XC65Dx Laserscanner – Der ultimative 3-in-1 Cross Scanner für die 3D-Prüfung von Merkmalen

Dank seiner patentierten Dreifach-Laserkonfiguration nimmt der XC65Dx Cross Scanner die vollständigen Daten von komplexen geometrischen 3D-Merkmalen und Freiformflächen mit nur einem einzigen Scan auf. Er kann problemlos auf den meisten Fabrikaten führender KMG-Hersteller nachgerüstet werden. Die Produktivität wird deutlich verbessert, da der Zeitaufwand für die Programmierung von Scanpfaden sinkt und sich die tatsächliche Messzeit verkürzt. Die berührungslose Prüfung mit dem Laserscanner eignet sich ideal für die Qualitätskontrolle von weichen und zerbrechlichen Komponenten, die nicht mit einem taktilen Messsystem gemessen werden können.

 

DER XC65DX-LS

Die XC65Dx-LS-Variante des XC65Dx Scanners bietet einen größeren Arbeitsabstand, der deutliche Vorteile hat. Der Scanner, der Geometrien bis zu einem Abstand von 170 mm erfasst, gewährt beispielsweise einen optimalen Zugang auf Rohkarossen und kann Daten über Spannvorrichtungen hinweg erfassen. Aus diesen Gründen kommt der XC65Dx-LS Scanner häufig bei Horizontalarm-KMGs im Automobilbau zum Einsatz.

 

 

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Produktübersicht

Von der Inspektion einer einzelnen Komponente, wie einer Autotür, bis hin zum endmontierten Fahrzeug ist der XC65Dx der ideale KMG-Scanner für die schnelle, präzise Messung von geometrischen Merkmalen und komplexen Freiformflächen. Die Teileprogrammierung ist einfach und die Dreifach-Laserkonfiguration ermöglicht eine schnelle und genaue Erfassung aller Details eines Messobjekts. Der Anwender gewinnt schnell mehr Einblicke in die maßliche Qualität der Teile.

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Effiziente und genaue 3D-Prüfung
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Hochgenaue Merkmalsmessungen
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Höhere Geschwindigkeit


Vorteile und Merkmale


nikon-metrology-3dmetrology-xc65dx-faster-inspectionSchnellere Inspektion, da Neuausrichtung des Scanners entfällt

Dank seiner patentierten Mehrfachlaserfunktion erfasst der XC65Dx oder „Cross Scanner“ alle 3D-Details von geometrischen Merkmalen und komplexen Oberflächen mit nur einem einzigen Scandurchlauf. Mit seinen Laserstrahlen, die aus drei Richtungen auf das Messobjekt projiziert werden, gewährleistet der XC65Dx eine maximale Abdeckung. Das Objekt muss daher nicht mehrmals aus verschiedenen Scannerrichtungen abgetastet werden. Auf diese Weise entfallen wiederholte zeitaufwändige Neuausrichtungen des Tastkopfes, sodass Ihnen der hohe Anpassungsaufwand und die Zeit für die Ausführung der Abtastvorgänge erspart bleiben.

 



nikon-metrology-3dmetrology-xc65dx-unique-laser-intensity-adaptationEinzigartige Anpassung der Laserleistung

Um unterschiedliche Oberflächen mit wechselnden Farbverläufen oder hohem Reflexionsgrad effektiv messen zu können, nutzt der XC65Dx Laserscanner die ESP3-Technologie (die dritte Generation der erweiterten Sensorleistung, Enhanced Sensor Performance) von Nikon Metrology. Diese im Hause Nikon Metrology entwickelte Technologie ermöglicht nicht nur eine automatische Echtzeitanpassung der Sensoreinstellungen zwischen aufeinander folgenden Laserstreifen, sondern auch für jeden einzelnen Punkt des Laserstreifens. Anwender können daher eine Vielzahl unterschiedlicher Materialien scannen, ohne Zeit für die Anpassung von Scannerparametern oder die Vorbereitung von Teilen investieren zu müssen.

