Hochauflösende Nikon Mikroskope erkennen Lötfehler wie u.a. Trockenverbindungen, Brücken-/Kurzschlussbildung und Fehlausrichtungen. Die CT dagegen bietet 3D-Einblicke, um elektronische Bauteile auf Lunker und verdeckte Lötstellen zu prüfen

Nikons innovative Lösungen eignen sich besonders für die Qualitätskontrolle in einem der anspruchvollsten Bereiche moderner Technik.

Nikon-Mikroskope liefern Bilder in der erforderlichen Schärfe und Auflösung, um Mängel in den verschiedenen Schichten des Display-Aufbaus und winzige Kratzer auf dem Glas von LCD-Bildschirmen aufzudecken.

Nikon Mikroskoptechnik und Videomesslösungen bieten außergewöhnliche Genauigkeit und sind problemlos für spezifische Anforderungen in der Qualitätskontrolle konfigurierbar, z.B. für die Prüfung von Defekten und Rückständen in MEMS.

Mit zunehmender Miniaturisierung der mikroelektronischen Bauteile steigt die Nachfrage nach immer leistungsfähigeren Messtechniken für die Analyse von immer dichter gepackten Platinen.

Der Einsatz von Mikroskoptechnik in optoelektronischen Systemen gewinnt zunehmend an Bedeutung, um Produktionsraten zu optimieren und die Rendite zuverlässig zu steigern.