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JCM-6000 Plus NeoScope - Rasterektronenmikroskop in einer leistungsstarken und doch erschwinglichen Tisch-Version von Nikon und JEOL

nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope JCM 6000PlusDas JCM-6000Plus „NeoScopeTM“, das neueste der REM Tischsysteme, ist ein multifunktionales Rasterelektronenmikroskop mit Touchscreen-Bedienung. Es erfüllt die zunehmend unterschiedlichen Anforderungen von Anwendern weltweit. Das JCM-6000Plus ist mit dem gleichen hochempfindlichen Halbleiter-Detektor ausgestattet, der in höchstauflösenden REMs eingesetzt wird. Dadurch können nun neben der Darstellung und Topografie der Probe auch plastisch wirkende Aufnahmen erzeugt werden, die eine schnelle Erstellung von Analysen ermöglichen. Daneben wird für den Betrieb im Hochvakuum ein effizienter Sekundärelektronen-Detektor eingesetzt, um feinste Oberflächendetails der Probe in hoher Auflösung darzustellen.

Vorteile

  • Automatische Bilderstellung innerhalb von drei Minuten nach dem Einschleusen der Probe.
  • Hohe Auflösung (60.000-fach) und hohe Feldtiefe
  • Multi-Touchscreen Eingabegerät für eine intuitive Bedienung
  • Erweiterte Automatikfunktionen (Fokus, Stigma, Helligkeit/Kontrast)
  • Betrieb im Hoch- und Grobvakuum
  • Auswahl zwischen drei Beschleunigungsspannungen
  • Detektor zur Abbildung von Sekundär- und Rückstreuelektronen
  • Große Probenabdeckung (bis zu 70 mm Durchmesser)
  • Optionen: motorbetriebener Objekttisch und EDX
 
Video
 
Vorteile und Merkmale
 

Hochleistungsfähiges, innovatives System in kompakter Ausführung

nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope multi touch screenEinfache Bedienung über den Multi-Touchscreen oder die übliche Tastatur-/Maussteuerung

Intuitive Touchscreen-Bedienung mit neuer Bedieneroberfläche

  • Hochauflösende morphologische 3D-Betrachtung mit guter Fokussierung
  • Sekundärelektronen sowie Abbildung von Rückstreuelektronen für Informationen über die lokale Verteilung und Position von Elektronen
  • Wählbare Beschleunigungsspannungen
  • Betrieb im Hoch- und Grobvakuum
  • Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) mit umfassenden Funktionen und Siliziumdriftdetektoren (SDD-Technologie) (optional)
  • Messtechnische Unterstützung
  • Abbildung von geneigten, gedrehten Objekten (optional)

Kompakt, leicht und energiefreundlich

  • nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope compact designHandlich wie ein optisches Mikroskop
  • Grundgerät: 330 mm (B) x 490 mm (T) x 430 mm (H); 50 kg
  • Beschleunigungsspannung: Einphasig 100 V bis 240 V, 50/60 Hz, 700 bis 960 VA

Neue Möglichkeiten der Bildgebung

nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope simultaneous displayGleichzeitige Anzeige von Live-Bildern und gespeicherten Bildern für die vergleichende Beobachtung

  • Abbildung von Sekundär- und Rückstreuelektronen auch im Hochvakuum-Betrieb
  • Der neue hochempfindliche Rückstreuelektronen-Detektor liefert Bilddaten über Zusammensetzung und Topographie von Proben
  • Anzeige auf zwei Bildschirmen für den einfachen Vergleich zwischen Live-Bildern und gespeicherten Bildern
  • Hoher Vergrößerungsbereich, von der niedrigsten 10-fachen (mit Weitwinkelsichtfeld) bis zur 60.000-fachen Vergrößerung

Erweiterte Möglichkeiten im Grobvakuum

  • Neuer Rückstreuelektronen-Detektor
  • Einfache Beobachtung nichtleitender Proben direkt im Grobvakuum-Betrieb
  • Einschleusen und Abbildung der Probe in nur zweieinhalb Minuten

Einfacher Betrieb

  • Einfache Touchscreen-Bedienung
  • Umfassende Auswahl an Automatikfunktionen (Fokus, Astigmatismuskorrektur, Kontrast und Helligkeit)
  • Einfache, zuverlässige automatische Ausrichtung des Elektronenstrahls (Filamentzentrierung)

Probenhalter mit Kipp-/Rotationsantrieb

nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope tilt rotation motor drive holder

Der Probenhalter mit Kipp-/Rotationsantrieb ermöglicht dem Bediener eine gut fokussierte morphologische 3D-Betrachtung der Probe aus verschiedenen Neigungswinkeln und Drehrichtungen.