 



nikon-metrology-3dmetrology-xc65dx-easy-macro-based-programmingEinfache makrobasierte Programmierung

Das einzigartige Dreifachlaser-Konzept beschleunigt nicht nur den Betrieb, sondern reduziert auch den Zeitaufwand für die Vorbereitung von Messungen. Da geometrische Merkmale oder Freiformflächen in nur einem Durchgang statt mit mehreren Scans aufgenommen werden, gestaltet sich die Programmierung von Scanpfaden deutlich einfacher. Während wertvolle Bediener- und KMG-Zeit mit der Vorbereitung von Messprogrammen für herkömmliche Messinstrumente vergehen kann, wird mit dem XC65Dx Scanner nur ein Bruchteil der Zeit benötigt.

 



nikon-metrology-3dmetrology-xc65dx-seamless-retrofit

Einfache Nachrüstung an den meisten führenden KMG-Fabrikaten

Nikon Metrology XC65D-LS Scanners sind an zahlreichen KMG-Fabrikaten nachrüstbar und können so die Messproduktivität der installierten KMG deutlich steigern.


 

Spezifikationen

 XC65Dx XC65Dx-LS 
Antastabweichung (MPEP)1 12 µm 15 μm
Kugelstablänge (MPEE)2 4 + L/350 (µm) 4 + L/350 (µm)
Mehrfachtaster-Test (MPE A1)3 9 μm 9 μm
ISO Antast-Formabweichung4 25 µm 35 µm
ISO Gesamt-Antastmaßabweichung5 45 µm 80 µm
ISO Antaststreuung6 48 µm 60 µm
ISO Kegelwinkel7 115 ° 125 °
Scangeschwindigkeit Cross-Scanner-Modus: 3 x 25.000 Pkte/s
Einzel-Scanner-Modus: 1 x 75.000 Pkte/s
75 Linien/s
Cross-Scanner-Modus: 3 x 25.000 Pkte/s
Einzel-Scanner-Modus: 1 x 75.000 Pkte/s
75 Linien/s
Sichtfeldbreite 3 x 65 mm  3 x 65 mm
Sichtfeldtiefe 3 x 65 mm  3 x 65 mm
Arbeitsabstand (circa) 75 mm  170 mm
Abmessungen 155 x 86 x 142 mm  155 x 86 x 142 mm
Gewicht (ca.) 440 g  480 g
Erweiterte Sensorleistung ESP3  ESP3
Lasersicherheit Klasse 2  Klasse 2
Tastkopfkompatibilität PH10M, PH10MQ, CW43, PHS  PH10M, PH10MQ, CW43, PHS

 

Alle Angaben zur Genauigkeit gelten für ein KMG mit einer Genauigkeit von 2 µm + L/350 oder besser unter Verwendung einer vom Hersteller gelieferten Kalibrierkugel
1Nikon Metrology Test vergleichbar mit EN/ISO 10360-2 MPEP unter Verwendung einer 1 Sigma Kalibrierkugel.
2Nikon Metrology Test vergleichbar mit EN/ISO 10360-2 MPEE
3Nikon Metrology Test vergleichbar mit EN/ISO 10360-5 MPEAL

 

Alle Angaben zur Genauigkeit gemäß ISO 10360-8:2013:
4PForm.Sph.1x25:Tr:ODS,MPE : Maximale Antast-Formabweichung in Mikrometer unter Verwendung von 25 repräsentativen Punkten im translatorischen Scanning-Modus
5PSize.Sph.All:Tr:ODS,MPE : Maximale Gesamt-Antastmaßabweichung in Mikrometer unter Verwendung aller im translatorischen Scanning-Modus gemessenen Punkte
6PForm.Sph.D95%:Tr:ODS,MPL : Maximale Antaststreuung unter Verwendung von 95 % der im translatorischen Scanning-Modus gemessenen Punkte
7Kegelwinkel: Bereich der Kugel, an dem die Messpunkte ausgewählt werden.

 


 

 

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