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XT H 225 ST – Industrielles CT Scanning

nikon metrology xray ct computed tomography XTH225STDas XT H 225 ST ist ein Computertomografie (CT) Prüfsystem, das ideal für unterschiedliche Materialien und Objektgrößen geeignet ist. Dies gilt besonders für Objekte, die zu groß oder zu schwer für andere Systeme dieser Größenordnung sind. Das System verfügt über drei untereinander austauschbare Röhren: die 225 kV Reflexionstarget-Röhre, die 180 kV Transmissionstarget-Röhre und die 225 kV Röhre mit rotierendem Target. In Verbindung mit einer großen Auswahl an Flachdetektoren ist das ST System ein vielseitiges Instrument für den Einsatz in Qualitätslabors, Produktionsanlagen und die Forschung.

Vorteile

  • Im eigenen Hause entwickelte 225kV-Mikrofokusröntgenröhre mit 3 µm Brennfleckgröße
  • Einfache Bedienung und wirtschaftlicher Betrieb
  • Verblüffende Bilder liefern tiefe Einblicke
  • Leistungsstarke Bilderfassung und Datenverarbeitung
  • Schnelle Automatisierung der Prüffunktionen
  • Sicherheit an erster Stelle

Anwendungen

  • Fehlersuche und Fehleranalyse
  • Montageprüfung komplexer Mechanismen
  • Dimensionale Messung innen liegender Komponenten
  • Teil-gegen-CAD-Vergleich
  • Erweiterte Materialforschung
  • Analyse biologischer Strukturen
  • Digitale Archivierung von Modellen
 
Vorteile und Merkmale
 

nikon metrology xray ct computed tomography XTH225ST superior accuracyÜberragende Genauigkeit und Leistungsfähigkeit durch im eigenen Hause entwickelte 225kV Mikrofokusröntgenröhre

Die standardmäßige Mikrofokusröntgenröhre verfügt über ein Reflexionstarget, das eine Brennfleckgröße von 3 µm bietet. Mit dem optionalen Transmissionstarget lässt sich eine sogar noch kleinere Brennfleckgröße und stärkere Vergrößerung erzielen. Unabhängig von der Auswahl des Targets kommt im XT H 225 System eine offene Mikrofokusröntgenröhre zum Einsatz, die besonders wirtschaftlich im Betrieb ist.


Verblüffende Bilder interner Strukturen

Eine kleine Brennfleckgröße und ein hochauflösender Flachdetektor sorgen für unvorstellbar scharfe Bilder.  Stimmen Sie die Auflösung auf Ihren Bedarf ab: das vollständige Objekt in grober Auflösung, das zu überprüfende Merkmal in hoher Auflösung.

nikon metrology xray ct computed tomography XTH225ST materials


nikon metrology xray ct computed tomography XTH225ST high performance processingDatenverarbeitung auf höchstem Niveau

Herzstück der leistungsstarken Datenverarbeitung ist das XT Softwarepaket, das auf der bewährten Erfolgsbilanz von Nikon Metrology aufbaut. Die Software optimiert den Messdurchsatz für Prüfobjekte und vereinfacht den Betrieb. Bediener können bereits nach einer kurzen Einarbeitungszeit mit dem System arbeiten. Die XT Software ermöglicht darüber hinaus die schnellste Rekonstruktion von CT-Daten, die derzeit auf nur einem PC möglich ist. Der PC besteht aus Standardkomponenten und ist daher wartungsfreundlich. Außerdem kann der Messdurchsatz für Prüfobjekte durch den Einsatz weiterer PCs gesteigert werden. Das komplette System ist zudem für marktführende CT Visualisierungs- und Datenverarbeitungsprogramme, wie beispielsweise VolumeGraphics, vorbereitet. 


nikon metrology xray ct computed tomography XTH225ST easy operationEinfache Bedienung und Automatisierung

Bediener sind bereits nach wenigen Einarbeitungstagen mit dem System vertraut. Ein CT-Assistent führt den Bediener durch alle Schritte der Datenerfassung.

Der Messablauf kann durch benutzerdefinierbare Makros automatisiert werden und die enge Integration mit Anwendungen zur Nachbearbeitung nach Industriestandard verkürzt den Entscheidungsprozess. 

 


Sicherheit an erster Stelle

Vollschutzkabine – entspricht den Strahlenschutzstandards CE und DIN 54113 – das Tragen von Schutzkleidung oder Strahlungsplaketten erübrigt sich. Kontinuierliche Failsafe-Überwachung während des Systembetriebs. Der externe Strahlenschutz ist besser als 1 µSv/h und doppelte Failsafe-Schalter/Relais gewährleisten einen sicheren Betrieb.


