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Eclipse MA200 - Nikons ausgereiftestes Metallmikroskop.

nikon metrology industrial microscopes inverted MA200Das Eclipse MA200 ist ein inverses Materialmikroskop mit innovativem Design, das optimierte digitalen Bildgebungsfunktionen und ein Höchstmaß an Ergonomie bietet. Das MA200 basiert auf dem Konzept der „Integrated Intelligence“, wodurch die Aufnahmen automatisch mit Informationen über die Beobachtungseinstellungen verknüpft werden und eine umfassendere Dokumentation ermöglichen. Dank seiner einzigartigen Kastenbauweise sind sowohl die Proben auf dem Objekttisch als auch der Objektivrevolver leicht zugänglich, während die Grundfläche nur ein Drittel so groß wie bei herkömmlichen Modellen ist.

Anwendungen

  • Metallurgie, Metallverarbeitung
  • Gusseisen-Nodularität und Flockenanalyse, Korngrößenanalyse
  • Oberflächenanalyse
  • Antennen, Teleskopoptiken
  • Telekommunikation und Electronik
  • Mobiltelefone, Rasierapparate und Uhren
 
Vorteile und Merkmale
 

Kompaktes und beständiges Design

Das kompakte Gerät verfügt über integrierte Revolverköpfe, die die Beleuchtungsfilter staubfrei halten und für eine gleichmäßige Ausleuchtung sorgen. Um Platz zu sparen, nutzt das Gerät ein eingebautes Netzteil.

  • Robuster Baukörper in Kastenform
  • Bedienung ausschließlich über die Vorderseite
  • Gute Sichtbarkeit der Proben
  • Filtersystem im Revolver-Design
  • Synchronisierter Mechanismus für Analysator/Polarisator
  • Aperturblenden synchronisiert mit Hell-/Dunkelfeldwechsel
  • Anti-Streulicht-Mechanismus
  • Geringer Energieverbrauch bei einer Helligkeit, die höher ausfällt als bei 12V-100W-Leuchten
  • Staubdichter, antistatischer Baukörper

nikon metrology industrial microscopes inverted ma200 user friendly deBenutzerfreundliche Bedienung

  • Bedienelemente - Für hohen Bedienkomfort befinden sich alle Einstellelemente auf der Gerätevorderseite.
  • Schnelle Statusanzeige - Die Position von Objektivlinse und Probe kann leicht auf der Vorderseite des Mikroskops abgelesen werden.
  • Verschlussmechanismus für Analysator/Polarisator - Für Anbringung/Freigabe des Analysators/Polarisators.
  • Automatischer Wechsel der Blendenstufe bei Hell-/Dunkelfeldwechsel - Die Leuchtfeldblende und die Aperturblende öffnen sich automatisch beim Wechsel von Hell- auf Dunkelfeld. Beim erneuten Wechsel auf die Hellfeldbeobachtung werden die zuvor verwendeten Einstellungen für die Leuchtfeld- und Aperturblende wieder aufgerufen.
  • Mechanismus zur Vermeidung von Lichtblitzen - Reflektierte Lichtblitze beim Wechsel der Objektivlinse werden automatisch vermieden.

nikon metrology industrial microscopes inverted cfl60 2 MA200Das weltweit führende optische System CFI60

Das weltweit führende optische System CFI60 von Nikon bietet klare, kontrastreiche Hell- und Dunkelfeldbilder, die eine drei Mal höhere Helligkeit aufweisen als die mit herkömmlichen Modellen erfassten Bilder.

Produktmerkmale:

  • Optische Spitzenleistung bei allen Beobachtungstechniken
  • Optimiert für die komplexe digitale Bildgebung
  • Flache und scharfe Bilder
  • Bleifreies optisches System
  • Neu entwickelte Metallobjektive verfügbar
  • Objektiv mit besonders niedrigem Vergrößerungsbereich1x; 2,5x und ausgezeichneter Planheit
  • Hochwertige Objektive für hohe Vergrößerungsbereiche (50x, 100x)

nikon metrology industrial microscopes inverted ma200 uniform illumination deGleichmäßige Ausleuchtung

Die gleichmäßigere Ausleuchtung sorgt insbesondere bei der digitalen Bildgebung für scharfe Bilder.


Weites Sichtfeld

Mit einem Okulardurchmesser von 25 mm bietet das MA200 ein extraweites Sichtfeld. In Kombination mit der neu entwickelten 1x Objektivlinse kann eine Probe mit einem Durchmesser von 25mm in einem einzigen Sichtfeld betrachtet werden.


Bildanalyse

Mit der Kamerasteuereinheit DS-U2 und der Imaging-Software NIS-Elements von Nikon steht dem Benutzer die volle Bandbreite der Funktionen zur Verfügung: von der einfachen Bilderfassung bis zur Messung, Analyse und Verwaltung der erfassten Bilder.

nikon metrology industrial microscopes status display MA200

Statusanzeige
Zeigt u.a. den Status der Objektivlinsenvergrößerung und der Beleuchtung an. Die Kalibrierdaten werden bei einer Objektivvergrößerung automatisch geändert. Dies sorgt für einfache Handhabung der Messfunktion und anderer optionaler Software-Module, wie der NIS-Elements-Module für die Korngrößen- und Gusseisenanalyse.

