Escáner láser XC65Dx: el escáner cruzado 3 en 1 fundamental para la inspección de características 3D

Gracias a su configuración patentada de triple láser, el escáner cruzado XC65Dx captura información completa sobre características geométricas 3D complejas y superficies de forma libre en un solo escaneo. Se puede adaptar sin problema a la mayoría de las principales marcas de máquinas de medición por coordenadas (CMM). La productividad mejora enormemente al reducir el tiempo dedicado a programar rutas de escaneo, así como al reducir el tiempo real de medición. La inspección sin contacto mediante escaneo láser se adapta perfectamente al control de calidad cuando se trata de superficies blandas y frágiles que no se pueden medir mediante inspección táctil.

EL XC65DX-LS

El escáner XC65Dx-LS, variante del XC65Dx ofrece una distancia de separación más larga y ofrece distintas ventajas. Al capturar la geometría hasta una distancia de 170mm (7.1”), el escáner obtiene un acceso óptimo a características difíciles de alcanzar en el Cuerpo-en-Blanco, por ejemplo, o puede escanear sobre abrazaderas que mantienen los componentes en su posición. Por estas razones, el escáner XC65Dx-LS se usa con frecuencia en la CMM de brazo horizontal en la industria automotriz.

 

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Descripción general del producto

Desde la inspección de una pieza individual como la puerta de un automóvil hasta un vehículo completamente ensamblado, el XC65Dx es el escáner CMM ideal para la medición rápida y precisa de características geométricas y superficies complejas de formas libres. La programación de la pieza es fácil y la configuración de los tres láseres permite capturar todos los detalles de la pieza de manera eficiente y precisa. El usuario obtiene rápidamente más información sobre la calidad dimensional de las piezas.

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Inspección 3D eficiente y precisa
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Mediciones de características de alta precisión
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Mayor velocidad


Beneficios y características


nikon-metrology-3dmetrology-xc65dx-faster-inspectionInspección más rápida al eliminar la reorientación del escáner

Al ofrecer la capacidad de múltiples láser patentada, el XC65Dx o "Escáner cruzado" captura todos los detalles en 3D de características geométricas y superficies complejas en un solo paso de escaneo. Con los rayos láser que se proyectan desde 3 lados, el XC65Dx proporciona la máxima cobertura para que no sea necesario realizar múltiples escaneos con diferentes orientaciones del escáner. Esto evita reorientaciones repetidas y lentas del cabezal de la sonda, lo que ahorra un esfuerzo de enseñanza significativo y tiempo de ejecución de escaneo.

 

 



nikon-metrology-3dmetrology-xc65dx-unique-laser-intensity-adaptationAdaptación única de la intensidad del láser

Para escanear eficazmente diferentes superficies con colores variables o alta reflectividad, el escáner láser XC65Dx utiliza el rendimiento del sensor mejorado de tercera generación (ESP3) de Nikon Metrology. La tecnología patentada no solo proporciona un ajuste automático en tiempo real de la configuración del sensor entre las franjas láser sucesivas, sino también para cada punto individual a lo largo de la franja láser. Como resultado, los usuarios pueden escanear una gran variedad de materiales sin la necesidad de un ajuste de los parámetros del escáner o una preparación especial de las piezas.


 



nikon-metrology-3dmetrology-xc65dx-easy-macro-based-programmingProgramación sencilla basada en macros

El concepto único de tres láseres no solo acelera el funcionamiento, sino que también reduce el tiempo dedicado a la preparación para la medición. Como las características geométricas o las superficies de forma libre se pueden capturar en un solo paso en lugar de múltiples escaneos, la programación de las rutas de escaneo se simplifica drásticamente. Si bien la preparación de los planes de medición para herramientas de metrología tradicionales puede consumir un tiempo valioso para el operador y la CMM, esto se puede hacer en una fracción del tiempo con el escáner XC65Dx.

 



nikon-metrology-3dmetrology-xc65dx-seamless-retrofitSe adapta perfectamente con la mayoría de las principales marcas de CMM

Los escáneres Nikon Metrology XC65D-LS se pueden adaptar a una amplia gama de marcas de CMM para aumentar la productividad de inspección de las instalaciones de CMM existentes.

 


 

Especificaciones

 XC65Dx XC65Dx-LS 
Error de sondeo (MPEP)1 12 µm (0.00047") 15 μm (0.00060")
Longitud de la barra de bolas (MPEE)2 4+L/350(µm)
(0.00016+L/350) (")
4+L/350(µm)
(0.00016+L/350) (")
Prueba de palpador múltiple (MPE A1)3 9 μm (0.00035”) 9 μm (0.00035”)
Error de forma de sondeo ISO4 25 µm (0.00098”) 35 µm (0.00138”)
Error de tamaño de sondeo ISO todos5 45 µm (0.00177”) 80 µm (0.00315”)
Valor de dispersión de sondeo ISO6 48 µm (0.00189”) 60 µm (0.00236”)
Ángulo del cono ISO7 115 ° 125 °
Velocidad de escaneo Modo de escáner cruzado: 3 x 25,000 pts/s

Modo de escáner lineal: 1 x 75,000 pts/s

75 líneas/s
Modo de escáner cruzado: 3 x 25,000 pts/s

Modo de escáner lineal: 1 x 75,000 pts/s

75 líneas/s
Ancho de visión 3x65 mm (3x2.56”) 3x65 mm (3x2.56”)
Profundidad de visión 3x65 mm (3x2.56”) 3x65 mm (3x2.56”)
Distancia de separación (aproximado) 75 mm (2.95”) 170 mm (6.69”)
Dimensiones 155x86x142 mm (6.1x3.4x5.6”) 155x86x142 mm (6.1x3.4x5.6”)
Peso (aproximado) 440 g (0.97 lbs) 480 g (1.06 lbs)
Rendimiento del escáner mejorado ESP3 ESP3
Seguridad láser Clase 2 Clase 2
Compatibilidad del cabezal de la sonda PH10M, PH10MQ, CW43, PHS PH10M, PH10MQ, CW43, PHS

 

Todas las especificaciones de precisión son válidas para una CMM con una precisión de 2µm + L/350 o superior utilizando la esfera de prueba proporcionada por el fabricante
1Prueba Nikon Metrology comparable a EN/ISO 10360-2 MPEP utilizando ajuste de esfera 1 sigma.
2Prueba Nikon Metrology comparable a EN/ISO 10360-2 MPEE
3Prueba Nikon Metrology comparable a EN/ISO 10360-5 MPEAL Especificaciones de precisión según ISO 10360-8:2013:
4PForm.Sph.1x25:Tr:ODS,MPE : Error máximo de forma de sondeo utilizando 25 puntos representativos en el modo de escaneo traslatorio
5PSize.Sph.All:Tr:ODS,MPE : Error máximo de tamaño de sondeo (All) utilizando todos los puntos medidos en el modo de escaneo traslatorio
6PForm.Sph.D95%:Tr:ODS,MPL : Valor máximo de dispersión de sondeo utilizando el 95% de los puntos medidos en el modo de escaneo traslatorio
7Ángulo de cono: Región de la esfera en la que se seleccionan los puntos medidos


 

 

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