Geringe Betriebskosten

Die offene Röntgenröhre ermöglicht die vor-Ort-Wartung interner Komponenten im Rohr. Drei integrierte Räder ermöglichen die einfache Manövrierbarkeit durch doppelflügelige Türen. Das XT H 225 kann ohne besondere Verstärkung des Fußbodens installiert werden.


nikon metrology xray ct computed tomography XTH225STKonfigurieren Sie das System ganz nach Ihrem Bedarf

Manche Anwendungen erfordern detailliertere Bilder oder eine höhere Genauigkeit. Das XT H 225 kann mit verschiedenen Flachdetektoren (Varian, Perkin Elmer) oder Röhrenkomponenten (Reflexions-/Transmissionstarget) konfiguriert werden, sodass Sie das ideale System für Ihre Anforderungen erhalten.

Das XT H 225ST System stellt eine erweiterte Version dar, die größere Prüfobjekte mit einem Gewicht von max. 50 kg und einem Durchmesser von rund 50 cm aufnehmen kann.


Motorisierte FID

Der Detektor kann über die Rechnersteuerung in der Kabine näher an die Röntgenquelle gebracht werden. Die Röntgenabschwächung verringert sich während der Bewegung des Röntgenstrahls vom Brennfleck zum Bildgeber. Eine kürzere FID (Distanz zwischen Brennfleck und Bildgeber) ist gleichbedeutend mit einer Erhöhung der Röntgenintensität und einer kürzeren Belichtung des Bildgebers.
Das Ergebnis ist eine kürzere Aufnahmezeit. Alternativ kann eine kürzere FID hellere Bilder erzeugen, wenn Röntgenstrahlen niedrigerer Intensität eingesetzt werden. Beide Ergebnisse haben ihre Vorteile, wenn es nicht auf eine hohe Vergrößerung ankommt.

 
Technische Daten
Mikrofokus RöntgenquelleMax. kVMax. AnschlussleistungBrennfleckgröße
180 kV Transmissiontarget alternative configuration 180 kV 20 W 1 µm bis 3 W 20 µm bei 20 W
225 kV Reflexionstarget basic configuration 225 kV 225 W 3 µm bis 7 W 225 µm bei 225 W
225 kV Rotierendes Target alternative configuration 225 kV 450 W 10 µm bis 30 W 160 µm bei 450 W

 

Detektoren# BitsAktive pixelsPixel GrößeMax. Bildfrequenz
bei 1x1 Binning
Max. Bildfrequenz
bei 2x2 Binning
Varex 4343 alternative configuration 16-bit 2880 x 2880 150 µm 15 fps  30 fps
Perkin Elmer 1611 alternative configuration 16-bit 4000 x 4000 100 µm 3.75 fps 7.5 fps
Perkin Elmer 1620  alternative configuration 16-bit 2000 x 2000 200 µm 3.75 fps 7.5 fps
Perking Elmer 1621 EHS alternative configuration 16-bit 2000 x 2000 200 µm 15 fps 30 fps

 
 basic configuration :  Grundlagenkonfiguration
  alternative configurationAlternativkonfiguration

Manipulator 
# Achsen 5

Achsenverfahrweg

(X) 450 mm
(Y) 350 mm
(Z) 725 mm
(Tilt) +/- 30
(Rotate) n*360°
Max. Probengewicht 50 kg

 

Generelle Informationen  
Kabinenabmessungen (LxTxH) 2.414 mm x 1.275 mm x 23202 mm
Gewicht 4.200 kg
Sicherheitshinweis Sämtliche Nikon Metrology Röntgensysteme werden gemäß IRR99 hergestellt
Steuerung Sämtliche Nikon Metrology Röntgensysteme werden von der im Hause Nikon Metrology entwickelten Software Inspect-X gesteuert. 

 

 

 
Prospekte
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XT H Series
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33.649429, -117.710097

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 Mindarika designs and manufactures electrical switches for automotive OEMs. Requiring a non-destructive inspection method, the XT H 225 ST was installed to introduce non-destructive testing for an increased insight and high levels of quality.

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Being subject to excessive temperatures and pressures, the smallest variations or defects can enormously effect the performance of automotive components such as impellers in turbochargers. This makes 100% inspection necessary not only for dimensions but also for structural and build quality.

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At Duke University, X-ray micro CT equipment is used to research anthropology studying the origin of mankind. But also biotech firms, electronic materials companies, government research organizations, and others have interest in using CT.

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Industrielle Anwendungen
 
 

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