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Eclipse L200N Series

Eclipse L200N Series

Sistemas de microscopio de inspección de obleas y máscaras de 200 mm para identificación de defectos con luz reflejada. 

Eclipse L300N Series

Eclipse L300N Series

Sistemas de microscopio de inspección de obleas y máscaras de 300 mm para identificación de defectos con luz reflejada.

NWL200

NWL200

Avanzado cargador de obleas para inspección de circuitos integrados, con capacidad para cargar obleas de 100µm.

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