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Inspect-X: X-Ray Technik für die Prüfung von Elektronikbauteilen

nikon metrology software x ray ct Inspect XBei der Entwicklung der Inspect-X Software wurden Röntgenanwendungen in den Mittelpunkt gestellt. Inspect-X orientiert sich an den Arbeitsabläufen des Endnutzers. Die Lernkurve der Bediener verkürzt sich und die Anzahl überflüssiger Klicks wird reduziert. Modernste Visualisierungs- und Analyseverfahren kommen zum Einsatz.

Das XT V System in Verbindung mit der Inspect-X Software ermöglicht die Prüf- und Messprozesse deutlich zu verkürzen. Die Erstmusterprüfung erfolgt in Minuten anstatt von Stunden oder Tagen.

Vorteile

  • Leistungsfähige Analysefunktionen
  • Symbolleiste für den Schnellzugriff auf die gängigsten Funktionen
  • Interaktive Visualisierung oder vollautomatische Prüfung
  • Auffinden aller Defekte dank eines Bildgebungsverfahrens, das mit hoher Auflösung und Vergrößerung arbeitet.
  • Bildanalyse und -verbesserung
  • Bauteilspezifische automatisierte Ausschussanalyse
  • Automatische Berichterstellung im HTML-Format
  • Integrierte CT-Erfassung
  • Kurze Lernkurve
 
Video
 
Vorteile und Merkmale
 

nikon metrology software x ray ct Inspect X real time xray inspectionEchtzeitprüfung

  • Virtuelle Joystick- und Maussteuerung über den Bildschirm sowie Joystick-Navigation für die interaktive Live-Bauteilpositionierung
  • Echtzeit-Erkennung von Verbindungsfehlern z.B. „ Head-in-Pillow“ dank variabler Vergrößerung und geneigtem Betrachtungswinkel
  • Vergrößerung, Neigen und Drehen in allen Positionen, während der für Sie interessante Bereich stets im Mittelpunkt des Sichtfelds fixiert bleibt
  • C.Clear imaging engine ermöglicht ein kristallklares Bild
  • Echtzeit- Bildanzeige für eine interaktive Visualisierung

nikon metrology software x ray ct Inspect X C clear comparisonBildanalyse und -verbesserung

Das C.Clear Programm ermöglicht Benutzerdefinierbare Kontrasteinstellungen vorzunehmen. Der Bildverarbeitungsfilter hilft unter anderem die Schärfe, das Glätten, die Kantenerfassung, das Prägen und wenn gewünscht die Ausblendung des Hintergrundbildes zu ermöglichen.

Mit C.Clear können Anwender schnelle und sichere Entscheidungen treffen. Es ermöglicht defekte, besonders schwierig zu erkennende Fehler in Mehrlagigen Objekten, auf Anhieb korrekt zu detektieren. C.Clear ermöglicht es den Durchsatz zu erhöhen und Pseudoausschuss zu reduzieren was zu einer höheren Qualität und einer besseren Effizienz führt.

  • Speichern und Abrufen von Komponentenvorlagen in einer internen Bibliothek für die schnelle Programmierung von neuen Prüfroutinen
  • Bildverarbeitungsfilter (Schärfe, Glätten, Kantenerfassung, Prägen, Hintergrund ausblenden usw.)
  • Flächenschaubild (Histogramm)

BGA Analysefunktion

Der leistungsfähige Bildverarbeitungsalgorithmus dieses Tools liefert selbst bei komplexen Leiterplatten mit unterseitigen Komponenten genaue Ergebnisse.
Darüber hinaus besteht die Möglichkeit, eine interne BGA Vorlagenbibliothek anzulegen, um Zeit für die Erstellung automatischer Ausschussanalyseroutinen zu sparen.

Die  BGA Analysefunktion ermöglicht eine automatisierte ‘all-in-one’ Analyse:

  • Lunker
  • Kreisformabweichungen der Lötperlen
  • BGA-Kugelanzahl
  • Brückenbildung
  • Ausschuss

nikon metrology software x ray ct Inspect X bga analyis wizardIntuitive Programmierung der automatischen BGA Analyse nikon metrology software x ray ct Inspect X bga analyis reportDer Report markiert die BGA-Voids ob sie sich innerhalb oder außerhalb der Toleranz befinden 

 

 


nikon metrology software x ray ct Inspect X bond wire analysisBond wire analysis

Dank der hohen Vergrößerung und Merkmalserkennung im Mikrometerbereich ist die Kombination aus Inspect-X Software und XTV Prüfsystem die ideale Kombination. Das neue automatisierte Tool für die Prüfung mehrerer Bonddrähte ermöglicht wiederholbare Prüfungen mit höchster Genauigkeit.

  • Erkennung und Klassifizierung gebrochener Bonddrähte und Wire Sweeps mit i.O./n.i.O.- Status
  • Automatische Analyse mehrerer Bonddrähte auf einem Bauteil in einem einzigen Prüfdurchlauf
  • Speichern und Abrufen von Komponentenvorlagen aus der Bibliothek für eine schnelle Programmierung von neuen Prüfroutinen

nikon metrology software x ray ct Inspect X reportAufschlussreiche Berichte

Inspect-X bietet mit verschiedensten Tools und benutzerdefinierbaren HTML-Vorlagen unbegrenzte Möglichkeiten für die Echtzeit-und automatische Erstellung von Berichten. Um den Entscheidungsprozess zu vereinfachen, können die Berichte einfach mit Kollegen oder Zulieferern geteilt werden. Die Ergebnisse stehen für Offline-Analysen und die Fehlersuche auf einer Validierungsstation zur Verfügung.


Maximale Produktivität durch Automatisierte Prüfungen

nikon metrology software x ray ct Inspect X maximize productivityInspect-X automation

Diese Kombination ermöglicht eine effiziente Röntgenanalyse für die wiederholte Inspektion von elektronischen Baugruppen ( PCBA ), Halbleiterkomponenten und komplexen, hochdichten Leiterplatten.

  • Makros für die Automation einfacher, sich wiederholender Aufgaben
  • Prüfprogramm für komplette Leiterplatten oder mehrere Komponenten
  • Automatisierte Programme mit grafischer Benutzeroberfläche können erstellt werden.
  • IPC – intelligente Programmsteuerung für ein vollständige benutzerdefinierbare Systemsteuerung
  • Offline- Validierungsstation
  • HTML Berichte, lesbar auf jedem PC ohne spezielle Software
  • Nahtloser Wechsel zwischen den Betriebsarten Röntgen 2D und CT (3D)
  • Visuelle Prüfung bei interaktiver Inspektion

nikon metrology software x ray ct Inspect X integrated ct acquisitionIntegrierte CT-Anwendungen

  • CT Erfassung und –Analyse direkt ab Werk oder als feldseitiges Upgrade
  • Unkomplizierte, benutzergeführte Erfassung von CT-Daten
  • Schnelle Wiederholung von Scans – in nur 2 Schritten
  • Konkurrenzlos schnelle Rekonstruktionszeiten
  • Automatische Rekonstruktion von CT-Daten, die direkt aus dem XT V System geladen werden
  • Leistungsfähige CT-Auswertung mit der Software ihrer Wahl
 
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