Eclipse LV-DAF: el microscopio vertical perfecto con sistema de autoenfoque para microscopios Eclipse LV y aplicaciones de equipos originales.

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El LV-DAF ofrece autoenfoque rápido y versátil con el sistema de autoenfoque híbrido, para aprovechar al máximo ambos tipos de autoenfoque. Combina proyección dividida y detección de contraste, cuenta con gran rango de enfoque y capacidad de seguimiento rápido. Se admiten diversos métodos de observación como campo claro, campo oscuro y contraste de interferencia diferencial (DIC), además de diversas muestras transparentes.

Aplicaciones

  • Antenas
  • Telecomunicaciones y electrónica
  • Óptica de telescopios
  • Teléfonos móviles, afeitadoras y relojes 

Ventajas y características

Autoenfoque híbrido

Existen dos tipos comunes de sistemas de autoenfoque para microscopios: de proyección dividida y detección de contraste.

El sistema de proyección dividida proyecta una imagen dividida y luego detecta el cambio de la luz reflejada. Este sistema es útil cuando se requiere gran rango focal.

El sistema de detección de contraste proyecta un patrón dividido y luego detecta el contraste de la luz reflejada. Este sistema es útil cuando se requiere enfoque preciso. Esto es posible porque este sistema de autoenfoque se ve menos afectado por la variación de la superficie de la muestra.

El autoenfoque híbrido combina las ventajas de ambos sistemas y permite aprovechar el máximo su potencial combinado.

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Diseño

El controlador tiene el mismo diseño de hardware que el LV-ECON y tamaño compacto que permite apilarlos y utilizarlos en cualquier lugar.


Compatibilidad con microscopios de la serie LV

El LV-DAF puede combinarse con otros productos de la serie LV. Cuando se combina con LV-ECON, permite observación en condiciones óptimas para cada muestra en particular.


Kit de desarrollo de software

Nikon ofrece un kit de desarrollo de software (SDK) para integrar el LV-DAF a diversos sistemas. (La compatibilidad solo está garantizada para productos Nikon).


Control

El LV-DAF puede controlarse desde PC o un sistema de cámara digital DS-L2 para microscopios a través de USB o RS232C.


Programa de ajuste automático

El programa de ajuste automático, incluido como estándar, permite configurar el sistema con facilidad y rapidez. El programa hace un ajuste automático después de que el usuario enfoca el sistema y presiona el botón para iniciar la configuración. También es posible ajustar/registrar automáticamente los parámetros óptimos de cada tipo de muestra y recuperarlos según la muestra fotografiada.


Fuente de luz LED

El LV-DAF emplea LED brillante para la fuente de luz de autoenfoque. Y ya que también ajusta automáticamente el volumen de luz de autoenfoque para la muestra, admite muestras con reflectividad baja a alta.


Múltiples métodos de observación

Se admite una amplia gama de métodos de observación como campo claro, campo oscuro y DIC. También se admiten muestras reflectantes y transparentes.


Gran rango focal

El rango focal es notablemente más grande que solo con detección de contraste. Esto significa que las muestras con distorsiones en la superficie, como un sustrato de cristal líquido, pueden rastrearse rápidamente para acelerar el enfoque.


Especificaciones

¹ Algunas limitaciones para 2.5 y 100 aumentos.
² Con la muestra de deposición en vapor Cr estándar de Nikon.
³ Con el LV-IMA o LV-FMA 

 
Sistema de detección: Sistema híbrido que combina proyección dividida con detección de contraste
Fuente de luz de LED infrarrojo cercano (λ = 770 nm)
Lente objetivo: CFI60 2.5-100 aumentos (incluye distancia de trabajo extra larga (ELWD), súper larga (SLWD) y CR para inspección de sustrato LCD)
Modos de autoenfoque: Continuo y de búsqueda (sencillo, continuo)
Rango focal: Rango focal sin búsqueda (campo claro)²
2.5 aumentos: 5.5 mm o más, 5 aumentos: 4.5 mm o más, 10 aumentos:
1.3 mm o más, 20 aumentos: 320 μm o más, 50 aumentos: 50 μm o más,
100 aumentos: 10 μm o más
Tiempo de enfoque: 0.7 segundos o menos (20 aumentos: 200 μm sin búsqueda)² ³
Precisión focal (capacidad de reproducción): 1/2 o menos profundidad focal² ³
Función de compensación de autoenfoque: Permite observación con ajuste preciso de la posición focal mientras se aplica autoenfoque
Resolución mínima: 0.05 μm¹
Comunicación externa: RS232C, USB y E/S en paralelo
Fuente de alimentación eléctrica: 100-240 V AC, 1.0 A, 50/60 Hz
Compensador: Estándar 1/4 de onda y placa de tintes: cuña de cuarzo o compensador Senarmont insertado en la ranura intermedia
 

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