XT H 225 und MCT 225
Einzigartiges rotierendes Target und flexible Lösungen

Die branchenweit führenden Nikon Metrology Systeme der 225 kV Baureihen bieten äußerste Flexibilität und Vielseitigkeit für die Röntgen- und CT-Prüfung und messtechnische Anwendungen. Die Systeme der XT H 225, XT H 225 ST 2x, MCT und XT H 320 Baureihen bieten individuell konfigurierbare Lösungen für Anwendungen mit 2D-Röntgentechnik und 3D-Computertomografie (CT). Diese Systeme sind für einen umfangreichen Kundenstamm vorgesehen und erhalten weltweiten Support. Sie können für unterschiedlichste Anwendungen in Industriezweigen wie Fahrzeugbau, Luft- und Raumfahrt, Energie, Medizin- und Zahntechnik, additive Fertigung, Elektronik, Konsumgüter und vielen weiteren Sektoren eingesetzt werden.

 

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Produktübersicht

Das vielseitige XT H 225 System wird von der branchenweit führenden Software Inspect-X gesteuert. Sie bietet eine fortgeschrittene grafische Benutzeroberfläche der 6. Generation mit intuitiven Arbeitsabläufen für jeden Anwender. In Verbindung mit weltweit führenden Rekonstruktionszeiten und modernster Visualisierungs- und Analysesoftware bietet die XT H Baureihe das Komplettpaket für die Röntgen- und CT-Prüfung.

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Einzigartige Technologie mit rotierenden Targets
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Vielseitige Röntgen-CT-Lösungen
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Messende CT


Vorteile und Merkmale


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Röntgenquelle für jede Anwendung

Herzstück der überragenden Bildqualität von Nikon Metrology ist die weltweit führende Röntgenquellen-Technologie. Während Konkurrenzmodelle aus Flexibilitätsgründen Konfigurationen mit zwei Röntgenröhren erfordern, ermöglicht die Konstruktion der einzigartigen im eigenen Hause entwickelten Röntgenquelle von Nikon die Installation von bis zu fünf Targetköpfen auf derselben Röntgenröhrenbasis. Damit wird mit nur einer einzigen Röntgenröhre einmalige Flexibilität und Leistung erzielt.

Einfach austauschbare Röntgentargets – vom Transmissiontarget mit einer Merkmalerkennung im Submikrometerbereich, über ein 225 kV Reflexionstarget (mit einzigartiger Multimetall-Target-Option) bis hin zum weltweit einzigen rotierenden Target für herausragende Leistung – ermöglichen Optimierungen für eine Vielzahl von Prüfobjekten.

Und schließlich ist ein 320kV Mikrofokus-Target erhältlich, das eine stärkere Durchdringung dichterer Proben ermöglicht. Die einzelne, anpassbare Röhre bietet anders als andere Systeme eine hervorragende Bildqualität über mehrere Energieklassen und Auflösungen hinweg und erspart die zusätzlichen, unnötigen Wartungen und Kosten eines Ansatzes mit doppelter Röntgenröhre.



nikon metrology x ray xth225 versatilex rayctsolutionsVielseitige Röntgen-CT-Lösungen

Die XT H 225 und 320 Baureihen ermöglichen die individuelle Anpassung von Systemgrößen, Probengewicht, Röntgenröhrenleistung und Auflösungen und eine Auswahl an hochwertigen Flachdetektoren. Intuitive Hardware- und Softwareerweiterungen ermöglichen Optionen wie den verstellbaren Fokus-Detektor-Abstand zur Optimierung der Bildqualität und Scanningverfahren, wie X.Tend für hochauflösende Bilder von höheren Prüfobjekten, die das Scanningvolumen in der Höhenachse des Röntgensystems über mehrere Sichtfelder hinweg erweitern.

Das MCT 225 Prüfsystem für messtechnische CT-Anwendungen, die hohe Genauigkeit erfordern, ist gemäß dem der Richtlinie VDI/VDE 2630 entsprechenden Genauigkeitsstandard (MPE-Tests) vorkalibriert und konfiguriert. Die fortgeschrittene Inspect-X-Software mit intuitiven Arbeitsabläufen, grafischen Ansichten und Automatisierungsfunktionen steuert alle Systeme dieser Baureihe.

 

 



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Einzigartiges rotierendes Target

Nikon Metrology ist weltweit das einzige Unternehmen, das Röntgen-CT-Systeme mit rotierender Target-Technologie liefert. Andere Produkte auf dem Markt, die wärmeabsorbierende Materialien verwenden, erfordern Abkühlzeiten und können Leistungsbeschränkungen haben. Das einzigartige rotierende 225 kV Target ermöglicht jedoch einen Dauerbetrieb über den gesamten Leistungsbereich bis zu 450 W für einen überragenden Messdurchsatz.

Die flüssigkeitsgekühlte, rotierende Target-Technologie bietet zusätzliche Möglichkeiten zur Beeinflussung der Energieleistung, Auflösung und Reduzierung der Scanning-Zeit. Sie verteilt effizient die Wärme, die beim Auftreffen des Elektronenstrahls auf die Oberfläche entsteht, um Röntgenphotonen zu erzeugen. Dadurch wird der Röntgenfluss bis um das 5-fache erhöht, was eine bis zu dreimal höhere Auflösung bei gleicher Energieleistung ermöglicht oder die Datenerfassung bei gleicher Auflösung um das 3- bis 5-fache beschleunigt.



semi automated ct 5Automation und Integration

Die XT H Baureihe bietet automatische Betriebsarten zur Maximierung der CT-Produktivität. Automatisierte Arbeitsabläufe in der Produktion sind vollständig konfigurierbar, mit automatisierten Funktionen wie Scanning, Rekonstruktion und Datenanalyse. Die im eigenen Hause entwickelte Software CT Pro bietet weltweit führende Zeiten bei der Rekonstruktion, durchgeführt von leistungsstarken Computern, die von Nikon Metrology fachmännisch konfiguriert werden. Standardmäßig sind Optionen zur Bildoptimierung und Entfernung von Artefakten enthalten.

Für eine vollständige Automatisierung und nahtlose Integration in eine Produktionslinie kann die XT H-Baureihe mit automatischen Bestückungssystemen und Roboter-Nachrüstung konfiguriert werden. Neben der überragenden Bildqualität und führenden Rekonstruktionszeiten stehen anpassbare Analysetools mit Datenausgabe für die Automatisierung probenspezifischer Analysen zur Verfügung, die sowohl mit Nikons eigener als auch mit gängiger Software Dritter kompatibel sind.


 

Spezifikationen

 

nikon metrology x ray xth225 xt h 225 
XT H 225
Für die Prüfung kleiner bis mittlerer Teile
  nikon metrology x ray xth225 xt h 225 st
XT H 225 ST 2x
Flexibles System für verschiedenste Anwendungen
  nikon metrology x ray xth225 mct 225
MCT225
Hohe kV-Leistung für große und dichte Teile
  nikon metrology x ray xth225 xt h 320
XT H 320
Hochgenaue Röntgen-CT-Technik
Teilegrößeartartartart   Teilegrößeartartartart   Teilegrößeartartartart   Teilegrößeartartartart
Teiledichteartartartart   Teiledichteartartartart   Teiledichteartartartart   Teiledichteartartartart
Genauigkeitartartartart   Genauigkeitartartartart   Genauigkeitartartartart   Genauigkeitartartartart
Leistungartartartart   Leistungartartartart   Leistungartartartart   Leistungartartartart
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Standflächeartartartart   Standflächeartartartart   Standflächeartartartart   Standflächeartartartart