imprimir directamente a través de una impresora compatible con PictBridge, puede guardar datos en un servidor a través de LAN.

Pantalla de estado

Muestra información sobre la lente objetivo y las condiciones de iluminación. Ya que los datos de calibración correctos se modifican automáticamente con el cambio de aumento, la función de medición sencilla del DS-L2 puede emplearse con facilidad.

El ajuste de iluminación cuantitativo puede hacerse manualmente visualizando el valor de voltaje. Esto es fundamental para adquirir la configuración óptima para observación y captura de imágenes 


Luz halógena que ahorra energía 

La fuente de luz halógena de 50 W alcanza el mismo brillo que la fuente anterior de 100 W, con aproximadamente la mitad del consumo. 

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Accesorios

  • Revólver motorizado de la serie LV  
  • Amplio portamuestras  
  • Base diascópica  
  • Fuente de iluminación de fibra INTENSILIGHT  
  • Módulo de aumento  
 
Especificaciones

Cuerpo principal

Mecanismo de enfoque 

Revólver de enfoque (platina fija), perilla de ajuste aproximado/fino coaxial (par ajustable)
Ajuste aproximado de 4.0 mm por rotación, fino de 0.2 mm por rotación  

Iluminación 
Con prevención de destellos, filtro de corte de UV incorporado  
Diafragma de campo: dial continuo variable (centrable), diafragma de apertura: dial continuo variable (centrable)  

Filtro: torreta doble (ND16, ND4/GIF, NCB, opción adicional disponible), bloque de polarización (seleccionable con o sin placa de 1/4)  
Bloques de filtro de fluorescencia: B/G/V/BV, lámpara halógena de 12 V 50 W incorporada, iluminador por fibra C-HGFI HG 

Distribución de la luz 
Cabezal/puerto posterior: 100/0, 55/45 

Óptica

Sistema CFI60 /CFI60-2 

Imagen de observación

Imagen de superficie 

Método de observación

Campo claro/oscuro/polarización simple/DIC/epifluorescencia 

Revólveres rotativos

MA2-NUI5: revólver de campo claro/oscuro/DIC  con 5 posiciones, LV-NU5A: revólver motorizado de campo claro/oscuro/DIC con 5 posiciones
D-NID6: revólver de campo claro  con 6 posiciones (inteligente), D-NI7: revólver de campo claro con 7 posiciones (inteligente)

Platina

Platina rectangular de 3 placas MA-SR 
Recorrido de 50 x 50 mm (incluye dos insertos de platina (ø20 mm y 40 mm de apertura) y mando coaxial a la derecha 
Dimensiones: 295 x 215 mm, recorrido: 50 mm x 50 mm (con graduación de distancia), accesorio estándar: portaobjetos universal de ø22 (con portamuestras)  

Cabezal trinocular

Seidentopf, ajuste de distancia interpupilar 50-75 mm  

Potencia de entrada 

100-240 V, 50-60 Hz

Consumo de energía

1.2 A 75 W

Peso

Aprox. 26 kg (según la combinación)  

Opción

Aumentointermedio
Torreta (1, 1.5, 2 aumentos), detección de estado (información de aumento a la unidad principal)

Escala  
Retícula de granularidad MA2-GR (ASTM E112-63 granulometría 1 a 8), retícula de cuadrícula (20 líneas, 0.5 mm) 
Retícula de escala MA2-MR (compatible con 5-100 aumentos, lectura en um, sistema de dial)  

 
Folletos
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