Eclipse LV150NL: captura de imágenes digitales combinada con sistema óptico avanzado con iluminación LED

nikon metrology industrial microscopes upright LV150NL

Un microscopio manual tipo revólver que satisface las diversas necesidades de observación, inspección, investigación y análisis en una amplia gama de campos industriales. La mayor AN y la distancia de trabajo más larga que nunca se traducen en rendimiento óptico superior y captura de imágenes digitales eficiente.

Tamaño máx. de muestra: 150 x 150 mm

Principales ventajas

  • Cuerpo de microscopio modularizado, aplicable con diversas observaciones y tareas
  • La nueva serie CFI60-2 ofrece el máximo en distancia de trabajo y la aberración cromática más avanzada en un cuerpo liviano
  • Fácil captura de imágenes digitales
  • ECLIPSE LV150NL con iluminación LED

Aplicaciones

  • Antenas
  • Telecomunicaciones y electrónica
  • Óptica de telescopios
  • Teléfonos móviles, afeitadoras y relojes 

Ventajas y características

Tipo de microscopio

  • Modelos con iluminación reflejada dedicada
  • Manual

ECLIPSE LV150NL con iluminación LED

También está disponible una versión del LV150NL que protege el medio ambiente, ya que consume menos energía a través de la iluminación LED de larga duración.

Cuerpo de microscopio modularizado, aplicable con diversas observaciones y tareas

Compatible con observaciones de campo claro, campo oscuro, polarización simple, DIC, epifluorescencia e interferometría de doble haz.
Respalda diversas aplicaciones avanzadas de investigación, análisis e inspección.

Métodos de observación compatibles:

new ES 7 1 11 1

*Seleccione la lente adecuada para cada observación


Platinas compatibles

  • Platina LV-S32 3x2 (recorrido: 75 x 50 mm con placa de cristal)
    *Puede equiparse con placa LV-S32SPL ESD
  • Platina LV-S6 6x6 (recorrido: 150 x 150 mm)
    *Puede equiparse con soporte de oblea LV-S6WH/placa LV-S6PL ESD
  • Platina giratoria LV-SRP P
  • Platina P-GS2 G 2 (se utiliza con adaptador de platina LV-SAD)

Nueva serie CFI60-2

La nueva serie CFI60-2 ofrece el máximo en distancia de trabajo y la aberración cromática más avanzada en un cuerpo liviano

La serie CFI60-2 ofrece mayor AN y distancias de trabajo más largas que nunca.

nikon metrology industrial microscopes upright Eclipse objectives for brightfield observation

Objetivos para observación de campo claro (epi)


Fácil captura de imágenes digitales

nikon metrology industrial microscopes upright digital imagingLa información sobre el objetivo utilizado se detecta y visualiza en la unidad de control de cámara. Además, la información se convierte automáticamente en datos de calibración adecuados al momento de cambiar el aumento.

  • Sistema de cámara digital para microscopía serie Digital Sight
  • Software de captura de imágenes NIS-Elements

 

Folletos

 

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