Nikon Metrology NV | Europe
Cambiar de ubicación
Bienvenido a Nikon Metrology, seleccione su región e idioma preferido.
 
 
 
Solicitar información
 

Obleas

nikon metrology industry electronic wafersEn el corazón de casi todos los productos electrónicos hay obleas; delgadas capas de materiales semiconductores en las cuales de construyen microcircuitos a través de la difusión y deposición de diversas sustancias. La industria de las obleas, una de las áreas más complejas de la tecnología moderna, ha existido bajo el principio histórico de que cada generación de circuitos debe ser más delgada, más eficiente y menos costosa.

En la actualidad, los fabricantes de obleas también enfrentan una creciente presión de los consumidores por comercializar sus últimos productos más rápido. Mientras en generaciones anteriores se lanzaban microcircuitos cada dos o cuatro años, hoy en día la renovación demora meses y muchos clientes esperan productos nuevos todos los años. Aunque el paso a dispositivos nanoscópicos puede ayudar a reducir el costo por función de cada dispositivo, los requisitos de diseño de estos circuitos de alto rendimiento también presentan nuevos desafíos técnicos para la metrología aplicada en su fabricación e inspección.

En este exigente entorno, hasta la más mínima desviación puede tener efectos derivados significativos que pueden implicar millones de dólares en pérdida de recursos y ventas. En esta industria, los fabricantes siempre deben estar atentos a los posibles problemas de producción en el borde de la oblea y también a los posibles defectos submicrónicos, como partículas contaminantes, líneas abiertas y cortos entre líneas. Por este motivo, los equipos de inspección de obleas trabajan con imágenes de luz transmitida y reflejada (mediante luz blanca o láser) para identificar tempranamente los defectos de la superficie durante el proceso de producción a fin de tomar medidas correctivas con celeridad.

 
Productos asociados