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X.Tend – Höhere Auflösung und Geschwindigkeit: „X.Tend“ steht für erweiterte CT-Scanningfähigkeiten

nikon metrology software x ray ct XTend working principle helicalIm Vergleich zum herkömmlichen kreisförmigen CT-Scannen bietet X.Tend Anwendern die Möglichkeit, die Reichweite des CT-Scans durch das vertikale Verfahren der rotierenden, höheren Bauteile im Röntgenstrahl zu erweitern. Teilscans an Objekten, die anschließend aneinandergefügt werden müssen, erübrigen sich mit X.Tend.

Vorteile

  • Schnellere Erfassung und Verarbeitung
    • Schneller als mehrere kreisförmige Scans in derselben Vergrößerungsstufe
    • Einfachere Installation von Prüfobjekten
  • Erhöhte Bildqualität
    • Keine Kegelstrahl-Artefakte (bessere Ergebnisse auf horizontalen Oberflächen)
    • Keine Ringartefakte
    • Keine Partialvolumenartefakte
  • Höhere Auflösung
    • Objekt muss nicht in ein einziges Bild passen
    • Scannen hoher Prüfobjekte in hoher Vergrößerung
 
Vorteile und Merkmale
 

Doppelt so schnelle CT-Erfassung höherer Objekte mit X.Tend

Beim Scannen hoher Werkstücke steht man häufig vor einem Dilemma: Entweder das vollständige Teil mit niedrigerer Vergrößerung zu scannen oder Teilbereiche mit hoher Vergrößerung zu scannen und dann mit einer Analysesoftware aneinanderzufügen. Im ersten Fall erhalten Sie eine niedrigere Auflösung, sodass einige Bildinformationen verloren gehen, im zweiten Fall wird es deutlich länger dauern, bis das Objekt gescannt, rekonstruiert und wieder zusammengefügt wurde. Außerdem werden Partialvolumeneffekte in den endgültigen Daten sichtbar sein. Teilscans an Objekten, die anschließend aneinandergefügt werden müssen, erübrigen sich mit X.Tend. Die Objekte sind leichter zu handhaben, da sie in vertikaler Richtung durch den Röntgenstrahl bewegt werden. Die Prozessverarbeitungszeit für Objekte wird um die Hälfte verkürzt, bei gleichzeitig höherer Bildqualität.

nikon metrology software x ray ct XTend doubles speed

 


Bessere Einblicke durch eine höhere Bildqualität

X.Tend verbessert die Bildqualität von CT-Scans, da Kegelstrahl-Artefakte, Ringartefakte und Partialvolumenartefakte, die alle Effekte kreisförmiger Scans sind, eliminiert werden. Außerdem bietet X.Tend Anwendern die Möglichkeit, Objekte in kurzer Distanz zur Röntgenquelle zu scannen, sodass Voxel-Daten in höherer Auflösung erzielt werden. Mit der neuen X.Tend-Technik werden klarere, aussagefähige Bilder erzielt, die unmissverständlich Defekte sichtbar machen und die Entscheidungsfindung bzw. Korrekturmaßnahmen beschleunigen.

nikon metrology software x ray ct XTend cd stack circular scanKreisförmiger Scan eines CD-Speichers: Kegelstrahl-Effekt an den Rändern des Speichersnikon metrology software x ray ct XTend cd stack xtend scanKontinuierliche Abtastung mit X.Tend: Kein Kegelstrahl-Effekt.

 
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