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Microelectrónica

nikon metrology industry electronic microelectronicMás pequeño, más barato, más rápido: lo que los fabricantes de dispositivos microelectrónicos siempre están pensando en lograr. En esta industria, cada nueva generación de productos debe superar el rendimiento de las anteriores, en bastidores más pequeños y sin aumentar los costos significativamente.

Estas normas de fabricación también afectan a cada uno de los componentes asociados a su fabricación como

  • Transistores
  • Condensadores
  • Inductores
  • Resistores
  • Diodos

A medida que el tamaño de estos dispositivos continúa disminuyendo, aumenta la necesidad de técnicas de medición cada vez más potentes para analizar placas de circuito cada vez más densas. A escalas menores, el efecto de cada imperfección se magnifica y las nuevas complicaciones para el diseño, como las fuerzas electrostáticas, comienzan a tener un efecto medible en el rendimiento.

Para monitorear la calidad del diseño y la producción en este entorno suele aplicarse una combinación de sistemas de microscopía. Entre ellos se incluyen los siguientes:

  • microscopía estereoscópica y óptica para detección general de errores e inspección de uniones;
  • microscopía metalúrgica de luz reflejada y transmitida para inspección de obleas; sistemas de medición por video para análisis metrológico detallado y generación de informes;
  • sistema de microscopio de inspección de obleas y máscaras para identificación de defectos con luz reflejada

La adición de cámaras digitales de alta resolución y software de análisis intuitivo pero potente puede mejorar aún más el control de calidad y ayudar a los fabricantes a prepararse para crear la siguiente generación de circuitos, con requisitos de ingeniería aún mayores.

Técnicas e instrumentos clave: microscopía estereoscópica, luz transmitida y reflejada, microscopios invertidos, sistemas de medición por video, cámaras digitales, NIS-Elements.

 
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