Optionales Zubehör

Energiedispersives Röntgenspektrometer

  • Energiedispersives Röntgenspektrometer (EDS) für die Elementaranalyse
  • Im Hause JEOL entwickeltes EDS
  • Schneller, zuverlässiger Kundensupport für garantierte Zufriedenheit

*Diese Option ist nachrüstbar


Beispiele

nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope samples boron clustersBorcluster

nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope campanula pollenGlockenblumen-
pollen
nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope samples dendrites2Lötreste

nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope samples dendritesLötreste

nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope samples diatomsKieselalgen

 

nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope samples flyseyeFliegenauge

nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope samples foamSchaum

nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope samples fractured concreteBetonbruch

nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope samples instant coffeeInstantkaffee

nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope samples instant coffee2Instantkaffee

 

nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope samples paperPapier nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope samples polymer stemPolymer-STEM nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope screwSchraube nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope samples worm stemWurm-STEM nikon metrology scanning electron microscopes JEOL NeoScope samples worm stem2Wurm-STEM

 
Technische Daten
Vergrößerung Abbildung von Sekundärelektronen: x10 bis x60.000 Abbildung von Rückstreuelektronen: x10 bis x30.000 (bei einer Bildgröße von 128 mm × 96 mm)
Bildgebungsmodus Abbildung von Sekundärelektronen, Rückstreuelektronen (zusammengesetztes, topographisches oder stereoskopisches Bild)
Beschleunigungsspannungen Sekundärelektronen-Aufnahme; 5 kV, 10 kV, 15 kV (3 Stufen) Rückstreuelektronen-Aufnahme; 10 kV, 15 kV (2 Stufen)
Elektronengewehr Kleines Elektronengewehr mit Filamentpatrone und integriertem Wehnelt
Vormagnetisierungsstrom Automatische Vormagnetisierung (gekoppelt an Beschleunigungsspannung und Filamentstrom)
Kondensorlinsen Zweistufige Kondensorlinsen für elektromagnetischen Zoom
Objektiv Elektromagnetisches Objektiv
 Automatische Vergrößerungskorrektur Die Vergrößerung wird unter Bezug auf die Probenhöhe korrigiert (7 mm, Messabstand 56 bis 53 mm, Messabstand 10)
Voreingestellte Vergrößerung 6 Stufen, vom Benutzer programmierbar
Objekttisch Handgeführte Steuerung in X und YX: 35 mm, Y: 35 mm
Maximale Probengröße Durchmesser 70 mm, Höhe 50 mm
Probenwechsel Ausschleusungsmechanismus
Bildspeicher 1.280 × 960 × 16 Bit, einer
Pixel 640 × 480, 1.280 × 960
 Bildverarbeitung Pixelspeicherung Bildspeicherung (rekursiv)
Automatikfunktionen Vollautomatische Filamentjustierung, Ausrichtung, Fokussierung, Astigmatismuskorrektur, Belichtung
Messen Abstand zwischen zwei Punkten, Winkeln
 Dateiformat BMP, TIFF, JPEG
 Computer PC (Desktop PC), Betriebssystem Windows® 7
 Monitor 23 Zoll LCD-Monitor (Touch-Bildschirm)
 Evakuiersystem Vollautomatisch, Turbomolekularpumpe (TMP): 1, Drehschieber-Vakuumpumpe: 1

 

Voraussetzungen für die Installation

Spannungsversorgung Spannung: 100 V Einphasen-Wechselstrom
(120 V, 220 V, 240 V)
50/60 Hz, 700 VA (Wechselstrom 100 V)
840 VA (Wechselstrom 120 V)
880 VA (Wechselstrom 220 V)
960 VA (Wechselstrom 240 V)
Schwankungsbreite ±10 % oder weniger, mit Erdung
Aufstellort Raumtemperatur: 15 bis 30 °C
Luftfeuchtigkeit: 60 % oder weniger
Arbeitstisch: Stabiler Tisch mit mindestens 100 kg Tragkraft
Gewicht  Hauptkonsole: circa 50 kg
Drehschieber-Vakuumpumpe: circa 9 kg
Stromanschlussteil: circa 10 kg
Abmessungen des Grundgeräts 325 mm (Breite) x 490 mm (Tiefe) x 430 mm (Höhe)
 
Prospekte
Industrial Instruments General Catalogue
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Overview brochure
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JCM 6000 Plus Neoscope
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Anwender- berichte
Scanning electron microscope supports development of next-generation ceramics
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A JCM-6000 NeoScope SEM microscope was deployed at Morgan Advanced Materials’ Innovation Hub in the UK. The world-class facility combining technically advanced analytical equipment and development expertise to meet the challenges of its customers.

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First teaching laboratory in Denmark with scanning electron microscopes
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Five Nikon Metrology SEMs will attract hundreds more students every year with the aim of promoting physics and nanotechnology.

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Nikon Metrology addresses the challenge of inspecting graphene
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In recognition of the importance of graphene, the new wonder material that is ultra-light and flexible yet 200 times stronger than steel, Nikon focuses on providing inspection solutions for research of these new industrial materials and its application areas.

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Prospekte

Industrial Instruments General Catalogue
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Overview brochure
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JCM 6000 Plus Neoscope
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Scanning electron microscope supports development of next-generation ceramics
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First teaching laboratory in Denmark with scanning electron microscopes
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Nikon Metrology addresses the challenge of inspecting graphene
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