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Eclipse LV150NA: captura de imágenes digitales combinada con sistema óptico evolucionado

nikon metrology industrial microscopes upright LV150NA

Un microscopio motorizado tipo revólver que satisface las diversas necesidades de observación, inspección, investigación y análisis en una amplia gama de campos industriales. La mayor AN y la distancia de trabajo más larga que nunca se traducen en rendimiento óptico superior y captura de imágenes digitales eficiente.

Tamaño máx. de muestra: 150 x 150 mm

Principales ventajas

  • Cuerpo de microscopio modularizado, aplicable con diversas observaciones y tareas
  • La nueva serie CFI60-2 ofrece el máximo en distancia de trabajo y la aberración cromática más avanzada en un cuerpo liviano
  • Fácil captura de imágenes digitales
 
Ventajas y características
 

Tipo de microscopio

  • Modelos con iluminación reflejada dedicada
  • Tipo motorizado (revólver)

Platinas compatibles

  • Platina LV-S32 3x2 (recorrido: 75 x 50 mm con placa de cristal)
    *Puede equiparse con placa LV-S32SPL ESD
  • Platina LV-S6 6x6 (recorrido: 150 x 150 mm) 
    *Puede equiparse con soporte de oblea LV-S6WH/placa LV-S6PL ESD
  • Platina giratoria LV-SRP P
  • Platina P-GS2 G 2 (se utiliza con adaptador de platina LV-SAD)

Nueva serie CFI60-2

La nueva serie CFI60-2 ofrece el máximo en distancia de trabajo y la aberración cromática más avanzada en un cuerpo liviano

La serie CFI60-2 ofrece mayor AN y distancias de trabajo más largas que nunca.

nikon metrology industrial microscopes upright Eclipse objectives for brightfield observation

Objetivos para observación de campo claro (epi)


Cuerpo de microscopio modularizado, aplicable con diversas observaciones y tareas

Compatible con observaciones de campo claro, campo oscuro, polarización simple, DIC, epifluorescencia e interferometría de doble haz.

Respalda diversas aplicaciones avanzadas de investigación, análisis e inspección.

Métodos de observación compatibles:

nikon39

*Seleccione la lente adecuada para cada observación


Fácil captura de imágenes digitales

nikon40

La información sobre el objetivo utilizado se detecta y visualiza en la unidad de control de cámara. Además, la información se convierte automáticamente en datos de calibración adecuados al momento de cambiar el aumento.

  • Sistema de cámara digital para microscopía serie Digital Sight
  • Software de captura de imágenes NIS-Elements
 
Especificaciones
Unidad de base: Altura máxima de la muestra: 38 mm (cuando se utiliza con revólver LVNU5AI U5AI y platina LV-S32 3x2/LV-S64 6x4)
* 73 mm cuando se utiliza con elevador de una columna Fuente de alimentación interna de 12V-50W para las perillas de ajuste fino, grueso y regulación de la luz
Izquierda: ajuste grueso y fino/derecha: ajuste fino, recorrido de 40 mm Ajuste grueso: 14 mm/vuelta (con ajuste de par, mecanismo de reenfoque)
Ajuste fino: 0.1 mm/vuelta (1 μm/graduación) Intervalos del orificio de montaje de platina: 70 x 94 (fijado con tornillo 4-M4)
Revólveres: Revólver quíntuple universal motorizado ESD LV-NU5A
Revólver quíntuple universal motorizado ESD LV-NU5AC
Iluminador episcópico: LV-UEPI-N 
Caseta para lámpara precentrada 12V-50W LV-LH50PC Interruptor de campo claro/oscuro y tope de apertura conectado (centrable), diafragma de campo (centrable) Acepta filtro de ø 25 mm (NCB11, ND16, ND4), polarizador/analizador, placa, compensador de luz de excitación; equipado con exterminador de ruido

LV-UEPI2 
Caseta para lámpara precentrada 12V-50W LV-LH50PC Iluminador por fibra precentrado HG: C-HGFIE (con ajuste de luz) *optativo Interruptor de campo claro/oscuro y tope de apertura conectado (centrable), diafragma de campo (centrable), función de cambio de elemento óptico automatizado adaptada al interruptor de campo claro, campo oscuro y epifluorescencia Acepta filtro de ø 25 mm (NCB11, ND16, ND4), polarizador/analizador, placa λ, compensador de luz de excitación; equipado con exterminador de ruido
Cabezales oculares: Cabezal trinocular ESD LV-TI3 (imagen vertical, campo de visión: 22/25)
Cabezal trinocular inclinable LV-TT2 TT2 (imagen vertical, campo de visión: 22/25)
Cabezal binocular C-TB (imagen invertida, campo de visión: 22)
Cabezal binocular P-TB (imagen invertida, campo de visión: 22)
Cabezal trinocular P-TT2 (imagen invertida, campo de visión: 22)
Platinas: Platina LV-S32 3x2 (recorrido: 75 x 50 mm con placa de cristal) compatible con ESD
Platina LV-S64 6x4 (recorrido: 150 x 100 con placa de cristal) compatible con ESD
Platina LV-S6 6x6 (recorrido: 150 x 150 mm) compatible con ESD
Oculares: Serie CFI
Lentes objetivo: Microscopio industrial, sistema óptico CFI60-2/CFI60 Serie de lentes objetivo: combinaciones según el método de observación
Rendimiento ESD: 1000 a 10 V, dentro de 0.2 seg. (excluidos ciertos accesorios)
Peso: Aproximadamente 8.7 kg
 
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