Die quantitative Ausrichtung der Beleuchtung, die für die Wahl der optimalen Einstellungen für Beobachtung, Bilderfassung und das Stitching besonders großer Bilder entscheidend ist, erfolgt über PC-Steuerung.

Stitching
Aneinandergrenzende Bilder können zur Erstellung eines Weitfeldbildes zusammengefügt werden. Aufgrund der gleichmäßigeren Beleuchtung können jetzt sogar noch plastischere Bilder erfasst werden.

Korngrößenanalyse
Messung von Korngrößen und Anzeige der Ergebnisse basierend auf JIS- und ASTM-Standards.

Messung der Kugelgrafitausbildung
Messung der Güte der Kugelgrafitausbildung (Nodularität) in Gusseisen basierend auf JIS- und ASTM-Standards.


nikon metrology industrial microscopes DS L3 camera MA200Bilderfassung

DS-L3 Kamerasteuereinheit

Mit dem eingebauten hochauflösenden 8,4“ großen XGA-LCD-Monitor können ohne Verwendung des Okulars Proben angezeigt und erörtert werden.

Einfaches Speichern/Drucken der Daten

Die erfassten Bilder können auf einen USB-Speicherstick oder eine CF-Karte gespeichert werden. Über einen PictBridge-kompatiblen Drucker können Sie die Daten direkt ausdrucken oder über eine LAN-Verbindung auf einem Server speichern.

Statusanzeige

Zeigt den Status der Objektivlinsen und der Beleuchtung an. Da bei einem Vergrößerungswechsel die korrekten Kalibrierdaten automatisch angepasst werden, ist die anwenderfreundliche Messfunktion der DS-L3 einfach in der Handhabung.

Die quantitative Ausrichtung der Beleuchtung kann manuell über die Anzeige des Spannungswerts erfolgen. Dies ist entscheidend, um die optimalen Einstellungen für Beobachtung und Bilderfassung vorzunehmen.


Energiesparend

Die 50W-Halogenlampe erzeugt dieselbe Helligkeit wie die frühere 100W-Lichtquelle und verbraucht dabei nur halb so viel Energie.

nikon metrology industrial microscopes inverted ma200 energy saving de


Zubehör

  • Motorisierter Objektivrevolver der LV-Modellreihe
  • Großzügig dimensionierter Objektträger
  • DIA-Säule
  • INTENSILIGHT Faseroptik- Beleuchtung
  • Vergrößerungsmodul
 
Technische Daten

Main body

Fokussierungsmechanismus
Fokussierbarer Objektivrevolver (fester Tisch), koaxiale Grob-/Feintrieb-Friktion einstellbar
Grobeinstellung von 4,0 mm pro Umdrehung, Feineinstellung von 0,2 mm pro Umdrehung

Beleuchtung
Mit Überstrahlungsschutz, eingebauter Uv-Filter
Feldblende: stufenlos variable Einstellung (zentrierbar), Aperturblende: stufenlos variable Einstellung (zentrierbar)
Filter: ND16, ND4/GIF, NCB, weitere Optionen erhältlich, Polarisationsfilter (wahlweise mit oder ohne 1/4 Platte)
Fluoreszenzfilter: B/G/V/BV, Eingebaute 12V50W Halogen, C-HGFI HG Faserlicht

Optisches System

CFI60 /CFI60-2 System

Bildausrichtung:

Aufrecht

Beobachtungsmethode

Hell-/Dunkelfeld/Einfach Polarisation/DIC/Auflicht-Fluoreszenz

Objektivrevolver

MA2-NUI5: Hellfeld-/Dunkelfeld / DIC 5-Positionen Objektivrevolver
LV-NU5A: Motorisierter Hellfeld-/Dunkelfeld / DIC 5-Positionen Objektivrevolver
D-NID6: Hell-/Dunkelfeld 6-Positionen (intelligenter) Objektivrevolver
D-NI7: Hellfeld 7-Positionen (intelligenter) Objektivrevolver

Objekttisch

MA2-SR Kreuztisch (flexibler X/Y Tischtrieb)
Maße: 295 x 215mm
Hub: 50 x 50mm (mit Teilung)
Standard-Zubehör: universaler Objektträger (mit Proben-Clip) ø22

Trinokularer Okulartubus

Siedentopf 50-75mm

Eingangsleistung

100-240 V, 50-60 Hz

Maximale Leistungsaufnahme

1,2 A 75 W

Gewicht

Ca. 26 kg  (abhängig von Konfiguration)

Option

Revolver für Zwischenvergrößerungen: (1x, 1,5x, 2x), Statuserkennung (Ausgabe von Vergrößerungswerten an die Haupteinheit)

Maßverkörperungen: MA2-GR Grain Reticle (ASTM E112-63 Korngrößen von 1 bis 8), Messgitter (20 Zeilen, 0,5 mm) - MA2-MR Maßstabsgitter (kompatibel mit 5-100x, Anzeige in μm, Dialing System)

 
Prospekte
Microscope components for reflected light applications
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Eclipse MA200-MA100N
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Industrielle Anwendungen
 

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Eclipse MA200-MA100N
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