Productos Microscopios industriales Semiconductor microscopes Semiconductor microscopes Nikon Metrology Visión general Eclipse L200N Series Sistemas de microscopio de inspección de obleas y máscaras de 200 mm para identificación de defectos con luz reflejada. Eclipse L300N Series Sistemas de microscopio de inspección de obleas y máscaras de 300 mm para identificación de defectos con luz reflejada. NWL200 Avanzado cargador de obleas para inspección de circuitos integrados, con capacidad para cargar obleas de 100µm.
